Propôs-se analisar os sialólitos pelas microscopias óptica comum e de luz polarizada. Utilizaram-se 15 casos, cujos blocos, lâminas e fichas de envio das peças cirúrgicas eram provenientes dos arquivos do Laboratório de Anatomia Patológica do Departamento de Estomatologia, disciplina de Patologia da Faculdade de Odontologia de Bauru, Universidade de São Paulo. À microscopia óptica comum os espécimes foram analisados por meio das colorações hematoxilina-eosina de Harris e de Brown e Brenn. Observou-se que os sialólitos não têm estrutura uniforme, variando sua morfologia não apenas no mesmo espécime como também de um espécime para outro. O padrão lamelar de organização foi predominante tanto ao microscópio óptico comum como ao microscópio de luz polarizada. Houve a evidenciação de bactérias em todos os espécimes. Por meio da luz polarizada estabeleceu-se uma classificação para os padrões encontrados: linear, puntiforme, mosaico, radiado, homogêneo e misto. Nos espécimes que apresentavam tecido mole (26,6% da amostra) detectou-se a presença de mineralizações estromais puntiformes à luz polarizada. / The purpose was to analyze sialoliths through optical microscopy and of polarizated light. It was going used 15 cases, whose blocks, foils and records of the specimens were obtained from of the Department of Oral Pathology, Bauru Dental School, of São Paulo University. Under the optical microscopy the specimens were analyzed through hematoxylin-eosin and Brown and Brenn stains . It was observed that the sialoliths has no uniform structure, and their morphology varies not just in the same specimen but also from a specimen to another. The lamellar pattern of organization was as predominant at the optical microscope as at the polarized light microscope. There was detected of bacteria in all the specimens. Through polarized light it was established a classification for the found patterns: lineal, speck, mosaic, radiated, homogeneous and mixed. In the specimens that presented soft tissue (26,6% of the sample) it was detected speck shape stromals mineralization.

Este trabalho tem como objetivo principal, o estudo de técnicas de microscopia para a caracterização estrutural de semicondutores, visando o desenvolvimento das técnicas de preparação de amostras, visto que a caracterização estrutural é de suma importância para a obtenção de melhores resultados no processo de produção de filmes de semicondutores do grupo III-V. Dentre as técnicas mais utilizadas na caracterização estrutural, destacam-se as técnicas de microscopia eletrônica de varredura e de transmissão, juntamente com a microscopia de força atômica. Foram utilizadas amostras semicondutoras de InGaAs/GaAs e InAs/GaAs, crescidas pela técnica de MBE (epitaxia por feixe molecular), contendo pontos quânticos, estruturas estas ricas em detalhes. Tais amostras foram preparadas e caracterizadas em cada uma das técnicas em estudo. A microscopia de varredura e de força atômica apresentam fácil preparação. Os resultados obtidos, porém mostram que a técnica de microscopia eletrônica de varredura não oferece resolução suficiente para visualização das heteroestruturas; já a técnica de microscopia de força atômica mostra resultados excelentes da topografia dos pontos quânticos. Para a microscopia de transmissão a preparação de amostras mostra-se muito difícil e demorada, entretanto, o resultado obtido foi muito satisfatório. O processo de preparação passa por etapas de clivagem, \"dimpling\" e \"ion milling\". As imagens obtidas revelam com clareza a estrutura de pontos quântico. Com o estudo realizado, foi possível determinar as principais características de cada técnica, assim como determinar uma metodologia que pode vir a ser aplicada a outros tipos de heteroestruturas semicondutoras / This work has as main objective, the study of microscopy techniques for structural characterization of semiconductors and the development of the techniques of sample preparation, because the structural characterization is of highest importance for the obtaining of better results in the process of production of semiconductors thin films. The techniques more used in the structural characterization, are the techniques of electronic microscopy (Scanning and Transmission), together with the Atomic Force Microscopy. Samples of InGaAs/GaAs and InAs/GaAs were used, grown by the technique of MBE (Molecular Beam Epitaxy), with quantum dots, structures these rich ones in details. Such samples were prepared and characterized in each one of the techniques in study. The Scanning Microscopy and Atomic Force present easy preparation. The obtained results even so they show that the technique of Scanning Microscopy doesn\'t offer enough resolution for visualization of the heteroestructures; already the technique of Atomic Force shows excellent results of the topography of the quantum dots. For the Transmission Microscopy the preparation of samples is shown very difficult and delayed, however, the obtained result was very satisfactory. The preparation process goes by cutting stages, dimpling and ion milling. The obtained images reveal with clarity the quantum structure of points. With the accomplished study, it was possible to determine the main characteristics of each technique, as well as determining a methodology that can come to be applied to the other types of semiconductors heterostructures

Tese de mestrado integrado. Engenharia Electrotécnica e de Computadores. Faculdade de Engenharia. Universidade do Porto. 2008

Tese de mestrado integrado. Engenharia Civil (Especialização em Materiais e Processos de Construção). Faculdade de Engenharia. Universidade do Porto. 2010

Made available in DSpace on 2014-06-11T19:32:56Z (GMT). No. of bitstreams: 0 Previous issue date: 2004Bitstream added on 2014-06-13T19:43:49Z : No. of bitstreams: 1 yamamoto_ha_dr_botfm.pdf: 4408986 bytes, checksum: 34c713ac4429aec13c514756847233ef (MD5) / Fundação de Amparo à Pesquisa do Estado de São Paulo (FAPESP) / Alterações ultra-estruturais induzidas pela instabilidade do detrusor em coelhos. Ação da oxibutinina. Introdução e Objetivos - A obstrução parcial da bexiga pode ocasionar instabilidade vesical. A oxibutinina intravesical pode melhorar os sintomas de urgência ou incontinência urinária, nos pacientes que não respondem ao tratamento ou apresentam efeitos colaterais importantes, com a oxibutinina oral. Este estudo teve como objetivo analisar as alterações ultra-estruturais na instabilidade vesical de coelhos tratados com oxibutinina intravesical. Material e Métodos - Foram utilizados 15 coelhos machos, Norfolk distribuídos, de maneira aleatória, em 3 grupos experimentais, sendo cada grupo composto por 5 animais: Grupo I - Controle Clínico, Grupo II – Instabilidade vesical e Grupo III – Instabilidade vesical + oxibutinina intravesical. Nos grupos II e III os animais foram submetidos à técnica de obstrução parcial infravesical e foram incluídos os animais que desenvolveram contrações involuntárias do detrusor durante o estudo cistométrico. Nos coelhos do grupo III foi instilado oxibutinina intravesical na dose de 0,5mg/Kg uma vez por dia. Após 30 dias os animais foram submetidos à avaliação do peso corporal, peso da bexiga, exames laboratoriais (creatinina plasmática e cultura de urina), avaliação citométrica e estudo de microscopia eletrônica. Resultados - O ganho de peso corporal médio nos grupos G1, GII e GIII foi estatisticamente significante nos diferentes momentos. Após 30 dias o peso da bexiga dos animais do GII e GIII foi estatisticamente maior que o do grupo GI. Observamos infecção urinária em 80% dos casos no grupo GII, em 40% no grupo GIII e ausência no grupo controle. No grupo G III verificamos ausência de contrações involuntárias do detrusor em 80% dos casos no momento final. No estudo com microscopia eletrônica... / Ultrastructural alterations observed in rabbits with detrusor instability: The action of oxybutynin. Introduction and Objectives - Partial bladder outlet obstruction may develop detrusor instability (DI). Intravesical oxybutynin is known to improve clinical symptoms and urodynamic findings in these patients. The aim of this study was to perform electron microscopy study on bladder of rabbits with detrusor instability submitted or not to intravesical instillation of oxybutynin. Materials e methods - 15 male Norfolk rabbits were randomly distributed into 3 groups: In group I (n=5), no surgical intervention was performed. In group II and III, detrusor instability was developed using a cable-tie located around the urethra and a 10 Fr urethral catheter urodynamic study was performed 1 week after the procedure. Only those animals that developed detrusor instability were included in the study (5 animals in each group). In group III, 0,5mg/Kg/d of oxybutinin was instilled inside the bladder during 30 days. After urodynamic study, animal and bladder weight, creatinin and urine culture were evaluated. All the animals were sacrificed and study electron microscopic evaluation was performed. Results - In group I, urodynamic study showed no alteration. In group II and III, 100% and 20% of the animals presented DI at the end of the study. Urinary tract infection was present in 80% and 40% in groups II and III respectively. Average bladder weight after sacrifice was higher in groups II and III than in group I. Electron microscopy showed an increase in intercelular space, changes in cell junctions, reduced caveolae area and changes in the mitochondria with celular degeneration in group II. In group III there was a reduction in intercelular spaces, symmetric cell junction, homogeneity in caveolae areas and return to normal mitochondrial density, similarly seen in group I. Conclusions - Ultrastructural... (Complete abstract click electronic access below)

Resumo não disponível.

Desenvolvemos, neste trabalho, as ferramentas fundamentais para a construção de um sistema de microscopia óptica de campo próximo (MOCP). O trabalho foi divido em duas partes, sendo a primeira dedicada à construção de nanoponteiras metálicas e a segunda à montagem do sistema de campo próximo. De nimos um conjunto de parâmetros que ajustam o método utilizado e que resultaram em nanoponteiras a adas com até 13, 3nm de diâmetro no ápice. Uma vez obtidas as ponteiras de prova, um sistema de aproximação baseado em materiais piezoelétricos foi desenvolvido. Por m, os parâmetros foram testados através de medidas que relacionam o sinal óptico detectado localmente com a distância entre a nanoponteira e a amostra. Também detectamos o sinal de segundo harmônico de uma fonte laser com pulsos de sub-picossegundos espalhado na extremidade da nanoponteira, comprovando a capacidade de utilizar o sistema de campo próximo com detecção de sinal óptico não linear. / We developed in this work the fundamental tools to set up a near- eld scanning optical microscopy (NSOM) system. The work was divide in two parts, where the rst was dedicated to construct metallic nanotips and the second to build the optical system. We set an amount of parameters that adjust the used method and results in sharp nanotips with 13, 3nm. Once we get the probe tips, an approach system based on piezoelectric materials was developed. Afterwards the parameters were tested by measurements that relate the optical signal locally detected with the distance between the nanotip and the sample. We also detected the second harmonic scattering of a sub-picosecond pulsed laser source from the nanotip apex to prove the ability of near- eld system to be used as a nonlinear optical detector.

SALOMÃO, F. C. C. S. Propriedades elétricas de óxido de grafeno por microscopia de varredura. 2015. 74 f. Tese (Doutorado em Física) - Centro de Ciências, Universidade Federal do Ceará, Fortaleza, 2015. / Submitted by Giordana Silva (giordana.nascimento@gmail.com) on 2016-10-04T20:40:45Z No. of bitstreams: 1 2015_tes_fccssalomao.pdf: 2245679 bytes, checksum: 541e217243b1e6f83eaeab66e3be652c (MD5) / Approved for entry into archive by Giordana Silva (giordana.nascimento@gmail.com) on 2016-10-04T20:41:08Z (GMT) No. of bitstreams: 1 2015_tes_fccssalomao.pdf: 2245679 bytes, checksum: 541e217243b1e6f83eaeab66e3be652c (MD5) / Made available in DSpace on 2016-10-04T20:41:08Z (GMT). No. of bitstreams: 1 2015_tes_fccssalomao.pdf: 2245679 bytes, checksum: 541e217243b1e6f83eaeab66e3be652c (MD5) Previous issue date: 2015 / Potential applications of nanomaterials such as graphene and its derivatives, in electronic devices led to a detailed study of their electronic properties. The graphene oxide also has been proposed for various applications, of which we highlight the applications in composite thin films with supercapacitors properties. However, many of the graphene oxide properties can vary from sample to sample, which poses as an important setback to technological application of this material. Furthermore, the characterization electric and dielectric properties on nanomaterials is also a challenging task, since most characterization techniques have been developed for films thicker than 200 nm, which is much thicker than the atomically thin layer of graphene oxide. In this work, we studied the electric and dielectric properties of graphene oxide flakes by scanning probe microscopy. We use electrostatic force microscopy (EFM) to estimate the surface charge density of a layer of graphene oxide, as well as the nature of these charges. We also use the Kelvin force microscopy (KPFM) to characterize transparent thin films based on graphene oxide and Cellulose Acetate. KPFM was also used to determine the surface potential of graphene oxide as a function of humidity. Finally, we have applied the capacitance gradient (dC/dz), which is obtained by measuring the second harmonic signal in EFM to calculate the dielectric constant of monolayer and few-layer graphene oxide. As the dielectric constant cannot be extracted directly from the measurements, we developed an analytical model to describe the electric signal (dC/dz) for the system and show that this model can be used to estimate the dielectric constant of monolayer and few-layer graphene oxide. / As potenciais aplicações de nanomateriais, como grafeno e seus derivados, em dispositivos eletrônicos motivou um estudo detalhado de suas propriedades eletrônicas. O Óxido Grafeno também têm sido proposto para várias aplicações, das quais podemos destacar a aplicação em compósitos de filmes finos que apresentem propriedades de supercapacitores. Entretanto, muitas das propriedades do óxido de grafeno podem variar de amostra para amostra, o que se apresenta como uma importante dificuldade para sua aplicação tecnológica. Além disso, a caracterização destas propriedades em nanomateriais também é uma tarefa desafiadora, uma vez que a maioria das técnicas de caracterização têm sido desenvolvidas para filmes com espessura acima de 200nm, a qual é muito mais espessa do que as camadas atomicamente finas do óxido de grafeno. Neste trabalho, estudamos as propriedades elétricas e dielétricas do óxido de grafeno por microscopia de varredura por sonda. Nós estimamos a densidade superficial de cargas do óxido de grafeno de uma camada, bem como a natureza destas cargas por microscopia de força eletrostática. Utilizamos a microscopia de força Kelvin (KPFM) para caracterizar filmes finos transparentes baseados em Óxido de Grafeno e Acetato de Celulose. Utilizamos também KPFM para determinar o potencial de superfície do óxido de grafeno em função da umidade do ar. Finalmente, utilizamos o gradiente da capacitância (dC/dz), que é obtido através do segundo harmônico em EFM, para calcular a constante dielétrica do óxido de grafeno de uma camada e algumas camadas. Como a constante dielétrica não pode ser extraída diretamente das medidas, nós desenvolvemos neste trabalho um modelo analítico para descrever o sinal elétrico de (dC/dz) e mostramos que o este pode ser utilizado para estimar a constante dielétrica do óxido de grafeno monocamada e de algumas camadas.

Made available in DSpace on 2014-06-11T19:31:07Z (GMT). No. of bitstreams: 0 Previous issue date: 2013-08-26Bitstream added on 2014-06-13T19:01:27Z : No. of bitstreams: 1 000737176.pdf: 2233924 bytes, checksum: be9f98eec022d58f2c75519afa00ec37 (MD5) / Coordenação de Aperfeiçoamento de Pessoal de Nível Superior (CAPES) / Objetivos: Avaliar o comportamento corrosivo da liga Ti-6Al-4V em função de sua superfície polida ou condicionada por meio de duplo ataque ácido, em simulador de fluidos corporais (SFC) com diferentes concentrações de dextrose (0; 5mM; 7,5 mM e 15 mM) e lipopopolissacarídeo (LPS) (0; 0,15 μg/mL; 15 μg/mL; 150 μg/mL), usados isolados ou associados. Materiais e Métodos: Discos de liga Ti-6Al-4V (2 mm de espessura e 15 mm de diâmetro) foram confeccionados com diferentes padrões de superfície. Para o ensaio eletroquímico (n=3), testes padrões como potencial de circuito aberto, espectroscopia de impedância eletroquímica (EIE) e teste potenciodinâmico foram conduzidos em solução de fluido corpóreo (SBF) com diferentes concentrações de dextrose e LPS. As superfícies dos discos foram caracterizadas pela microscopia eletrônica de varredura (MEV), microscopia de força atômica (MFA), e por meio da rugosidade de superfície e da microdureza. Os dados quantitativos foram analisados pelo teste de correlação de Pearson e T-teste independente, com nível de significância de 5%. Resultados: Nos parâmetros de corrosão, houve forte correlação do LPS com os valores de Ipass (densidade de corrente de passivação), Cdl (capacitância) e Rp (resistência de polarização) (p<0,05) para o titânio (Ti) com tratamento de superfície por duplo ataque ácido. A associação de dextrose e LPS foi correlacionada com Icorr (densidade de corrente de corrosão) e Ipass (p<0,05). Em relação à cinética de corrosão, os grupos tratados com ácido apresentaram aumento significante nos valores de Cdl e redução nos valores de Rp (P<0,05, T-teste). Quanto à topografia, houve aumento da rugosidade de superfície para ambas as superfícies (R2=0,726, p=0,0001 para Ti polido; R2=0,405, p=0,036 para Ti ácido). A microdureza do Ti polido diminuiu (p<0,05) e do Ti ácido aumentou (p=0,0001). A MFA... / Objectives: To analyse the corrosion behavior of Ti-6Al-4V with different surfaces (machined and modified by treatment with double acid-etching), on simulator body fluids (SBF) with different concentrations of dextrose (0; 5 mM, 7.5 mM and 15 mM) and lipopolysaccharide (LPS) (0; 0.15 μg/mL; 15 μg/mL; 150 μg/mL), used isolated or in combination. Materials and Methods: Ti-6Al-4V disks (2 mm in thickness and 15 mm in diameter) were fabricated with different surfaces. For electrochemical assay (n = 3), open circuit potential, electrochemical impedance spectroscopy (EIS) and potentiodynamic tests were conducted in SBF with different concentrations of dextrose and LPS. The surfaces of the disks were characterized by scanning electron microscopy (SEM), atomic force microscopy (AFM) and by surface roughness and microhardness. Data were analyzed by Pearson correlation and independent t-test at a significant level of 5%. Results: For the corrosion parameters, a strong correlation of LPS with Ipass (passivation current density), Cdl (capacitance) and Rp (polarization resistance) values (P <.05) for Ti surface treated by double acid- etching was noted. The combination of dextrose and LPS was correlated with Ipass and Icorr (corrosion current density) (P <.05). Regarding the corrosion kinetics the acid-treated groups showed significant increase in Cdl values and reduced values of Rp (P <.05, T-test). In terms of topography, there was an increase in surface roughness for both surfaces (R2 = 0.726, p = 0.0001 for machined Ti, R2 = 0.405, p = 0.036 for Ti acid). The machined Ti exhibited reduction in microhardness (P <.05), while Ti acid showed increased microhardness (p = 0.0001) vs baseline. The AFM showed changes in the microstructure of Ti by increasing the thickness of surface mainly in the association of dextrose and LPS. Conclusions: The combination of dextrose ...

Dissertação (mestrado)—Universidade de Brasília, Instituto de Física, Programa de Pós-Graduação em Física, 2017. / Submitted by Fernanda Percia França (fernandafranca@bce.unb.br) on 2017-04-06T18:08:38Z No. of bitstreams: 1 2017_EdgarDavidGuarinCastro.pdf: 13967221 bytes, checksum: 5cf464b7be6dd878aa1766e53fd3f994 (MD5) / Approved for entry into archive by Raquel Viana(raquelviana@bce.unb.br) on 2017-04-17T17:33:19Z (GMT) No. of bitstreams: 1 2017_EdgarDavidGuarinCastro.pdf: 13967221 bytes, checksum: 5cf464b7be6dd878aa1766e53fd3f994 (MD5) / Made available in DSpace on 2017-04-17T17:33:19Z (GMT). No. of bitstreams: 1 2017_EdgarDavidGuarinCastro.pdf: 13967221 bytes, checksum: 5cf464b7be6dd878aa1766e53fd3f994 (MD5) / O presente trabalho expõe um estudo estrutural e magnético feito em filmes policristalinos de FeNi sobre substratos de Si. Medidas de energia dispersiva de raios X indicaram concentrações relativas de 64% para o ferro e 36% para o níquel, o que significa que os filmes possuem a concentração Invar, fenômeno caracterizado pela queda do coeficiente de dilatação da liga até valores muito baixos. Estudos experimentais mostram que este fenômeno deve estar fortemente vinculado com a estrutura magnética das ligas, mas os modelos teóricos ainda não conseguem explicar completamente a relação entre suas propriedades magnéticas e mecânicas, motivando continuados estudos sobre suas propriedades magnéticas. Nesta pesquisa foi proposto estudar e analisar a configuração micromagnética para três filmes de FeNi na concentração Invar, para três diferentes espessuras (30, 70 e 140 nm), por meio de técnicas experimentais como a magnetometria e a microscopia de força magnética (MFM), assim como por meio do uso de simulações computadorizadas, para oferecer mais bases experimentais que contribuam na compreensão dos fenômenos presentes nas ligas Invar. Os resultados revelaram inomogeneidades magnéticas causadas pela policristalinidade dos filmes. As amostras também manifestaram um comportamento ferromagnético mole, com magnetizações de saturação e anisotropias efetivas crescentes com o aumento das espessuras. Os resultados também mostraram uma grande influência da anisotropia de forma que faz com que os filmes sejam facilmente magnetizados no plano. Finalmente, com base nas medidas de magnetometria, a estrutura micromagnética dos filmes foi mapeada por medidas de MFM e posteriormente simulada com o software MuMax3. Os mapas revelaram domínios com magnetizações locais paralelas à superfície dos filmes, enquanto que as paredes possuem uma estrutura tipo Bloch, principalmente no interior dos filmes mais grossos. Deste modo, percebe-se que a anisotropia do material define eixos fáceis de magnetização no plano dos filmes, por causa da anisotropia de forma, que obriga às paredes de domínio a se distribuírem nos filmes, formando padrões de ziguezague irregulares na superfície. / The present work reports structural and magnetic study of FeNi polycrystalline films on Si substrates. X-ray dispersive energy measurements indicated relative concentrations of 64% iron and 36% nickel, which means that the films present Invar concentration, a phenomenon characterized by the decrease of the thermal expansion coefficient of the alloy to very low values. Experimental studies show that this phenomenon is strongly related to the magnetic structure of the alloys, but current theoretical models still cannot fully explain the relation between magnetic and mechanical characteristics of Invar alloys, motivating continued studies on their magnetic properties. In this research, the micromagnetic configuration for three FeNi films in Invar concentration and three different thicknesses (30, 70 and 140 nm) is analyzed according to their thicknesses. Experimental techniques such as SQUID magnetometry and Magnetic Force Microscopy (MFM) were used, as well as computer simulations, to offer more experimental bases that contribute to the understanding of the phenomena present in FeNi36 Invar alloys. Results revealed magnetic inhomogeneities caused by film polycrystallinity. The samples also showed a soft ferromagnetic behavior, with increasing saturation magnetizations and effective anisotropies with increasing thicknesses. Results also showed a great influence of shape anisotropy so that the films are easily magnetized in-plane. Finally, magnetometry measurements were complemented by micromagnetic structure mapping by Magnetic Force Microscopy, the resulting magnetic images were later simulated with the software MuMax3. The maps revealed domains with local magnetizations parallel to the surface of the films, while the walls have a Bloch-like structure, mainly inside the thicker films. In this way, the anisotropy of the material defines an easy axis of magnetization in the plane of the films, because of the shape anisotropy, which forces the domain walls to distribute in the films, forming irregular zigzag like patterns on the surface.