Les systèmes d’imagerie médicale, principalement les systèmes à rayons X, sont devenus incontournables dans le diagnostic et le traitement des maladies complexes. Le générateur à rayons X fait partie des sous-systèmes critiques d’un système à rayons X. La technologie des générateurs à rayons X se complexifie et les contraintes vues par les composants augmentent. L’évaluation de la fiabilité du générateur à rayons X est par conséquent nécessaire afin d’optimiser la durée de vie de ce dernier. Dans ces travaux de thèse, une méthodologie d’évaluation de la fiabilité d’un générateur à rayons X est proposée. La méthodologie repose sur l’évaluation de la fiabilité allant du composant au système. Des essais de vieillissement sont d’abord réalisés au niveau des composants critiques du générateur afin d’identifier les mécanismes de défaillance et de construire les courbes de durée de vie permettant d’effectuer une prévision de fiabilité. Les paramètres du recueil de fiabilité FIDES ont aussi été utilisés pour construire les courbes de durée de vie des composants critiques. Une méthode de prévision de la fiabilité basée sur l’hypothèse du dommage cumulé avec la règle de Miner est proposée pour évaluer la durée de vie des composants critiques sous contraintes thermomécaniques. Cette méthode utilise les règles de comptage rainflow pour obtenir une distribution des différences de température vues par les composants critiques. Une association de fiabilité permet enfin d’estimer la durée de vie de chaque sous système du générateur à rayons X à travers ses composants critiques. / Medical imaging systems, mainly X-rays imaging systems, have become essential in the diagnosis and treatment of complex diseases. X-rays generator is one of the critical subsystems of a medical system. Its technology became more complex and constraints seen by the components increase. An assessment of X-rays generator reliability is therefore necessary to optimize its lifetime. In this thesis, a reliability assessment method of an X-rays generator is proposed. The methodology is based on the assessment of the reliability from component to system. Aging tests are first performed for X-rays generator critical components in order to identify failure mechanisms and build lifetime curves for performing reliability prediction. FIDES guide parameters were also used to construct critical components lifetime curves. A reliability prediction method based on the assumption of cumulative damage with Miner's rule is proposed to evaluate critical components lifetime under thermomechanical stresses. This method uses rainflow counting rules for the temperature cycles distribution of critical components. A reliability block diagram is finally used to estimate the lifetime of each X-ray generator subsystem through its critical components.

Les condensateurs multicouches en céramique (Multilayer Ceramic Capacitors, MLCCs) sont des composants passifs clés de l'électronique moderne. Les MLCCs sont constitués d'une alternance d'électrodes métalliques et de couches diélectriques de céramique. Les puces ultraminces sont composées de mélanges de couches micrométriques métalliques et céramiques et d'additifs de céramique de taille nano. Un certain nombre de défauts tels que des fissures, des délaminations des couches et des discontinuités au sein de l'électrode, peuvent survenir dans la fabrication de ces MLCCs ultraminces. Un dispositif expérimental à rayons X (TXM, Transmission X-ray Microscope) avec une résolution spatiale de 30 nm au synchrotron APS (Advanced Photon Source, USA) a été utilisé pour caractériser un volume cylindrique représentatif de Ø 20 µm × 20 µm extrait d'une puce 0603 (1,6 mm × 0,8 mm) au nickel (Ni) + titanate de baryum (BaTiO3, ou BT) avant et après frittage sous argon hydrogéné (2%). La tomographie 3D de la microstructure montre que les discontinuités de l'électrode finale sont liées à des hétérogénéités initiales dans les couches d'électrodes. La radiographie in-situ aux rayons X pendant le frittage (vitesse de chauffage de 10 °C/mn, température de maintien à 1200 °C pendant 1 heure, puis refroidissement à 15 oC/min) d'un volume représentatif d'électrode au palladium (+ baryum-néodyme-titanate) confirme bien que les discontinuités dans l'électrode proviennent de l'hétérogénéité initiale de la poudre, qui est lié à la nature du compactage d'un matériau particulaire. La discontinuité se produit à l'étape précoce du cycle de frittage. A ce stade, l'électrode métallique commence à fritter tandis que le matériau diélectrique peut être considéré comme un substrat inerte qui contraint le frittage de l'électrode.Des études corrélatives utilisant un FIB-SEM (Focused Ion Beam Scanning Electron-microscopie) en tomographie à haute résolution (5 × 5 × 5 nm3) ont été effectuées sur des échantillons MLCC à vert et frittés. Elles confirment que la résolution de la nanotomographie X est suffisante pour étudier l'évolution des hétérogénéités. Cependant la tomographie par FIB permet à la nanotomographie X d'être réinterprétée avec plus de précision. D'autre part, le FIB fournit les paramètres des particules pour les simulations DEM.La méthode des éléments discrets (DEM) a été utilisée pour simuler la microstructure du système multicouche lors du frittage. Tout d'abord, le frittage de la matrice de nickel avec inclusions BT a été simulé en utilisant le code dp3D. Nous avons pu montrer que la vitesse de densification de la matrice diminue avec l'augmentation la fraction volumique d'inclusions et avec la diminution de la taille des inclusions. Pour une fraction volumique donnée, et une taille d'inclusions donnée, une meilleure dispersion des inclusions conduit à un retard plus marqué de la densification du frittage de la matrice de nickel.Le co-frittage de multicouches de BT/Ni/BT a été simulé en tenant compte des informations collectées à partir de la tomographie FIB-SEM à résolution élevée (taille des particules, distribution de taille, hétérogénéités, et pores). On constate que les discontinuités d'électrodes proviennent des hétérogénéités initiales dans le comprimé à vert et se forment au début de frittage sous contrainte. Ces résultats de simulation sont en bonne correspondance avec les observations expérimentales. Une étude paramétrique indique que les discontinuités d'électrodes peuvent être minimisées par l'homogénéisation de la compacité, par l'augmentation de l'épaisseur des électrodes et par l'utilisation d'un chauffage rapide.A partir des résultats expérimentaux et des simulations DEM, une conclusion générale peut être avancée: la discontinuité finale provient de l'hétérogénéité initiale dans les couches d'électrodes et survient à un stade précoce de frittage lorsque les couches diélectriques contraignent les couches d'électrodes

被動元件產業向來是台灣在扮演資訊電子製造業王國角色上的重要推手，對於現有業者與企盼進入的業者而言，在市場需求快速成長的吸引下，極需要一個經營策略的指導方針才能在競爭激烈的市場上佔得一席之地。本研究主要的目的在於針對積層陶瓷電容器產品，利用個案公司之營運策略與規劃，提出相關建議以作為有志深耕於此領域之業者的參考，同時供後續研究者進一步的探討。 本研究的主要根據Aaker的理論架構基礎來進行內在與外在分析，同時探討研擬策略規劃方向。整個研究架構分為四個階段：一、探討相關的文獻，以作為研究的原則基礎。二、進行內外在分析，以界定外在環境中可能發生的機會與威脅，並確認出該產業的關鍵成功因素，同時分析個案公司所擁有的優勢與劣勢。三、根據前述的分析結果歸納出個案公司所面臨的問題。四、提出可行的策略方向與目標，並擬定個案公司之競爭策略和營運策略。

Alstom wanted to investigate the possibility of adapting its light emitting diode (LED) technology for shunting signals in train traffic. The LED technology uses 50V, but Alstom wants to adapt it for 12V. The LED technology is energy efficient but needs to be adapted for existing signal interlocking by drawing a higher current. This meant that the possibility of reactive power compensation was investigated to obtain lower thermal dissipation in dwarf signal. The essay presents a couple of possible solutions. One of the solutions is to raise the voltage by using a booster converter to use the existing 50V LED unit. Capacitors were reviewed to be used in reactive power compensation to increase current supply. One of the solutions then became a capacitor bank. Simulations indicated that a booster converter and a capacitor bank can be used to adapt the circuit. However, some modifications must be made. / Alstom ville undersöka möjligheten att anpassa sin lysdiodsteknik för dvärgsignaler i tågtrafiken. Lysdiodstekniken använder 50V men Alstom vill anpassa den för 12V. Lysdiodtekniken är strömsnål och behöver anpassas för befintliga signalställverk genom att dra en högre ström. Detta innebar att möjligheten för reaktiv kompensering undersöktes för att få en låg värmeutvecklingen i dvärgsignalen. I uppsatsen presenteras ett par möjliga lösningar. En av lösningarna för spänningen är en step-up omvandlare för att nyttja 50Vs enheten. Det gjordes också en genomgång av kondensatorer för att nyttjas i reaktivkompensering för att öka strömförbrukningen. En av lösningarna blev då ett kondensatorbatteri. Det kunde konstateras med matematisk simulering att step-up omvandlare och ett kondensatorbatteri kan användas för att anpassa kretsen dock måste vissa modifieringar utföras.