Ce microprocesseur reconfigurable en fin de fabrication, afin de tolérer les défauts de fabrication, est destine à être le CUR d'un microcontrôleur pour les applications de l'automatisme à haute sureté de fonctionnement

Dans ce travail, l'auteur a effectué une étude complète de la testabilité des Pla et a proposé, pour les trois classes de test (hors ligne, en ligne et unifie) des schémas de test dont la compatibilité avec les Plas optimisés a été étudiée

Modification d'algorithmes classiques utilises dans le maintien de la cohérence de copies multiples en vue de prendre en compte une latence de détection de faute. Bref parallèle des algorithmes modifies de Kaneko et Herran et Verjus. Réalisation d'une nouvelle classification de pannes.

Actuellement, toutes les applications critiques mettant en jeu la vie humaine ne peuvent pas être assurées par des systèmes complexes utilisant des circuits intégrés répliques; il est nécessaire d'utiliser des composants discrets de sécurité intrinsèque, d'un encombrement et d'un cout prohibitifs. Pour relever ce défi, le micro-contrôleur maps qui doit gérer la signalisation ferroviaire, bénéficie de l'intégration d'un circuit logique autotestable, en-ligne (duplication duale+parité) et hors-ligne, suivant le principe de la technique ubist. Le maps dispose aussi d'une interface de sortie apte a produire des signaux de commande en fréquence, soit surs soit corrects. Il dispose également d'une interface d'entrée capable de n'accepter des signaux externes qu'après les avoir rendus surs ou corrects. Ces deux interfaces intégrées pour la première fois, sur la même puce que le circuit autotestable, sont strongly fail-safe. Seules les communications avec l'extérieur se font par échange de messages fortement codes sans qu'aucun matériel ne soit rajoute. En conséquence, l'étude que l'on présente permet d'apporter une nouvelle démarche de conception des systèmes hautement critiques, tout en assurant un degré de sécurité nettement plus élevé (détection de toutes pannes triples) que celui donne par les systèmes actuels, et ceci pour un volume et un cout plus faibles

aLes techniques utilisées pour la réalisation de systèmes électroniques destines au contrôle/commande d'applications critiques sont généralement basées sur le concept de la logique fail-safe conventionnelle. Bien qu'elles aient été largement éprouvées, ces techniques s'avèrent maintenant de plus en plus mal adaptées à la conception de systèmes de plus en plus complexes puisqu'elles font appel à des composants discrets spécifiques. C'est dans ce contexte que cette étude essaie d'évaluer la contribution des circuits intégrés autotestables, et plus spécialement les circuit self-checking (capables de détecter instantanément leurs propres erreurs), à la réalisation de systèmes intégrés à haute sureté de fonctionnement. Les travaux présentés dans cette thèse se proposent d'élargir la théorie des systèmes fail-safe aux circuits intégrés combinatoires. Comme application, nous étudions la faisabilité d'une interface autotestable hors-ligne capable de transformer les données des circuits autotestables en-ligne (self-checking) en signaux surs adaptes au pilotage d'éléments électrons mécaniques. Cette interface autorise la réalisation de circuits Vlsi strongly fail-safe qui sont susceptibles, dans les années à venir, de tenir une place de premier ordre dans le domaine des automatismes intégrés de sécurité. Toutes les considérations pratiques pour la conception de ces circuits sont basées sur des hypothèses de pannes analytiques liées à la technologie utilisée, ici le CMOS

Présentation et discussion des développements vers diverses améliorations possibles du temps de détection, obtenues par le biais de modification du circuit. Un test hors ligne peut être dérive directement par le regroupement de toutes les procédures de test.