La miniaturisation des gravures des transistors résulte en une augmentation de la sensibilité aux soft-erreurs des circuits intégrés face aux particules énergétiques présentes dans l'environnement dans lequel ils opèrent. Une expérimentation, présentée au cours de cette thèse, concernant l'étude de la sensibilité face aux soft-erreurs, dans l'environnement réel, des mémoires SRAM provenant de deux générations de technologies successives, a mis en évidence la criticité de cette thématique. Cela pour montrer la nécessité de l'évaluation des circuits faces aux effets des radiations, surtout les circuits commerciaux qui sont de plus en plus utilisés dans les applications spatiales et avioniques et même dans les hautes altitudes, afin de trouver les méthodologies permettant leurs durcissements. Plusieurs méthodes d'injection de fautes, ayant pour but l'évaluation de la sensibilité des circuits intégrés face aux soft-erreurs, ont été le sujet de plusieurs recherches. Les travaux réalisés au cours de cette thèse ont eu pour but le développement d'une méthode automatisable, avec son outil, permettant l'émulation des effets des radiations sur des circuits dont on dispose de leurs codes HDL. Cette méthode, appelée NETFI (NETlist Fault Injection), est basée sur la manipulation de la netlist du circuit synthétisé pour permettre l'injection de fautes de types SEU, SET et Stuck_at. NETFI a été appliquée sur plusieurs architectures pour étudier ses potentialités ainsi que son efficacité. Une étude sur un algorithme tolérant aux fautes, dit self-convergent, exécuté par un processeur LEON3, a été aussi présenté dans le but d'effectuer une comparaison des résultats issus de NETFI avec ceux issus d'une méthode de l'état de l'art appelée CEU (Code Emulated Upset).

Les systèmes autonomes suscitent aujourd'hui un intérêt croissant, que ce soit dans le domaine des robots d'exploration spatiale ou dans des domaines plus proches de l'homme, tels que les robots de service. Mais se pose le problème de leur sûreté de fonctionnement : peut-on avoir une confiance justifiée dans le comportement de systèmes conçus pour prendre des décisions sans intervention humaine ? L'objectif de cette thèse est de proposer des concepts architecturaux capables d'améliorer la sûreté de fonctionnement des systèmes autonomes, en particulier par la conception et le développement de mécanismes de tolérance aux fautes adaptés à la fonction de planification, centrale à l'autonomie des systèmes complexes. Une évaluation des performances et de l'efficacité des mécanismes proposés est réalisée en utilisant la technique d'injection de fautes par mutation.

Les circuits intégrés ne sont pas à l'abri d'interférences naturelles ou malveillantes qui peuvent provoquer des fautes transitoires conduisant à des erreurs (Soft errors) et potentiellement à un comportement erroné. Ceci doit être maîtrisé surtout dans le cas des systèmes critiques qui imposent des contraintes de sûreté et/ou de sécurité. Pour optimiser les stratégies de protection de tels systèmes, il est fondamental d'identifier les éléments les plus critiques. L'évaluation de la criticité de chaque bloc permet de limiter les protections aux blocs les plus sensibles. Cette thèse a pour objectif de proposer des approches permettant d'analyser, tôt dans le flot de conception, la robustesse d'un système numérique. Le critère clé utilisé est la durée de vie des données stockées dans les registres, pour une application donnée. Dans le cas des systèmes à base de microprocesseur, une approche analytique a été développée et validée autour d'un microprocesseur SparcV8 (LEON3). Celle-ci repose sur une nouvelle méthodologie permettant de raffiner les évaluations de criticité des registres. Ensuite, une approche complémentaire et plus générique a été mise en place pour calculer la criticité des différents points mémoires à partir d'une description synthétisable. L'outil mettant en œuvre cette approche a été éprouvé sur des systèmes significatifs tels que des accélérateurs matériels de chiffrement et un système matériel/logiciel basé sur le processeur LEON3. Des campagnes d'injection de fautes ont permis de valider les deux approches proposées dans cette thèse. En outre, ces approches se caractérisent par leur généralité, leur efficacité en termes de précision et de rapidité, ainsi que leur faible coût de mise en œuvre et leur capacité à ré-exploiter les environnements de validation fonctionnelle. / Integrated circuits are not immune to natural or malicious interferences that may cause transient faults which lead to errors (soft errors) and potentially to wrong behavior. This must be mastered particularly in the case of critical systems which impose safety and/or security constraints. To optimize protection strategies of such systems, it is essential to identify the most critical elements. The assessment of the criticality of each block allows limiting the protection to the most sensitive blocks. This thesis aims at proposing approaches in order to analyze, early in the design flow, the robustness of a digital system. The key criterion used is the lifetime of data stored in the registers for a given application. In the case of microprocessor-based systems, an analytical approach has been developed and validated on a SparcV8 microprocessor (LEON3). This approach is based on a new methodology to refine assessments of registers criticality. Then a more generic and complementary approach was implemented to compute the criticality of all flip-flops from a synthesizable description. The tool implementing this approach was tested on significant systems such as hardware crypto accelerators and a hardware/software system based on the LEON3 processor. Fault injection campaigns have validated the two approaches proposed in this thesis. In addition, these approaches are characterized by their generality, their efficiency in terms of accuracy and speed and a low-cost implementation. Another benefit is also their ability to re-use the functional verification environments.

La présente thèse vise à évaluer la sensibilité statique et dynamique face aux SEE de trois dispositifs COTS différents. Le premier est le processeur multi-cœurs P2041 de Freescale fabriqué en technologie 45nm SOI qui met en œuvre ECC et la parité dans leurs mémoires cache. Le second est le processeur multifonction Kalray MPPA-256 fabriqué en technologie CMOS 28nm TSMC qui intègre 16 clusters de calcul chacun avec 16 cœurs, et met en œuvre ECC dans ses mémoires statiques et parité dans ses mémoires caches. Le troisième est le microprocesseur Adapteva E16G301 fabriqué en 65nm CMOS processus qui intègre 16 cœurs de processeur et ne pas mettre en œuvre des mécanismes de protection. L'évaluation a été réalisée par des expériences de rayonnement avec des neutrons de 14 Mev dans des accélérateurs de particules pour émuler un environnement de rayonnement agressif, et par injection de fautes dans des mémoires cache, des mémoires partagées ou des registres de processeur pour simuler les conséquences des SEU dans l'exécution du programme. Une analyse approfondie des erreurs observées a été effectuée pour identifier les vulnérabilités dans les mécanismes de protection. Des zones critiques telles que des Tag adresses et des registres à usage général ont été affectées pendant les expériences de rayonnement. De plus, l'approche Code Emulating Upset (CEU), développée au Laboratoire TIMA, a été étendue pour des processeurs multi-cœur et many-cœur pour prédire le taux d'erreur d'application en combinant les résultats issus des campagnes d'injection de fautes avec ceux issus des expériences de rayonnement. / The present thesis aims at evaluating the SEE static and dynamic sensitivity of three different COTS multi-core and many-core processors. The first one is the Freescale P2041 multi-core processor manufactured in 45nm SOI technology which implements ECC and parity in their cache memories. The second one is the Kalray MPPA-256 many-core processor manufactured in 28nm TSMC CMOS technology which integrates 16 compute clusters each one with 16 processor cores, and implements ECC in its static memories and parity in its cache memories. The third one is the Adapteva Epiphany E16G301 microprocessor manufactured in 65nm CMOS process which integrates 16 processor cores and do not implement protection mechanisms. The evaluation was accomplished through radiation experiments with 14 Mev neutrons in particle accelerators to emulate a harsh radiation environment, and by fault injection in cache memories, shared memories or processor registers, to simulate the consequences of SEUs in the execution of the program. A deep analysis of the observed errors was carried out to identify vulnerabilities in the protection mechanisms. Critical zones such as address tag and general purpose registers were affected during the radiation experiments. In addition, The Code Emulating Upset (CEU) approach, developed at TIMA Laboratory was extended to multi-core and many core processors for predicting the application error rate by combining the results issued from fault injection campaigns with those coming from radiation experiments.

La grande capacité de calcul, flexibilité, faible consommation d'énergie, redondance intrinsèque et la haute performance fournie par les processeurs multi/many-cœur les rendent idéaux pour surmonter les nouveaux défis dans les systèmes informatiques. Cependant, le degré d'intégration de ces dispositifs augmente leur sensibilité aux effets des radiations naturelles. Par conséquent, des fabricants, partenaires industriels et universitaires travaillent ensemble pour améliorer les caractéristiques de ces dispositifs ce qui permettrait leur utilisation dans des systèmes embarqués et critiques. Dans ce contexte, le travail effectué dans le cadre de cette thèse vise à évaluer l'impact des SEEs (Single Event Effects) dans des applications parallèles s'exécutant sur des processeurs multi-cœur et many-cœur, et développer et valider une approche logicielle pour améliorer la fiabilité du système appelée N- MoRePar. La méthodologie utilisée pour l'évaluation était fondée sur des études de cas multiples. Les différents scénarios mis en œuvre envisagent une large gamme de configurations de système en termes de mode de multi-processing, modèle de programmation, modèle de mémoire et des ressources utilisées. Pour l'expérimentation, deux dispositifs COTS ont été sélectionnés: le quad-core Freescale PowerPC P2041 en technologie SOI 45nm, et le processeur multi-cœur KALRAY MPPA-256 en CMOS 28nm. Les études de cas ont été évaluées par l'injection de fautes et par des campagnes des tests sur neutron. Les résultats obtenus servent de guide aux développeurs pour choisir la configuration du système la plus fiable en fonction de leurs besoins. En outre, les résultats de l'évaluation de l'approche N-MoRePar basée sur des critères de redondance et de partitionnement augmente l'utilisation des processeurs COTS multi/many-cœur dans des systèmes qui requièrent haute fiabilité. / The large computing capacity, great flexibility, low power consumption, intrinsic redundancy and high performance provided by multi/many-core processors make them ideal to overcome with the new challenges in computing systems. However, the degree of scale integration of these devices increases their sensitivity to the effects of natural radiation. Consequently manufacturers, industrial and university partners are working together to improve their characteristics which allow their usage in critical embedded systems. In this context, the work done throughout this thesis aims at evaluating the impact of SEEs on parallel applications running on multi-core and many-core processors, and proposing a software approach to improve the system reliability. The methodology used for evaluation was based on multiple-case studies. The different scenarios implemented consider a wide range of system configurations in terms of multi-processing mode, programming model, memory model, and resources used. For the experimentation, two COTS devices were selected: the Freescale PowerPC P2041 quad-core built in 45nm SOI technology, and the KALRAY MPPA-256 many-core processor built in 28nm CMOS technology. The case-studies were evaluated through fault-injection and neutron radiation. The obtained results serve as useful guidelines to developers for choosing the most reliable system configuration according to their requirements. Furthermore, the evaluation results of the proposed N-MoRePar fault-tolerant approach based on redundancy and partitioning criteria boost the usage of COTS multi/many-core processors in high level dependability systems.

La miniaturisation des gravures des transistors résulte en une augmentation de la sensibilité aux soft-erreurs des circuits intégrés face aux particules énergétiques présentes dans l’environnement dans lequel ils opèrent. Une expérimentation, présentée au cours de cette thèse, concernant l'étude de la sensibilité face aux soft-erreurs, dans l'environnement réel, des mémoires SRAM provenant de deux générations de technologies successives, a mis en évidence la criticité de cette thématique. Cela pour montrer la nécessité de l'évaluation des circuits faces aux effets des radiations, surtout les circuits commerciaux qui sont de plus en plus utilisés dans les applications spatiales et avioniques et même dans les hautes altitudes, afin de trouver les méthodologies permettant leurs durcissements. Plusieurs méthodes d'injection de fautes, ayant pour but l'évaluation de la sensibilité des circuits intégrés face aux soft-erreurs, ont été le sujet de plusieurs recherches. Les travaux réalisés au cours de cette thèse ont eu pour but le développement d'une méthode automatisable, avec son outil, permettant l'émulation des effets des radiations sur des circuits dont on dispose de leurs codes HDL. Cette méthode, appelée NETFI (NETlist Fault Injection), est basée sur la manipulation de la netlist du circuit synthétisé pour permettre l'injection de fautes de types SEU, SET et Stuck_at. NETFI a été appliquée sur plusieurs architectures pour étudier ses potentialités ainsi que son efficacité. Une étude sur un algorithme tolérant aux fautes, dit self-convergent, exécuté par un processeur LEON3, a été aussi présenté dans le but d'effectuer une comparaison des résultats issus de NETFI avec ceux issus d'une méthode de l'état de l'art appelée CEU (Code Emulated Upset). / Reducing the dimensions of transistors increases the soft-errors sensitivity of integrated circuits to energetic particles present in the environments in which they operate. An experiment, presented in this thesis, aiming to study soft-errors sensitivity, in real environment, of SRAM memories issued from two successive technologies, put in evidence the criticality of this thematic. This is to show the need to evaluate circuit's sensitivity to radiation effects, especially commercial circuits that are used more and more for space and avionic applications and even at high altitudes, in order to find the appropriate hardening methodologies. Several fault-injection methods, aiming at evaluating the sensitivity to soft-errors of integrated circuits, were goals for many researches. In this thesis was developed an automated method, and its corresponding tool, allowing the emulation of radiation effects on HDL-based circuits. This method, so-called NETFI (NETlist Fault-Injection), is based on modifying the netlist of the synthesized circuit to allow injecting faults of different types (SEU, SET and Stuck_at). NETFI was applied on different architectures in order to assess its efficiency and put in evidence its capabilities. A study on a fault-tolerant algorithm, so-called self-convergent, executed by a LEON3 processor, was also presented in order to perform an objective comparison between the results issued from NETFI and those issued from another state-of-the-art method, called CEU (Code Emulated Upset).

Les effets dus à la radiation peuvent provoquer des pannes dans des circuits intégrés. Lorsqu'une particule subatomique, fait se déposer une charge dans les régions sensibles d'un transistor cela provoque une impulsion de courant. Cette impulsion peut alors engendrer l'inversion d'un bit ou se propager dans un réseau de logique combinatoire avant d'être échantillonnée par une bascule en aval.Selon l'état du circuit au moment de la frappe de la particule et selon l'application, cela provoquera une panne observable ou non. Parmi les événements induits par la radiation, seule une petite portion génère des pannes. Il est donc essentiel de déterminer cette fraction afin de prédire la fiabilité du système. En effet, les raisons pour lesquelles une perturbation pourrait être masquée sont multiples, et il est de plus parfois difficile de préciser ce qui constitue une erreur. A cela s'ajoute le fait que les circuits intégrés comportent des milliards de transistors. Comme souvent dans le contexte de la conception assisté par ordinateur, les approches hiérarchiques et les techniques d'abstraction permettent de trouver des solutions.Cette thèse propose donc plusieurs nouvelles techniques pour analyser les effets dus à la radiation. La première technique permet d'accélérer des simulations d'injections de fautes en détectant lorsqu'une faute a été supprimée du système, permettant ainsi d'arrêter la simulation. La deuxième technique permet de regrouper en ensembles les éléments d'un circuit ayant une fonction similaire. Ensuite, une analyse au niveau des ensemble peut être faite, identifiant ainsi ceux qui sont les plus critiques et qui nécessitent donc d'être durcis. Le temps de calcul est ainsi grandement réduit.La troisième technique permet d'analyser les effets des fautes transitoires dans les circuits combinatoires. Il est en effet possible de calculer à l'avance la sensibilité à des fautes transitoires de cellules ainsi que les effets de masquage dans des blocs fréquemment utilisés. Ces modèles peuvent alors être combinés afin d'analyser la sensibilité de grands circuits. La contribution finale de cette thèse consiste en la définition d'un nouveau langage de modélisation appelé RIIF (Reliability Information Ineterchange Format). Ce langage permet de décrire le taux des fautes dans des composants simples en fonction de leur environnement de fonctionnement. Ces composants simples peuvent ensuite être combinés permettant ainsi de modéliser la propagation de leur fautes vers des pannes au niveau système. En outre, l'utilisation d'un langage standard facilite l'échange de données de fiabilité entre les partenaires industriels.Au-delà des contributions principales, cette thèse aborde aussi des techniques permettant de protéger des mémoires associatives ternaires (TCAMs). Les approches classiques de protection (codes correcteurs) ne s'appliquent pas directement. Une des nouvelles techniques proposées consiste à utiliser une structure de données qui peut détecter, d'une manière statistique, quand le résultat n'est pas correct. La probabilité de détection peut être contrôlée par le nombre de bits alloués à cette structure. Une autre technique consiste à utiliser un détecteur de courant embarqué (BICS) afin de diriger un processus de fond directement vers le région touchée par une erreur. La contribution finale consiste en un algorithme qui permet de synthétiser de la logique combinatoire afin de protéger des circuits combinatoires contre les fautes transitoires.Dans leur ensemble, ces techniques facilitent l'analyse des erreurs provoquées par les effets dus à la radiation dans les circuits intégrés, en particulier pour les très grands circuits composés de blocs provenant de divers fournisseurs. Des techniques pour mieux sélectionner les bascules/flip-flops à durcir et des approches pour protéger des TCAMs ont étés étudiées. / The main objective of this thesis is to develop techniques that can beused to analyze and mitigate the effects of radiation-induced soft errors in industrialscale integrated circuits. To achieve this goal, several methods have been developedbased on analyzing the design at higher levels of abstraction. These techniquesaddress both sequential and combinatorial SER.Fault-injection simulations remain the primary method for analyzing the effectsof soft errors. In this thesis, techniques which significantly speed-up fault-injectionsimulations are presented. Soft errors in flip-flops are typically mitigated by selectivelyreplacing the most critical flip-flops with hardened implementations. Selectingan optimal set to harden is a compute intensive problem and the second contributionconsists of a clustering technique which significantly reduces the number offault-injections required to perform selective mitigation.In terrestrial applications, the effect of soft errors in combinatorial logic hasbeen fairly small. It is known that this effect is growing, yet there exist few techniqueswhich can quickly estimate the extent of combinatorial SER for an entireintegrated circuit. The third contribution of this thesis is a hierarchical approachto combinatorial soft error analysis.Systems-on-chip are often developed by re-using design-blocks that come frommultiple sources. In this context, there is a need to develop and exchange reliabilitymodels. The final contribution of this thesis consists of an application specificmodeling language called RIIF (Reliability Information Interchange Format). Thislanguage is able to model how faults at the gate-level propagate up to the block andchip-level. Work is underway to standardize the RIIF modeling language as well asto extend it beyond modeling of radiation-induced failures.In addition to the main axis of research, some tangential topics were studied incollaboration with other teams. One of these consisted in the development of a novelapproach for protecting ternary content addressable memories (TCAMs), a specialtype of memory important in networking applications. The second supplementalproject resulted in an algorithm for quickly generating approximate redundant logicwhich can protect combinatorial networks against permanent faults. Finally anapproach for reducing the detection time for errors in the configuration RAM forField-Programmable Gate-Arrays (FPGAs) was outlined.

De nombreuses applications comme les cartes bancaires manipulent des données confidentielles. A ce titre, les circuits microélectroniques qui les composent, font de plus en plus l'objet d'attaques représentant des menaces pour la sécurité. De plus, un grand nombre des circuits électroniques portables et fonctionnant sur batterie demandent que la consommation électrique soit toujours plus réduite. Les concepteurs de circuit doivent donc proposer des solutions sécurisées, tout en limitant la consommation.Ce travail présente l'évaluation sécuritaire et la conception de contre-mesures pour des architectures à triple-caisson dédiées à la réduction de la consommation. Ces recherches, liées au contexte, se sont focalisées sur l'évaluation de cette architecture face à des injections de fautes Laser. Dès le début de ce manuscrit, l’état de l’art de l’injection de fautes est développé, en se focalisant sur les effets physiques d’un faisceau laser. Les architectures à double et triple-caisson sont ensuite analysées dans le but de comparer leur robustesse. Cette démarche permet d’appréhender d’éventuels effets physiques induits par le laser à l’intérieur des caissons de polarisations Nwell, Pwell et des transistors MOS. Suite à cette analyse des phénomènes physiques, des modélisations électriques des portes CMOS ont été développées pour des architectures à double et triple-caisson. De bonnes corrélations ont pu être obtenues entre les mesures et les simulations électriques. Pour conclure, ce travail a permis d'extraire de potentielles règles de conception permettant d’améliorer la robustesse sécuritaire des portes CMOS et de développer des moyens de détections d’attaques lasers. / In many applications such as credit cards, confidential data is used. In this regard, the systems-on-chip used in these applications are often deliberately attacked. This puts the security of our data at a high risk. Furthermore, many SoC devices have become battery-powered and require very low power consumption. In this context, semiconductor manufacturers should propose secured and low-power solutions.This thesis presents a security evaluation and a countermeasures design for a low-power, triple-well architecture dedicated to low-power applications. The security context of this research focuses on a Laser sensitivity evaluation of this architecture.This paper first presents the state of the art of Laser fault injection techniques, focusing on the physical effects induced by a Laser beam. Afterward, we discuss the different dual-and triple-well architectures studied in order to compare their security robustness. Then, a physical study of these architectures as substrate resistor and capacitor modeling highlights their impact on security. This evaluation lets us anticipate the phenomena potentially induced by the Laser inside the biasing well (P-well, N-well) and the MOS transistors.Following the analysis of the physical phenomena resulting from the interaction between the laser and the silicon, electrical modeling of the CMOS gates was developed for dual and triple-well architectures. This enabled us to obtain a good correlation between measurements and electrical simulations.In conclusion, this work enabled us to determine possible design rules for increasing the security robustness of CMOS gates as well as the development of Laser sensors able to detect an attack.

La perception est une entrée fondamentale des systèmes robotiques, en particulier pour la localisation, la navigation et l'interaction avec l'environnement. Or les données perçues par les systèmes robotiques sont souvent complexes et sujettes à des imprécisions importantes. Pour remédier à ces problèmes, l'approche multi-capteurs utilise soit plusieurs capteurs de même type pour exploiter leur redondance, soit des capteurs de types différents pour exploiter leur complémentarité afin de réduire les imprécisions et les incertitudes sur les capteurs. La validation de cette approche de fusion de données pose deux problèmes majeurs.Tout d'abord, le comportement des algorithmes de fusion est difficile à prédire,ce qui les rend difficilement vérifiables par des approches formelles. De plus, l'environnement ouvert des systèmes robotiques engendre un contexte d'exécution très large, ce qui rend les tests difficiles et coûteux. L'objet de ces travaux de thèse est de proposer une alternative à la validation en mettant en place des mécanismes de tolérance aux fautes : puisqu'il est difficile d'éliminer toutes les fautes du système de perception, on va chercher à limiter leurs impacts sur son fonctionnement. Nous avons étudié la tolérance aux fautes intrinsèquement permise par la fusion de données en analysant formellement les algorithmes de fusion de données, et nous avons proposé des mécanismes de détection et de rétablissement adaptés à la perception multi-capteurs. Nous avons ensuite implémenté les mécanismes proposés pour une application de localisation de véhicules en utilisant la fusion de données par filtrage de Kalman. Nous avons finalement évalué les mécanismes proposés en utilisant le rejeu de données réelles et la technique d'injection de fautes, et démontré leur efficacité face à des fautes matérielles et logicielles. / Perception is a fundamental input for robotic systems, particularly for positioning, navigation and interaction with the environment. But the data perceived by these systems are often complex and subject to significant imprecision. To overcome these problems, the multi-sensor approach uses either multiple sensors of the same type to exploit their redundancy or sensors of different types for exploiting their complementarity to reduce the sensors inaccuracies and uncertainties. The validation of the data fusion approach raises two major problems. First, the behavior of fusion algorithms is difficult to predict, which makes them difficult to verify by formal approaches. In addition, the open environment of robotic systems generates a very large execution context, which makes the tests difficult and costly. The purpose of this work is to propose an alternative to validation by developing fault tolerance mechanisms : since it is difficult to eliminate all the errors of the perceptual system, We will try to limit impact in their operation. We studied the inherently fault tolerance allowed by data fusion by formally analyzing the data fusion algorithms, and we have proposed detection and recovery mechanisms suitable for multi-sensor perception, we implemented the proposed mechanisms on vehicle localization application using Kalman filltering data fusion. We evaluated the proposed mechanims using the real data replay and fault injection technique.

Les circuits cryptographiques peuvent etre victimes d'attaques en fautes visant leur implementation materielle. elles consistent a creer des fautes intentionnelles lors des calculs cryptographiques afin d'en deduire des informations confidentielles. dans le contexte de la caracterisation securitaire des circuits, nous avons ete amenes a nous interroger sur la faisabilite experimentale de certains modeles theoriques d'attaques. nous avons utilise un banc laser comme moyen d'injection de fautes.dans un premier temps, nous avons effectue des attaques en fautes dfa par laser sur un microcontroleur implementant un algorithme de cryptographie aes. nous avons reussi a exclure l'effet logique des fautes ne correspondants pas aux modeles d’attaque par un jeu precis sur l'instant et le lieu d'injection. en outre, nous avons identifie de nouvelles attaques dfa plus elargies.ensuite, nous avons etendu nos recherches a la decouverte et la mise en place de nouveaux modeles d'attaques en fautes. grace a la precision obtenue lors de nos premiers travaux, nous avons developpe ces nouvelles attaques de modification de rondes.en conclusion, les travaux precedents constituent un avertissement sur la faisabilite averee des attaques par laser decrites dans la litterature scientifique. nos essais ont temoigne de la faisabilite toujours actuelle de la mise en place des attaques mono-octets ou mono-bits avec un faisceau de laser qui rencontre plusieurs octets ; et egalement reveler de nouvelles possibilites d’attaque. cela nous a amenes a etudier des contre-mesures adaptees. / Cryptographic circuits may be victims of fault attacks on their hardware implementations. fault attacks consist of creating intentional faults during cryptographic calculations in order to infer secrets. in the context of security characterization of circuits, we have examined practical feasibility of some theoretical models of fault attacks. we used a laser bench as a means of the fault injection.at the beginning, we performed laser fault injections on a microcontroller implementing an aes cryptographic algorithm. we succeeded to exclude the logical effect of mismatched faults by temporal and spatial accuracy in fault injection. moreover, we identified extended new dfa attacks.then, we extended our research to identify and to implement new fault attack models. with the precision obtained in our earlier work, we developed new round modification analysis (rma) attacks.in conclusion, the experiments give a warning for the feasibility of described attacks in the literature by laser. our tests have demonstrated that single-byte or single-bit attacks are still feasible with a laser beam that hits additional bytes on the circuit when the laser emission is accurate and associated with other techniques. they also revealed new attack possibilities. therefore, it conducted us to study of appropriate countermeasures.