1 |
A test strategy planning methodology driven by economic parametersDear, Ian D. January 1990 (has links)
No description available.
|
2 |
Backside observation of large-scale integrated circuits with multilayered interconnections using laser terahertz emission microscopeYamashita, Masatsugu, Otani, Chiko, Kawase, Kodo, Matsumoto, Toru, Nikawa, Kiyoshi, Kim, Sunmi, Murakami, Hironaru, Tonouchi, Masayoshi 13 May 2009 (has links)
No description available.
|
3 |
Νέες τεχνικές συμπίεσης δεδομένων δοκιμής που βασίζονται στη χρήση πινάκων / New dictionary-based techniques for test data compressionΣισμάνογλου, Παναγιώτης 01 October 2012 (has links)
Στην εργασία, αυτή, εξετάζονται οι μέθοδοι συμπίεσης του συνόλου δοκιμής με τη χρήση πινάκων που έχουν ήδη προταθεί και προτείνεται μία νέα μέθοδος συμπίεσης δεδομένων δοκιμής για πυρήνες που ο έλεγχος ορθής λειτουργίας υλοποιείται μέσω μονοπατιών ολίσθησης. Η νέα μέθοδος επαναχρησιμοποιεί μπλοκ του πίνακα για τη σύνθεση διανυσμάτων δοκιμής. Δύο νέοι αλγόριθμοι παρουσιάζονται για επιλεκτική και πλήρη καταχώρηση τμημάτων του συνόλου δοκιμής σε πίνακα. Η προτεινόμενη μέθοδος συγκρίνεται με τις υπάρχουσες μεθόδους ως προς το ποσοστό συμπίεσης αλλά και ως προς το κόστος υλοποίησης. Για την αξιολόγηση της μεθόδου λαμβάνονται υπόψη σύνολα δοκιμής που έχουν παραχθεί για την ανίχνευση απλών σφαλμάτων μόνιμης τιμής, απλών σφαλμάτων μόνιμης τιμής με πολλαπλότητα ανίχνευσης Ν (Ν-detect) και σφαλμάτων καθυστέρησης μετάβασης. / In this work we refer to dictionary based test data compression methods. At first the already known dictionary based test data compression methods are comparably presented. Then we propose a new method and we show that the test data compression achieved by a dictionary based method can be improved significantly by suitably reusing parts of the dictionary entries. To this end two new algorithms are proposed, suitable for partial and complete dictionary coding respectively. For the evaluation of the proposed method, test sets have been generated and used based on the stuck-at fault model for single and N detection of each fault as well as on the transition fault model.
|
Page generated in 0.1276 seconds