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Influence of section depth on the structural behaviour of reinforced concrete continuous deep beams

Yang, Keun-Hyeok, Ashour, Ashraf January 2007 (has links)
Yes / Although the depth of reinforced concrete deep beams is much higher than that of slender beams, extensive existing tests on deep beams have focused on simply supported beams with a scaled depth below 600 mm. In the present paper, test results of 12 two-span reinforced concrete deep beams are reported. The main parameters investigated were the beam depth, which is varied from 400 mm to 720 mm, concrete compressive strength and shear span-tooverall depth ratio. All beams had the same longitudinal top and bottom reinforcement and no web reinforcement to assess the effect of changing the beam depth on the shear strength of such beams. All beams tested failed owing to a significant diagonal crack connecting the edges of the load and intermediate support plates. The influence of beam depth on shear strength was more pronounced on continuous deep beams than simple ones and on beams having higher concrete compressive strength. A numerical technique based on the upper bound analysis of the plasticity theory was developed to assess the load capacity of continuous deep beams. The influence of the beam depth was covered by the effectiveness factor of concrete in compression to cater for size effect. Comparisons between the total capacity from the proposed technique and that experimentally measured in the current investigation and elsewhere show good agreement, even though the section depth of beams is varied.
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Hooked Bar Anchorages and their Use in Noncontact Lap Splices

Coleman, Zachary Wyatt 21 May 2024 (has links)
Lap splices are used in reinforced concrete structures to transfer tension forces across discontinuous reinforcing bars to allow for continuity of load path in structural elements. Lap splices of straight reinforcing bars present a number of disadvantages when used in connections of large precast concrete elements typical of bridge substructure. Most importantly, lap splices of large (e.g., No. 11) straight bars are substantially long. Since the closure joint connecting two precast elements must be at least long enough to fit the lap splice, traditional lap splices result in impractically large closure joints, offsetting the benefits of using precast concrete elements. To address this problem, bridge designers are using hooked bars in noncontact lap splices to connect precast elements, presuming that hooked bars will allow for shorter required splice lengths. However, there exists neither substantial design guidance nor studies of the behavior of hooked bar lap splices in large precast elements justifying this design philosophy. To develop design guidance permitting the use of noncontact hooked bar lap splices and address the knowledge gap regarding the behavior of such splices, an extensive experimental and computational research program was conducted which is described in this dissertation. Fifty-eight large-scale beam-splice specimens containing hooked bar lap splices were tested to physically study the behavior of hooked bar lap splices and develop a dataset to justify design guidance permitting the use of such splices in practice. Bond variables were parametrically varied among the test specimens to produce guidance applicable over the wide range of geometric configurations and material properties expected in bridge design. The specimens were subjected to monotonic, four-point loading and were designed to fail in a mode related to anchorage to study splice behavior. Nonlinear finite element analyses were conducted to examine the mechanism of force transfer in hooked bar lap splices and numerically assess splice configurations not experimentally studied. A simple approach to modelling hooked reinforcing bars in solid concrete elements which accounts for conditions of imperfect bond was developed and validated using the experimental results. Test results from the 58 specimens were used to assess the appropriateness of using existing guidance for hooked bar anchorages to design hooked bar lap splices. Because the existing guidance was found to be deficient for this application, descriptive and design equations characterizing hooked bar lap splices were developed using power regression analyses. The results demonstrated that all else being equal, a bottom-cast hooked bar lap splice can develop approximately 40% greater stress than contact lap splices of straight bars. Accordingly, hooked bars can be used to splice bars over a substantially shorter length than straight bars. Noncontact hooked bar lap splices without secondary reinforcement (e.g., ties) can fail due to a mode termed "hook side bulging", resulting from eccentricity between the lapped bars. Splices with secondary reinforcement typically fail due to more typical modes observed in the literature, such as side-face blowout and concrete crushing. Unlike as suggested by code authorities and some researchers for noncontact lap splices of straight bars, noncontact hooked bar lap splices were found to exhibit weaker splice strengths than contact splices as the splice spacing increased. The use of steel fibers and increases in lap length, concrete compressive strength, cover depth, amount of secondary reinforcement, or the number of lap splices allowed for greater stress on average to be developed in spliced bars. All else being equal, an increase in either bar size or the number of spliced reinforcement layers decreased the stress that could be developed in the spliced bars. A descriptive equation characterizing splice strength with an average test-to-calculation ratio and coefficient of variation of 6% was developed. The descriptive equation was adapted to develop a design equation for the minimum required lap length of hooked bars which uniformly characterizes the influence of the bond variables over the ranges explored in this study. Design examples and code language facilitating technology transfer of the design equation into immediate practice were developed. / Doctor of Philosophy / Precast concrete is widely used in highway bridges to enable more rapid and economical construction than could be achieved using cast-in-place concrete. However, the connection of two or more precast, prefabricated bridge elements introduces several difficulties which may inhibit construction, thereby reducing overall economy. One of the most significant difficulties is that connections of substructure elements supporting the superstructures are impractically long using a common, code-approved detail―lap splices of straight reinforcing bars. Such splices are quite long (e.g., 5 ft in length) since large bars are typically used in substructure elements, requiring long splice lengths to transfer the large forces in each bar across the connection. Details which would shorten the required splice length would consequently reduce the required connection length, thereby reducing the amount of cast-in-place concrete construction required in the field. Consequently, the speed of construction, economy, and worker safety would increase. This dissertation thus summarizes an extensive experimental and numerical study aimed at validating the use of noncontact hooked bar lap splices to shorten the required splice length of large precast elements. In support of this objective, the anchorage behavior of noncontact hooked bar lap splices was studied through static load testing of 58 large-scale beam-splice specimens and nonlinear finite element models accounting for bond-slip behavior. These efforts revealed that hooked bar lap splices can develop on average approximately 40% more stress over the same lap length than contact splices of straight bars. Existing design provisions which might presently be used to design hooked bar lap splices were evaluated against the experimental results and were found to be deficient in characterizing splice strength. Thus, a design equation was developed for the splice length of hooked bars which accurately characterizes anchorage behavior and allows for significantly shorter splices lengths than what could be achieved with straight bars.
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Inelastic Panel Zone Deformation Demands In Steel Moment Resisting Frames

Tuna, Mehmet 01 June 2012 (has links) (PDF)
Panel zone is one of the significant parts of beam-column connections in steel structures. Until the 1994 Northridge Earthquake, a few experimental research and parametric studies had been carried out to understand the behavior of the panel zones. However, after the Northridge Earthquake, it was observed that beam-column connections were unable to show presumed seismic performance. Therefore, current design codes needed to be revised to improve seismic performance of connections in general and panel zones in particular. In this research, panel zone deformation demands are examined using explicit three dimensional finite element models and considering different parameters. For this purpose, a frame model with two different beam-column configurations was developed in order to observe the effects of beam depth, the axial load level and the level of seismicity. The frame models were analyzed under twenty different ground motion records. Local strain demands at the panel zones as well as the global frame deformation demands are evaluated. Analysis results revealed that AISC Specification designs allowed panel zone yielding / however, panel zones designed according to FEMA 355D showed minimal yielding for both shallow and deep beam configurations. Based on the analysis results, local shear strain demands in panel zones were expressed as a function of interstory drifts and normalized panel zone thicknesses.
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Elastische Rückstoßatomspektrometrie leichter Elemente mit Subnanometer-Tiefenauflösung

Kosmata, Marcel 29 February 2012 (has links) (PDF)
In der vorliegenden Arbeit wird erstmals das QQDS-Magnetspektrometer für die höchstauflösende Ionenstrahlanalytik leichter Elemente am Helmholtz-Zentrum Dresden-Rossendorf umfassend vorgestellt. Zusätzlich werden sowohl alle auf die Analytik Einfluss nehmenden Parameter untersucht als auch Methoden und Modelle vorgestellt, wie deren Einfluss vermieden oder rechnerisch kompensiert werden kann. Die Schwerpunkte dieser Arbeit gliedern sich in fünf Bereiche. Der Erste ist der Aufbau und die Inbetriebnahme des QQDS-Magnetspektrometers, der zugehörige Streukammer mit allen Peripheriegeräten und des eigens für die höchstauflösende elastische Rückstoßanalyse entwickelten Detektors. Sowohl das umgebaute Spektrometer als auch der im Rahmen dieser Arbeit gebaute Detektor wurden speziell an experimentelle Bedingungen für die höchstauflösende Ionenstrahlanalytik leichter Elemente angepasst und erstmalig auf einen routinemäßigen Einsatz hin getestet. Der Detektor besteht aus zwei Komponenten. Zum einen befindet sich am hinteren Ende des Detektors eine Bragg-Ionisationskammer, die zur Teilchenidentifikation genutzt wird. Zum anderen dient ein Proportionalzähler, der eine Hochwiderstandsanode besitzt und direkt hinter dem Eintrittsfenster montiert ist, zur Teilchenpositionsbestimmung im Detektor. Die folgenden zwei Schwerpunkte beinhalten grundlegende Untersuchungen zur Ionen-Festkörper-Wechselwirkung. Durch die Verwendung eines Magnetspektrometers ist die Messung der Ladungszustandsverteilung der herausgestreuten Teilchen direkt nach einem binären Stoß sowohl möglich als auch für die Analyse notwendig. Aus diesem Grund werden zum einen die Ladungszustände gemessen und zum anderen mit existierenden Modellen verglichen. Außerdem wird ein eigens entwickeltes Modell vorgestellt und erstmals im Rahmen dieser Arbeit angewendet, welches den ladungszustandsabhängigen Energieverlust bei der Tiefenprofilierung berücksichtigt. Es wird gezeigt, dass ohne die Anwendung dieses Modells die Tiefenprofile nicht mit den quantitativen Messungen mittels konventioneller Ionenstrahlanalytikmethoden und mit der Dickenmessung mittels Transmissionselektronenmikroskopie übereinstimmen, und damit falsche Werte liefern würden. Der zweite für die Thematik wesentliche Aspekt der Ionen-Festkörper-Wechselwirkung, sind die Probenschäden und -modifikationen, die während einer Schwerionen-bestrahlung auftreten. Dabei wird gezeigt, dass bei den hier verwendeten Energien sowohl elektronisches Sputtern als auch elektronisch verursachtes Grenzflächendurchmischen eintreten. Das elektronische Sputtern kann durch geeignete Strahlparameter für die meisten Proben ausreichend minimiert werden. Dagegen ist der Einfluss der Grenzflächendurchmischung meist signifikant, so dass dieser analysiert und in der Auswertung berücksichtigt werden muss. Schlussfolgernd aus diesen Untersuchungen ergibt sich für die höchstauflösende Ionenstrahlanalytik leichter Elemente am Rossendorfer 5-MV Tandembeschleuniger, dass die geeignetsten Primärionen Chlor mit einer Energie von 20 MeV sind. In Einzelfällen, wie zum Beispiel der Analyse von Bor, muss die Energie jedoch auf 6,5 MeV reduziert werden, um das elektronische Sputtern bei der notwendigen Fluenz unterhalb der Nachweisgrenze zu halten. Der vierte Schwerpunkt ist die Untersuchung von sowohl qualitativen als auch quantitativen Einflüssen bestimmter Probeneigenschaften, wie beispielsweise Oberflächenrauheit, auf die Form des gemessenen Energiespektrums beziehungsweise auf das analysierte Tiefenprofil. Die Kenntnis der Rauheit einer Probe an der Oberfläche und an den Grenzflächen ist für die Analytik unabdingbar. Als Resultat der genannten Betrachtungen werden die Einflüsse von Probeneigenschaften und Ionen-Festkörper-Wechselwirkungen auf die Energie- beziehungsweise Tiefenauflösung des Gesamtsystems beschrieben, berechnet und mit der konventionellen Ionenstrahlanalytik verglichen. Die Möglichkeiten der höchstauflösenden Ionenstrahlanalytik werden zudem mit den von anderen Gruppen veröffentlichten Komplementärmethoden gegenübergestellt. Der fünfte und letzte Schwerpunkt ist die Analytik leichter Elemente in ultradünnen Schichten unter Berücksichtigung aller in dieser Arbeit vorgestellten Modelle, wie die Reduzierung des Einflusses von Strahlschäden oder die Quantifizierung der Elemente im dynamischen Ladungszustandsnichtgleichgewicht. Es wird die Tiefenprofilierung von Mehrschichtsystemen, bestehend aus SiO2-Si3N4Ox-SiO2 auf Silizium, von Ultra-Shallow-Junction Bor-Implantationsprofilen und von ultradünnen Oxidschichten, wie zum Beispiel High-k-Materialien, demonstriert. / In this thesis the QQDS magnetic spectrometer that is used for high resolution ion beam analysis (IBA) of light elements at the Helmholtz-Zentrum Dresden-Rossendorf is presented for the first time. In addition all parameters are investigated that influence the analysis. Methods and models are presented with which the effects can be minimised or calculated. There are five focal points of this thesis. The first point is the construction and commissioning of the QQDS magnetic spectrometer, the corresponding scattering chamber with all the peripherals and the detector, which is specially developed for high resolution elastic recoil detection. Both the reconstructed spectrometer and the detector were adapted to the specific experimental conditions needed for high-resolution Ion beam analysis of light elements and tested for routine practice. The detector consists of two compo-nents. At the back end of the detector a Bragg ionization chamber is mounted, which is used for the particle identification. At the front end, directly behind the entrance window a proportional counter is mounted. This proportional counter includes a high-resistance anode. Thus, the position of the particles is determined in the detector. The following two points concern fundamental studies of ion-solid interaction. By using a magnetic spectrometer the charge state distribution of the particles scattered from the sample after a binary collision is both possible and necessary for the analysis. For this reason the charge states are measured and compared with existing models. In addition, a model is developed that takes into account the charge state dependent energy loss. It is shown that without the application of this model the depth profiles do not correspond with the quantitative measurements by conventional IBA methods and with the thickness obtained by transmission electron microscopy. The second fundamental ion-solid interaction is the damage and the modification of the sample that occurs during heavy ion irradiation. It is shown that the used energies occur both electronic sputtering and electronically induced interface mixing. Electronic sputtering is minimised by using optimised beam parameters. For most samples the effect is below the detection limit for a fluence sufficient for the analysis. However, the influence of interface mixing is so strong that it has to be included in the analysis of the layers of the depth profiles. It is concluded from these studies that at the Rossendorf 5 MV tandem accelerator chlorine ions with an energy of 20 MeV deliver the best results. In some cases, such as the analysis of boron, the energy must be reduced to 6.5 MeV in order to retain the electronic sputtering below the detection limit. The fourth focus is the study of the influence of specific sample properties, such as surface roughness, on the shape of a measured energy spectra and respectively on the analysed depth profile. It is shown that knowledge of the roughness of a sample at the surface and at the interfaces for the analysis is needed. In addition, the contribution parameters limiting the depth resolution are calculated and compared with the conventional ion beam analysis. Finally, a comparison is made between the high-resolution ion beam analysis and complementary methods published by other research groups. The fifth and last focus is the analysis of light elements in ultra thin layers. All models presented in this thesis to reduce the influence of beam damage are taken into account. The dynamic non-equilibrium charge state is also included for the quantification of elements. Depth profiling of multilayer systems is demonstrated for systems consisting of SiO2-Si3N4Ox-SiO2 on silicon, boron implantation profiles for ultra shallow junctions and ultra thin oxide layers, such as used as high-k materials.
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Elastische Rückstoßatomspektrometrie leichter Elemente mit Subnanometer-Tiefenauflösung

Kosmata, Marcel 21 December 2011 (has links)
In der vorliegenden Arbeit wird erstmals das QQDS-Magnetspektrometer für die höchstauflösende Ionenstrahlanalytik leichter Elemente am Helmholtz-Zentrum Dresden-Rossendorf umfassend vorgestellt. Zusätzlich werden sowohl alle auf die Analytik Einfluss nehmenden Parameter untersucht als auch Methoden und Modelle vorgestellt, wie deren Einfluss vermieden oder rechnerisch kompensiert werden kann. Die Schwerpunkte dieser Arbeit gliedern sich in fünf Bereiche. Der Erste ist der Aufbau und die Inbetriebnahme des QQDS-Magnetspektrometers, der zugehörige Streukammer mit allen Peripheriegeräten und des eigens für die höchstauflösende elastische Rückstoßanalyse entwickelten Detektors. Sowohl das umgebaute Spektrometer als auch der im Rahmen dieser Arbeit gebaute Detektor wurden speziell an experimentelle Bedingungen für die höchstauflösende Ionenstrahlanalytik leichter Elemente angepasst und erstmalig auf einen routinemäßigen Einsatz hin getestet. Der Detektor besteht aus zwei Komponenten. Zum einen befindet sich am hinteren Ende des Detektors eine Bragg-Ionisationskammer, die zur Teilchenidentifikation genutzt wird. Zum anderen dient ein Proportionalzähler, der eine Hochwiderstandsanode besitzt und direkt hinter dem Eintrittsfenster montiert ist, zur Teilchenpositionsbestimmung im Detektor. Die folgenden zwei Schwerpunkte beinhalten grundlegende Untersuchungen zur Ionen-Festkörper-Wechselwirkung. Durch die Verwendung eines Magnetspektrometers ist die Messung der Ladungszustandsverteilung der herausgestreuten Teilchen direkt nach einem binären Stoß sowohl möglich als auch für die Analyse notwendig. Aus diesem Grund werden zum einen die Ladungszustände gemessen und zum anderen mit existierenden Modellen verglichen. Außerdem wird ein eigens entwickeltes Modell vorgestellt und erstmals im Rahmen dieser Arbeit angewendet, welches den ladungszustandsabhängigen Energieverlust bei der Tiefenprofilierung berücksichtigt. Es wird gezeigt, dass ohne die Anwendung dieses Modells die Tiefenprofile nicht mit den quantitativen Messungen mittels konventioneller Ionenstrahlanalytikmethoden und mit der Dickenmessung mittels Transmissionselektronenmikroskopie übereinstimmen, und damit falsche Werte liefern würden. Der zweite für die Thematik wesentliche Aspekt der Ionen-Festkörper-Wechselwirkung, sind die Probenschäden und -modifikationen, die während einer Schwerionen-bestrahlung auftreten. Dabei wird gezeigt, dass bei den hier verwendeten Energien sowohl elektronisches Sputtern als auch elektronisch verursachtes Grenzflächendurchmischen eintreten. Das elektronische Sputtern kann durch geeignete Strahlparameter für die meisten Proben ausreichend minimiert werden. Dagegen ist der Einfluss der Grenzflächendurchmischung meist signifikant, so dass dieser analysiert und in der Auswertung berücksichtigt werden muss. Schlussfolgernd aus diesen Untersuchungen ergibt sich für die höchstauflösende Ionenstrahlanalytik leichter Elemente am Rossendorfer 5-MV Tandembeschleuniger, dass die geeignetsten Primärionen Chlor mit einer Energie von 20 MeV sind. In Einzelfällen, wie zum Beispiel der Analyse von Bor, muss die Energie jedoch auf 6,5 MeV reduziert werden, um das elektronische Sputtern bei der notwendigen Fluenz unterhalb der Nachweisgrenze zu halten. Der vierte Schwerpunkt ist die Untersuchung von sowohl qualitativen als auch quantitativen Einflüssen bestimmter Probeneigenschaften, wie beispielsweise Oberflächenrauheit, auf die Form des gemessenen Energiespektrums beziehungsweise auf das analysierte Tiefenprofil. Die Kenntnis der Rauheit einer Probe an der Oberfläche und an den Grenzflächen ist für die Analytik unabdingbar. Als Resultat der genannten Betrachtungen werden die Einflüsse von Probeneigenschaften und Ionen-Festkörper-Wechselwirkungen auf die Energie- beziehungsweise Tiefenauflösung des Gesamtsystems beschrieben, berechnet und mit der konventionellen Ionenstrahlanalytik verglichen. Die Möglichkeiten der höchstauflösenden Ionenstrahlanalytik werden zudem mit den von anderen Gruppen veröffentlichten Komplementärmethoden gegenübergestellt. Der fünfte und letzte Schwerpunkt ist die Analytik leichter Elemente in ultradünnen Schichten unter Berücksichtigung aller in dieser Arbeit vorgestellten Modelle, wie die Reduzierung des Einflusses von Strahlschäden oder die Quantifizierung der Elemente im dynamischen Ladungszustandsnichtgleichgewicht. Es wird die Tiefenprofilierung von Mehrschichtsystemen, bestehend aus SiO2-Si3N4Ox-SiO2 auf Silizium, von Ultra-Shallow-Junction Bor-Implantationsprofilen und von ultradünnen Oxidschichten, wie zum Beispiel High-k-Materialien, demonstriert. / In this thesis the QQDS magnetic spectrometer that is used for high resolution ion beam analysis (IBA) of light elements at the Helmholtz-Zentrum Dresden-Rossendorf is presented for the first time. In addition all parameters are investigated that influence the analysis. Methods and models are presented with which the effects can be minimised or calculated. There are five focal points of this thesis. The first point is the construction and commissioning of the QQDS magnetic spectrometer, the corresponding scattering chamber with all the peripherals and the detector, which is specially developed for high resolution elastic recoil detection. Both the reconstructed spectrometer and the detector were adapted to the specific experimental conditions needed for high-resolution Ion beam analysis of light elements and tested for routine practice. The detector consists of two compo-nents. At the back end of the detector a Bragg ionization chamber is mounted, which is used for the particle identification. At the front end, directly behind the entrance window a proportional counter is mounted. This proportional counter includes a high-resistance anode. Thus, the position of the particles is determined in the detector. The following two points concern fundamental studies of ion-solid interaction. By using a magnetic spectrometer the charge state distribution of the particles scattered from the sample after a binary collision is both possible and necessary for the analysis. For this reason the charge states are measured and compared with existing models. In addition, a model is developed that takes into account the charge state dependent energy loss. It is shown that without the application of this model the depth profiles do not correspond with the quantitative measurements by conventional IBA methods and with the thickness obtained by transmission electron microscopy. The second fundamental ion-solid interaction is the damage and the modification of the sample that occurs during heavy ion irradiation. It is shown that the used energies occur both electronic sputtering and electronically induced interface mixing. Electronic sputtering is minimised by using optimised beam parameters. For most samples the effect is below the detection limit for a fluence sufficient for the analysis. However, the influence of interface mixing is so strong that it has to be included in the analysis of the layers of the depth profiles. It is concluded from these studies that at the Rossendorf 5 MV tandem accelerator chlorine ions with an energy of 20 MeV deliver the best results. In some cases, such as the analysis of boron, the energy must be reduced to 6.5 MeV in order to retain the electronic sputtering below the detection limit. The fourth focus is the study of the influence of specific sample properties, such as surface roughness, on the shape of a measured energy spectra and respectively on the analysed depth profile. It is shown that knowledge of the roughness of a sample at the surface and at the interfaces for the analysis is needed. In addition, the contribution parameters limiting the depth resolution are calculated and compared with the conventional ion beam analysis. Finally, a comparison is made between the high-resolution ion beam analysis and complementary methods published by other research groups. The fifth and last focus is the analysis of light elements in ultra thin layers. All models presented in this thesis to reduce the influence of beam damage are taken into account. The dynamic non-equilibrium charge state is also included for the quantification of elements. Depth profiling of multilayer systems is demonstrated for systems consisting of SiO2-Si3N4Ox-SiO2 on silicon, boron implantation profiles for ultra shallow junctions and ultra thin oxide layers, such as used as high-k materials.

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