Orientador: Lisandro Pavie Cardoso / Tese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin / Made available in DSpace on 2018-07-25T02:55:09Z (GMT). No. of bitstreams: 1 Hayashi_MarceloAssaoka_D.pdf: 2429525 bytes, checksum: f3b9a087de71de3923d5f66b44eef481 (MD5) Previous issue date: 1999 / Resumo: Este trabalho tem como objetivo o desenvolvimento da difração múlt ipla de raios-X, como uma nova técnica de caracterização de materiais semicondutores submetidos à implantação iônica, e também de estruturas epitaxiais que apresentam ordenamento atômico. A técnica também mostrou-se de grande utilidade no estudo da coerência entre as redes cristalinas de heteroestruturas. A sensibilidade do caso de difração Bragg-superfície (BSD) ao regime cinemático ou dinâmico, foi aplicado através do mapeamento das curvas de isointensidade, no estudo dos efeitos da dose (fluência) e da energia do feixe iônico na rede do GaAs, fornecendo informação sobre a perfeição cristalina na direção paralela à superfície, através da medida do seu comprimento de coerência. Os casos BSD também foram escolhidos como método de observação direta do ordenamento atômico, pois os picos BSD mais intensos, pela geometria utilizada, são os com reflexões secundárias 111, que já foram descritas na literatura, como sendo as direções em que ocorre o ordenamento nos compostos III-V. A assimetria observada nas intensidades dos picos BSD em relação ao espelho de simetria, é reflexo da presença do ordenamento, que neste trabalho, foi observado pela primeira vez em amostras crescidas por epitaxia por feixe químico (CBE). No estudo das amostras de GaInP/GaAs, utilizando varreduras Renninger com radiação síncrotron, observou-se pela primeira vez a ocorrência de reflexões híbridas coerentes, em casos de quatro feixes da difração múlt ipla. Uma quebra de simetria observada nas varreduras Renninger, foi explicada como conseqüência do miscut do substrato. O grande comprimento de coerência da radiação síncrotron foi importante para essas observações, desde que ele tem que ser preservado ao longo de todo o caminho híbrido / Abstract: The aim of this work is to develop the X-ray multiple diffraction, as a new technique to characterize semiconductors wafers submitted to ion implantation and, epitaxial layers that presents atomic ordering. The technique was also of great usefulness in the study of the heterostucture lattice coherence. The sensitivity of the Bragg-surface diffraction (BSD) case to the regime of diffraction, dynamical or kinematical, was applied through BSD condition mapping, to analyze the role of dose and energy in the ion implantation process in GaAs lattice, providing information regarding in-plane crystalline perfection, it means, in the parallel direction of the sample surface, through the measurement of the surface lattice coherence length. BSD cases were also chosen as a method for direct observation of atomic ordering in semiconductors, since the strongest BSD peaks are in the [111] direction, reported in the literature, as the atomic ordering directions in III-V epitaxial layers. The asymmetry observed in the peak intensities, regarding the symmetry mirrors are due to the presence of ordered regions in the sample, that were observed for the first time in this work, in samples grown by chemical beam epitaxy (CBE). We have also observed for the first time, the occurrence of coherent hybrid reflect ions in mult iple diffract ion four-beam cases using synchrotron radiat ion Renninger scans to analyze GaInP/GaAs(001) samples. The symmetry break observed in the scans was explained as a consequence of the substrate miscut. The large coherence length of synchrotron radiation was important to these observations, since it has to be preserved along the hybrid path / Doutorado / Física / Doutor em Ciências

Orientador: Lisandro Pavie Cardoso / Tese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin / Made available in DSpace on 2018-07-25T18:48:35Z (GMT). No. of bitstreams: 1 Avanci_LuisHumberto_D.pdf: 3551057 bytes, checksum: ebe9b4e52b745a1feb023962a4d34a2d (MD5) Previous issue date: 1999 / Resumo: Não informado / Abstract: Not informed. / Doutorado / Física / Doutor em Ciências

Orientadores: Celia Marina A. Freire, Margarita Ballester / Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Faculdade de Engenharia Mecanica / Made available in DSpace on 2018-07-25T21:04:29Z (GMT). No. of bitstreams: 1 Regone_NatalNerimio_M.pdf: 4409232 bytes, checksum: ea85164fbb77dbb913ac9792617f0dca (MD5) Previous issue date: 2000 / Resumo: As tensões surgem nos materiais a partir dos processos de fabricação e também pela utilização de tratamentos superficiais como nitretação dos aços, deposição de camadas por diversos métodos, ou tratamento térmico. Podem ocorrer em escala macroscópica, sendo chamadas de macrotensão ou em um nível microscópico denominadas de microtensão. O objetivo do presente trabalho é avaliar a técnica de difração de raios-X como metodologia de análise de tensões em revestimentos. Para a caracterização da tensão interna foram feitos ensaios por difração de raios-X onde é utilizado dois métodos de análise, o cálculo unidimensional e o bidimensional. O cálculo unidimensional é mais apropriado para materiais padronizados, como os monocristais. No cálculo bidimensional pode ser utilizado qualquer tipo de material policristalino. Com os dados do difratograma pode-se fazer o cálculo da tensão presente no material pela mudança da posição dos picos de difração do espectro. A tensão uniaxial é mais simples de ser determinada, pois pode ser feita em um difratômetro de raio-X convencional. No cálculo da tensão biaxial necessita-se de um dispositivo especial para girar a amostra por um ângulo psi. A utilização do método de difração de raio-X tem a grande vantagem de ser um ensaio não destrutivo das amostras. As diferentes amostras analisadas mostraram que a resultado da tensão presente em camadas superficiais é dependente de diversos fatores como textura, conformação mecânica, e o estado de tensão interna do respectivo substrato utilizado / Abstract: Internal stress can arise in materials due to its fabrication processes as well to its surface preparation, like nitriding or deposition, and to thermal treatment. It can occur in macroscopic scale, called macrostress or in a microscopic degree denominated microstress. The purpose of the present work is the evaluation of X-ray diffiaction technique as a tool in the analyzes of stress in coatings. Two measurement methods were considered: the uniaxial and the biaxial. The first method is easier than the biaxial, but it is proper for single crystal materiais. The second method can be used for any polycrystalline material, but it needs a special device to turn the sample by an angle psi. The analyzed show that the coatings stress depends on the electrodeposion method, the substrate stress and on the mechanical deformation / Mestrado / Materiais e Processos de Fabricação / Mestre em Engenharia Mecânica

Orientador: Gilberto de Matos Gualberto / Tese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin / Made available in DSpace on 2018-07-14T03:52:45Z (GMT). No. of bitstreams: 1 Silva_MarioPereirada_D.pdf: 4699834 bytes, checksum: bbaf01ffdf5d8b0a44359041000614d1 (MD5) Previous issue date: 1989 / Resumo: Foram preparadas amostras de Compostos de Grafite Intercalados (CGI) com os intercalantes aceitadores FeCl3 e ZnCl2, tendo como hospedeiro, grafite pirolítico altamente orientado(HOPO). Os difratogramas de raio-X revelam importantes informações estruturais, tais como, a distância repetida entre as camadas intercaladas e o estágio n do composto. Os resultados da difração de raio- X, junto com os valores de Ic para a reflexão de máxima intensidade, foram usados como método de identificação dos CGI-FeCl3, n = 1,2,3,4,5,6 e 11 e ainda dos CGI-ZnCl2, n=4 e 5. Medidas de resistividade elétrica no eixo-c nos CGI-FeC13, estágios 1-6 e 11, e no CGI-ZnCl2 n=4, realizadas em função da temperatura entre 4.2 e 300K, revelam os seguintes aspectos: A resistividade de todos os compostos é maior do que aquela do HOPO. Uma dependência inteirament metálica é observada para os estágios 1-4 do CGI-FeCl3. Estágios mais altos do CGI-FeCl3, 5-6, e o composto de ZnCl2, mostram essa dependência apenas em altas temperaturas; quando a temperatura decresce, observa-se uma passagem para uma dependência ativada da resistividade. Propõe-se que a condução no eixo-c, se dá através de mecanismos de "Hopping" ativados por fonons e impurezas. Uma transição do tipo ordem-desordem foi observada para os dois compostos. No CGI-FeCl3, a transição acompanhada de uma histories característica de um processo irreversível em 120 £ T £ 160K. Medidas de magnetoresistência transversa mostram que na região de baixos campos, a sua dependência com o campo magnético difere substancialmente, daquela prevista pelo modelo de bandas. 0 valor da magnetoresistência para o CGI-FeCl3 varia com o estágio e possui um mínimo para n=5. Oscilações na magnetoresistência também foram encontradas para o mesmo composto. Este comportamento complexo baseia-se na influência do campo magnético e da temperatura nas flutuações de magnetização produzidas por Impurezas e deslocações, por polarização de spins e pela concentração de portadores / Abstract: Samples of Intercalation Graphite Compounds (GIC) were prepared using Highly Oriented Pyrolytic Graphite (HOPG) as a host material. X-ray diffractograms reveal important structural information, such as the repeated distance between the intercalated layers and the stage n. X-ray diffraction, together with the Ic values for the reflection with maximum intensity were used as a method for stage identification of the acceptors GIC-FeCl3, n = 1,2,3,4,5,6 and 11, and also GIC-ZnCl2, n = 4 and 5. C-axis Electrical resistivity measurements for GIC-FeCl3, stages 1-6 and 11, and for GIC-ZnCl2, 4-stagged, as the temperature changes in the 4.2 and 300K range, show the following the resistivity of the compounds is larger than that of HOPG. An entirely metallic temperature dependence is observed for stages 1-4 GIC-FeCl3. GIC-FeCl3 higher stages and GIC-ZnCl2, show this behavior only at high temperature as the temperature decreases one observes a crossover to an activated dependence of the resistivity. The model for the fonon-assisted and impurity-assisted hopping conduction to account for the c-axis conduction. An order-disorder like transition is observed for both compounds. The GIC-FeCl3 transition is followed by a histeresis that characterizes an irreversible process for 120 £ T £ 160K. Transverse magnetoresistance measurements show that in the low field range, the magnetic field dependence is significantly different from a band-like dependence. Magnetoresistance values for GIC-FeCl3 show a minimum for n = 5. A magnetoresistance with an oscillatory behavior was observed for these compounds. An explanation of this complex behavior is based on the influence of magnetic field and temperature on the fluctuations of magnetization produced by impurities and dislocations, the spin-polarization of carriers, and the carrier concentration in the compound / Doutorado / Física / Doutor em Ciências

Orientador: Lucila H. D. Cescato / Tese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin / Made available in DSpace on 2018-07-20T08:10:32Z (GMT). No. of bitstreams: 1 Lima_CarlosRaimundoAndrade_D.pdf: 3504285 bytes, checksum: c43e78365f53dec0f091ccac0deb4bc2 (MD5) Previous issue date: 1994 / Resumo: Foi realizada uma análise da mistura de ondas refletidas durante as exposições holográficas de filmes fotossensíveis. São apresentados resultados teóricos e experimentais para filmes de fotorresinas "Shipley AZ-14OO" em três diferentes tipos de substratos (vidro, silício e filmes de alumínio). Foi mostrado que a diferença de fase entre as ondas de interferência depende fortemente da refletividade das interfaces, da espessura do filme e do ângulo de incidência. Destes resultados foi possível encontrar as condições de operação do sistema de estabilização holográfico utilizando ondas refletidas. Foram descritas algumas aplicações que usam este sistema na fabricação de componentes ópticos tais como, divisores de polarização, polarizadores de grade e deslocamento de fase para obtenção de lasers de realimentação distribuída (DFB) monomodo / Abstract: An analysis of the wave mixing of the reflected waves during the holographic exposition of photosensitive films was realized. The theoretical and experimental results are concerning to a photoresist film Shipley AZ-1400 on three different types of substrates (glass, silicon and aluminum films). It is shown that the phase difference between the interfering waves depends stronghly on the reflectivity of the interfaces, of the photosensitive film thickness and of the incidence angle. From these results it was possible to find the conditions of operation of a negative feedback system to stabilize the holographic pattern using the reflected waves. Some applications were described that use this system for fabrication of optical components such as, polarization beam aplitter, grating polarisers and phase-shift distributed feedback (DFB) lasers / Doutorado / Física / Doutor em Ciências

Orientador: Iris C. L. de Torriani / Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin / Made available in DSpace on 2018-07-15T17:20:58Z (GMT). No. of bitstreams: 1 Souza_ChristinaFrancode_M.pdf: 1410000 bytes, checksum: af0d3432ec49bab21c8dadf504e39805 (MD5) Previous issue date: 1984 / Resumo: Neste trabalho apresentamos um estudo sistemático da difração de raios X a alto e baixo ângulos produzida por multicamadas úmidas de dipalmitil lecitina (DPL) com incorporação de pireno em concentrações que variaram entre as relações moleculares 5:1 (DPL: pireno) e 100:1. O pireno é um composto aromático muito usado em espectroscopia de fluorescência como sonda da região hidrofóbica de membranas celulares e artificiais. Tem sido observado que moléculas do tipo do pireno possuem uma certa mobilidade em bicamadas lipídicas. Portanto, ê interessante saber que perturbações elas produzem na região das cadeias acílicas e se há agregação do pireno dentro da bicamada. Nos diagramas de difração obtidos, as reflexões devidas às lamelas permitiram determinar as variações na espessura da bicamada em função da concentração de pireno. O halo correspondente ã difração das cadeias acílicas mostra mudanças devidas aos diferentes graus de ordenamento. Para altas concentrações de pireno, observamos a difração devida aos agregados cristalinos. Os perfis de densidade eletrônica unidimensionais na direção normal ao plano das bicamadas refletem todas estas mudanças e nos permitem sugerir um mecanismo de saturação para o pireno na bicamada. / Abstract: In this work we present the results of a systematic study of high angle and low angle X-ray diffraction from hydrated dipalmitoyl lecithin (DPL) multilayers with pyrene incorporated in concentrations varying between the molecular ratios 5:1 (DPL: pyrene) e 100:1. Pyrene is an aromatic compound extensively used in fluorescence spectroscopy as a probe of the hydrophobic region of cell membranes and model systems. It has been pointed out that pyrene and similar molecules have a certain mobility in lipid bilayers. Consequently, it is interesting to know which perturbations they will produce in the acyl chain region and if there is aggregation of pyrene inside the bilayer. The diffraction patterns obtained showed the reflections due to the lamelae, from which we could determine the changes in bilayer thickness as a function of pyrene concentration. The halo corresponding to the diffraction of the acylic chains shows changes due to the different degree of order. For high concentrations of pyrene we observe the diffraction due to the crystalline aggregates. The one-dimensional electron density profiles in the direction normal to the plane of the bilayers reflects all these changes and allows us to suggest a saturation mechanism for the pyrene in the bilayer / Mestrado / Física / Mestre em Física

Orientador: Stephenson Caticha-Ellis / Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin / Made available in DSpace on 2018-07-16T07:30:51Z (GMT). No. of bitstreams: 1 Sasaki_JoseMarcos_M.pdf: 3025296 bytes, checksum: 791fc68ece43cd487dba308cda662452 (MD5) Previous issue date: 1988 / Resumo: O problema da fase dos feixes de raios-X difratados é um dos maiores problemas da Cristalografia de Raios-X desde a descoberta de Laue e a resolução das primeiras estrutura por Bragg. Neste trabalho é desenvolvido um método teórico, baseado na teoria dinâmica de difração dos raios-X, para análise da intensidade de difração múltipla com o objetivo de obter informações sobre as fases num caso de difração múltipla de N-feixes com N > 3. Faz-se uso de comprimento de onda acima da borda de absorção dos átomo mais pesado. A aproximação de Bethe de segunda ordem, o tratamento de Juretschke e o estudo da superfície de dispersão é empregado para desenvolver uma análise gráfica para o problema da fase de muItos feixes. Será demonstrado que a fase pode ser diretamente determinado da intensidade para N-feixes / Abstract: Not informed. / Mestrado / Física / Mestre em Física

Orientador: Stephenson Caticha Ellis / Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin / Made available in DSpace on 2018-07-17T06:53:03Z (GMT). No. of bitstreams: 1 PortugalPostigo_RembertoJose_M.pdf: 3689329 bytes, checksum: b8c02fdea8eb1f616c8f874585f68792 (MD5) Previous issue date: 1979 / Resumo: A sensibilidade S da medida de parâmetros de rede por meio da Difração múltipla ( D.M. ) de raios-X ( S. Caticha Ellis, Japan J. Appl. Phys. (1975), 14, 603-611 ) é dada por: S = 1/( gtanf cos2q1 ), onde g = /a, q1 o ângulo de Bragg para a reflexão primária, e f o ângulo formado pelo vetor reciproco H da reflexão secundária; com o plano de incidência quando H está em posição de reflexão: Pares de Reflexões múltiplas com S alto foram escolhidos e o valor do parâmetro a calculado a partir da diferença angular azimutal entre cada par. Para mono-cristais de Germânio, CuKa1 e reflexão primária ( 222 ), foram escolhidos os seguintes pares de picos : (135') ( 315' ), ( 5'13 ) ( 5'31 ), ( 11'7 ) ( 1'17 ) e ( 711' ) ( 71'1 ) todos eles verificam; 1 ) o ângulo f é o mais pequeno dando então o maior valor de S. 2 ) A separação angular da posição dos picos para cada um destes pares é de aproximadamente 0,22°, que pode ser medida diretamente. 3 ) Os quatro pares envolvem só reflexões fracas. Assim. sendo, deslocamentos dos picos devido a interações dinâmicas não são levadas em conta. O experimento foi realizado usando um gerador microfoco ajustado para se ter um foco pontual de raios-X de 50 x 50 mm, monocromatizados por um cristal curvo de quartzo ( 101'1 ). A separação angular de cada par de reflexões foi medida girando o cristal com uma velocidade de 0,003 °/min com um erro de aproximadamente 10-5 °/min. São apresentados resultados para um cristal perfeito e para um imperfeito / Abstract: The sensitivity s of the measurement of lattice parameter by means of multiple diffraction ( MD ) of X-rays ( S. Caticha-Ellis, Jap, J. App1. Phys. ( 1975 ), 14, 603-611 ) is given by S = 1/( gtanf cos2q1 ), where g = /a, q1 is the Bragg angle for the primary reflection and f is the angle formed by the RELV H of the secondary reflection with the plane of incidence when H is in a reflecting position. Pairs of MD reflections with high S were chosen and the value of the parameter a calculated from the azimutal angle difference within each pair. For Ge single crystals, CuKa1 and primary reflection 222, the following four pairs were chosen: ( 135' ) ( 315' ), ( 5'13 ) ( 5'31 ), ( 11'7 ) ( 1'17 ) and ( 711' ) ( 71'1 ). All of them verify: 1 ) the angle f is the lowest thus giving the highest S. 2 ) The angular separation of the peak positions for the each of these pairs is about 0,22 degree so that it can be measured directly. 3 ) The four pairs involve only weak reflections so that the peak-shift due to dynamical interactions need not be considered. The experiments were performed by using a microfocus 50 x 50 mm point source of X-rays monochromatized by a curved quartz ( 1011 ) crystal. The angular separation of each pair of reflections was measured by rotat.ing the crystal at a speed of 0,003 deg/min with an error of about 10-5 deg/min. Results for perfect and imperfect crystals are reported. / Mestrado / Física / Mestre em Física

Orientador: Luiz Marco Brescansin / Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin / Made available in DSpace on 2018-07-17T06:31:48Z (GMT). No. of bitstreams: 1 Tavares_PedroFernandes_M.pdf: 2373498 bytes, checksum: 766f91c5a23fea662ceb21ab98324884 (MD5) Previous issue date: 1988 / Resumo: Aplicamos o método variacional de Schwinger iterativo ao cálculo de seções de choque para o espalhamento eletrônica e vibracionalmente elástico e rotacionalmente não resolvido de elétrons por moléculas de H2S. Comparamos nossos resultados com cálculos anteriores e dados experimentais / Abstract: We used the Schwinger iterative variational method to calculate cross sections for electronically and vibrationally elastic and rotationally unresolved scattering of electrons by H2S molecules. We compare our results with previous calculations and experimental data / Mestrado / Física / Mestre em Física

Orientador : Oswaldo Luiz Alves / Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Quimica / Made available in DSpace on 2018-07-18T18:46:15Z (GMT). No. of bitstreams: 1 Reis_RalphoRinaldodos_M.pdf: 4855056 bytes, checksum: 6257382f26ca3d1a3b5c544976f768c7 (MD5) Previous issue date: 1993 / Mestrado