Orientador: Augusto Ruy de Oliveira Pinto / Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Faculdade de Engenharia de Campinas / Made available in DSpace on 2018-07-14T00:48:33Z (GMT). No. of bitstreams: 1 Albuquerque_LourivalLinsde_M.pdf: 1582783 bytes, checksum: bccadba455bf4ae00e71486d37fe9374 (MD5) Previous issue date: 1986 / Resumo: O presente trabalho tem corno objetivo principal o projeto e a construção de um gerador de raios-X de laboratório para uso industrial. A construção e o estudo feitos tem a sua justificativa no fato de haver grandes dificuldades para importação de equipamentos similares, pela necessidade do uso de aparelhos de difração de raios-X, relativamente simples e robustos na indústria brasileira. Finalmente, pela constatação feita neste estudo de que esses aparelhos Podem, com exceção do tubo de raios-X, serem construídos inteiramente no Brasil com meios relativamente modestos. Os testes foram satisfatórios. O equipamento foi projetado, construído e testado no Laboratório de Cristalografia do Instituto de Física Gleb Wataghin da Unicamp, operando sob tensão de 40 KV, corrente de 20 mA.. A avaliação de seu desempenho foi feita pela técnica de Laue, empregando-se um diagrama de difração de um cristal de silício orientado na direção [111]. Foi feito, também, um diagrama de difração de raios-X do mesmo cristal, pelo método de retro-reflexão, utilizando-se filme Polaroid. / Abstract: The present work has as the main objective the design and the construction of a laboratory X-ray generator for industrial purposes. The construction and the study done has its justification on the fact that there are many difficulties for the importation of similar equipments, and by the necessity of the apparatus of X-ray diffraction not so sofisticated in the Brazilian industry, and finally by the possibility of construction of this equipment in Brazil, except the X-ray tube. The prototype was designed, built and tested in the Crystallography Laboratory of Instituto de Física Gleb Wataghin of Unicamp. The results of tests were satisfactory. The equipment is operated at 40 KV and 20 mA. Experimental results obtained in this generator were made by back-reflection Laue pattern of silicon cristal on the orientation [111]. / Mestrado / Mestre em Engenharia Mecânica

Orientador : Nivaldo Gonçalves / Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Faculdade de Odontologia de Piracicaba / Made available in DSpace on 2018-07-14T01:12:41Z (GMT). No. of bitstreams: 1 BragaJunior_DewelLomonaco_M.pdf: 1235003 bytes, checksum: d9d88e8043244fce868689db1eef186b (MD5) Previous issue date: 1991 / Resumo: Não informado / Abstract: Not informed. / Mestrado / Radiologia Odontologica / Mestre em Odontologia

Orientador: Frab Norberto Boscolo / Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Faculdade de Odontologia de Piracicaba / Made available in DSpace on 2018-07-14T02:20:12Z (GMT). No. of bitstreams: 1 Souza_JoaoGeraldoMartinsde_M.pdf: 1939298 bytes, checksum: db33f1f8c25e3f28983e120355828c46 (MD5) Previous issue date: 1992 / Resumo: O presente estudo teve o propósito de determinar a proporção ideal do mineral barita em argamassa de revestimento. E a espessura necessária e equivalente à espessura de chumbo para barrar ou absorver raios-X de aproximadamente 30keV de energia efetiva, para blindagens em clinicas de radiologia odontológica. Foram confeccionados blocos de argamassa baritada com 150x150mm e espessuras de 1.4 a 15.1mm. Foi utilizado como fonte de radiação um a aparelho GE 100 modelo A0061. Os feixes incidentes e emergentes de radiação, foram medidos por meio de dosimetros termoluminescentes de Fluoreto de Litio 700, e por câmara de ionização e eletrometro Victoreen modelos 600-4 e 600 respectivamente, e ainda foi feito um cálculo teórico a partir dos elementos componentes da argamassa, para uma comparação com os resultados nos testes. Os resultados evidenciaram que a barita, numa proporção de 60%, em relação aos demais componentes da argamassa estudada, para raios-X de aproximadamente 30keV de energia efetiva (93.7 kVp), foi obtido por meio de um fator de conversão de 5.6 da espessura da argamassa para espessura necessária de chumbo. A camada semi-redutora (HVL) da argamassa baritada foi de 1.24mm e a camada semi-redutora (HVL) do chumbo foi de O.22mm. Assim sendo, para cada milímetro de chumbo seria necessário 5.6mm da argamassa de revestimento para uma proteção eficiente / Abstract: The present paper has the aim of determine the ideal portion of baryte mineral in plaster and the necessary equivalent thickness of plumbum to absorb or stop x-rays in nearly 30keV effective energy, in isolating odontological clinics. Baryte plaster boards were made at 150x150mm and from 1.4 to 15.1mm of thick. As a radiation source, a GE 100, model A0061 device was used. The incidental and emergent radiadion beams were measured with Lithium Fluoride 700 dosimeter and ionization chamber and Victoreen electrometer models 600-4 and 600 respectively. A theo cal calculus was also done from the plaster compound elements for a testing result comparison. The results highlighted that baryte in 60% portion related to the other studied plaster compounds for x-rays nearly 30keV effective energy (93.7kVp) was obtained through a convertion factor of 5.6 in the plaster thickness for the plumbum necessary thickness. The baryte plaster half-value-layer (HVL) was 1.24mm and the plumbum half-value-layer was 0.22mm. Hence, for each plumbum milimeter it would be necessary 5.6mm of plaster for an efficient protection / Mestrado / Radiologia / Mestre em Odontologia

Orientador: Gilberto de Matos Gualberto / Tese (doutorado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin / Made available in DSpace on 2018-07-14T03:52:45Z (GMT). No. of bitstreams: 1 Silva_MarioPereirada_D.pdf: 4699834 bytes, checksum: bbaf01ffdf5d8b0a44359041000614d1 (MD5) Previous issue date: 1989 / Resumo: Foram preparadas amostras de Compostos de Grafite Intercalados (CGI) com os intercalantes aceitadores FeCl3 e ZnCl2, tendo como hospedeiro, grafite pirolítico altamente orientado(HOPO). Os difratogramas de raio-X revelam importantes informações estruturais, tais como, a distância repetida entre as camadas intercaladas e o estágio n do composto. Os resultados da difração de raio- X, junto com os valores de Ic para a reflexão de máxima intensidade, foram usados como método de identificação dos CGI-FeCl3, n = 1,2,3,4,5,6 e 11 e ainda dos CGI-ZnCl2, n=4 e 5. Medidas de resistividade elétrica no eixo-c nos CGI-FeC13, estágios 1-6 e 11, e no CGI-ZnCl2 n=4, realizadas em função da temperatura entre 4.2 e 300K, revelam os seguintes aspectos: A resistividade de todos os compostos é maior do que aquela do HOPO. Uma dependência inteirament metálica é observada para os estágios 1-4 do CGI-FeCl3. Estágios mais altos do CGI-FeCl3, 5-6, e o composto de ZnCl2, mostram essa dependência apenas em altas temperaturas; quando a temperatura decresce, observa-se uma passagem para uma dependência ativada da resistividade. Propõe-se que a condução no eixo-c, se dá através de mecanismos de "Hopping" ativados por fonons e impurezas. Uma transição do tipo ordem-desordem foi observada para os dois compostos. No CGI-FeCl3, a transição acompanhada de uma histories característica de um processo irreversível em 120 £ T £ 160K. Medidas de magnetoresistência transversa mostram que na região de baixos campos, a sua dependência com o campo magnético difere substancialmente, daquela prevista pelo modelo de bandas. 0 valor da magnetoresistência para o CGI-FeCl3 varia com o estágio e possui um mínimo para n=5. Oscilações na magnetoresistência também foram encontradas para o mesmo composto. Este comportamento complexo baseia-se na influência do campo magnético e da temperatura nas flutuações de magnetização produzidas por Impurezas e deslocações, por polarização de spins e pela concentração de portadores / Abstract: Samples of Intercalation Graphite Compounds (GIC) were prepared using Highly Oriented Pyrolytic Graphite (HOPG) as a host material. X-ray diffractograms reveal important structural information, such as the repeated distance between the intercalated layers and the stage n. X-ray diffraction, together with the Ic values for the reflection with maximum intensity were used as a method for stage identification of the acceptors GIC-FeCl3, n = 1,2,3,4,5,6 and 11, and also GIC-ZnCl2, n = 4 and 5. C-axis Electrical resistivity measurements for GIC-FeCl3, stages 1-6 and 11, and for GIC-ZnCl2, 4-stagged, as the temperature changes in the 4.2 and 300K range, show the following the resistivity of the compounds is larger than that of HOPG. An entirely metallic temperature dependence is observed for stages 1-4 GIC-FeCl3. GIC-FeCl3 higher stages and GIC-ZnCl2, show this behavior only at high temperature as the temperature decreases one observes a crossover to an activated dependence of the resistivity. The model for the fonon-assisted and impurity-assisted hopping conduction to account for the c-axis conduction. An order-disorder like transition is observed for both compounds. The GIC-FeCl3 transition is followed by a histeresis that characterizes an irreversible process for 120 £ T £ 160K. Transverse magnetoresistance measurements show that in the low field range, the magnetic field dependence is significantly different from a band-like dependence. Magnetoresistance values for GIC-FeCl3 show a minimum for n = 5. A magnetoresistance with an oscillatory behavior was observed for these compounds. An explanation of this complex behavior is based on the influence of magnetic field and temperature on the fluctuations of magnetization produced by impurities and dislocations, the spin-polarization of carriers, and the carrier concentration in the compound / Doutorado / Física / Doutor em Ciências

Made available in DSpace on 2014-06-12T23:17:09Z (GMT). No. of bitstreams: 2 arquivo9131_1.pdf: 831093 bytes, checksum: 2cc080afeb09dcde8a47b4817e2ca483 (MD5) license.txt: 1748 bytes, checksum: 8a4605be74aa9ea9d79846c1fba20a33 (MD5) Previous issue date: 2007 / O aumento do uso da tomografia computadorizada (CT) na prática médica e a dose relativamente alta proporcionada ao paciente fazem da CT um forte contribuinte na dose populacional em radiologia médica. Portanto, existe a necessidade de avaliar e otimizar as doses de radiação em CT para os pacientes submetidos a essa técnica de radiodiagnóstico. A dosimetria atual é baseada na medida da integral do perfil de dose para um único corte utilizando uma câmara de ionização de 100 mm de extensão. Contudo, um sistema alternativo tem sido sugerido através da utilização de detectores menores. Nesse trabalho, o fototransistor OP520 foi proposto para avaliar a dose em raios-X de tomógrafo. Inicialmente, foi feita a caracterização do fototransistor em laboratório e no hospital. Em seguida, o detector foi utilizado no tomógrafo para avaliar o perfil de dose de um único corte no ar e num simulador de cabeça. Essas medidas foram feitas transladando o fototransistor através do feixe, utilizando múltiplas rotações da fonte e diferentes extensões de varredura. Os resultados da caracterização do fototransistor mostraram que o dispositivo apresenta resposta similar a do detector padrão para diferentes potenciais de tubo no experimento com o tomógrafo. As respostas em função da dose e da taxa de dose apresentaram comportamento linear, com coeficientes de determinação maiores que 0,95. A dependência angular foi expressiva nas irradiações em laboratório, mas no tomógrafo essa dependência foi menor que 3%. Os resultados das medidas do perfil de dose mostraram que o sensor pode ser utilizado para determinar os detalhes da distribuição de dose de um único corte em CT. Ao utilizar uma varredura de 100 mm de extensão, os perfis de dose obtidos com os fototransistores foram comparados com indicadores convencionais de dose no paciente em CT obtidos com a câmara de ionização: o índice de dose em tomografia computadorizada (CTDI) e o CTDI ponderado (CTDIw). A partir daí, obtiveram-se fatores de conversão para converter a medida em nC para dose em mGy e os indicadores puderam ser obtidos utilizando o fototransistor. Efetuando uma varredura de 150 mm de extensão, ao invés dos 100 mm usual, foi observado que existe dose além do comprimento da câmara de ionização em concordância com a opinião de alguns autores de que a dosimetria atual pode deixar de ser adequada

Made available in DSpace on 2014-06-12T23:17:12Z (GMT). No. of bitstreams: 2 arquivo9144_1.pdf: 3156807 bytes, checksum: ebc1b2dd0ca618f4365059d070cee4c4 (MD5) license.txt: 1748 bytes, checksum: 8a4605be74aa9ea9d79846c1fba20a33 (MD5) Previous issue date: 2007 / Este trabalho apresenta um estudo inicial a respeito da utilização de fototransistores bipolares de junção como dispositivo de medição de energias de fótons de raios-X na faixa de diagnóstico. O fototransistor é analisado a partir da resposta da corrente de coletor em função da corrente de base durante a irradiação do dispositivo com fótons de raios-X. O mecanismo de detecção baseia-se no fato de que diferentes energias de fótons interagem com o fototransistor a partir de diferentes ganhos de corrente de coletor. A resposta da corrente de coletor em função da corrente de base durante a irradiação serve como dado de entrada para calcular a distribuição de energias detectada pelo fototransistor, a partir de um algoritmo que se baseia nesse mecanismo de detecção. Curvas de degradação também são utilizadas nessa análise, no intuito de mostrar aspectos variacionais dos parâmetros do fototransistor como semicondutor. Ainda são mostradas curvas de conformidade, em que para uma mesma configuração, as leituras das medições devem ser repetidas ou apresentarem flutuações mínimas. Como resultado do método, algumas curvas de distribuição de energia de raios-X para filtração com alumínio e sem filtração adicional foram obtidas. Essas distribuições obtidas se aproximaram razoavelmente de espectros de energia obtidos para o germânio hiperpuro, o que demonstra a aplicabilidade do método, embora o fototransistor apresente não-linearidades não compensadas na medição, o que contribuiu com o breve distanciamento dos espectros de energia obtidos com o germânio

Orientador: Iris C. L. de Torriani / Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin / Made available in DSpace on 2018-07-15T17:20:58Z (GMT). No. of bitstreams: 1 Souza_ChristinaFrancode_M.pdf: 1410000 bytes, checksum: af0d3432ec49bab21c8dadf504e39805 (MD5) Previous issue date: 1984 / Resumo: Neste trabalho apresentamos um estudo sistemático da difração de raios X a alto e baixo ângulos produzida por multicamadas úmidas de dipalmitil lecitina (DPL) com incorporação de pireno em concentrações que variaram entre as relações moleculares 5:1 (DPL: pireno) e 100:1. O pireno é um composto aromático muito usado em espectroscopia de fluorescência como sonda da região hidrofóbica de membranas celulares e artificiais. Tem sido observado que moléculas do tipo do pireno possuem uma certa mobilidade em bicamadas lipídicas. Portanto, ê interessante saber que perturbações elas produzem na região das cadeias acílicas e se há agregação do pireno dentro da bicamada. Nos diagramas de difração obtidos, as reflexões devidas às lamelas permitiram determinar as variações na espessura da bicamada em função da concentração de pireno. O halo correspondente ã difração das cadeias acílicas mostra mudanças devidas aos diferentes graus de ordenamento. Para altas concentrações de pireno, observamos a difração devida aos agregados cristalinos. Os perfis de densidade eletrônica unidimensionais na direção normal ao plano das bicamadas refletem todas estas mudanças e nos permitem sugerir um mecanismo de saturação para o pireno na bicamada. / Abstract: In this work we present the results of a systematic study of high angle and low angle X-ray diffraction from hydrated dipalmitoyl lecithin (DPL) multilayers with pyrene incorporated in concentrations varying between the molecular ratios 5:1 (DPL: pyrene) e 100:1. Pyrene is an aromatic compound extensively used in fluorescence spectroscopy as a probe of the hydrophobic region of cell membranes and model systems. It has been pointed out that pyrene and similar molecules have a certain mobility in lipid bilayers. Consequently, it is interesting to know which perturbations they will produce in the acyl chain region and if there is aggregation of pyrene inside the bilayer. The diffraction patterns obtained showed the reflections due to the lamelae, from which we could determine the changes in bilayer thickness as a function of pyrene concentration. The halo corresponding to the diffraction of the acylic chains shows changes due to the different degree of order. For high concentrations of pyrene we observe the diffraction due to the crystalline aggregates. The one-dimensional electron density profiles in the direction normal to the plane of the bilayers reflects all these changes and allows us to suggest a saturation mechanism for the pyrene in the bilayer / Mestrado / Física / Mestre em Física

Orientador: Stephenson Caticha-Ellis / Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin / Made available in DSpace on 2018-07-16T07:30:51Z (GMT). No. of bitstreams: 1 Sasaki_JoseMarcos_M.pdf: 3025296 bytes, checksum: 791fc68ece43cd487dba308cda662452 (MD5) Previous issue date: 1988 / Resumo: O problema da fase dos feixes de raios-X difratados é um dos maiores problemas da Cristalografia de Raios-X desde a descoberta de Laue e a resolução das primeiras estrutura por Bragg. Neste trabalho é desenvolvido um método teórico, baseado na teoria dinâmica de difração dos raios-X, para análise da intensidade de difração múltipla com o objetivo de obter informações sobre as fases num caso de difração múltipla de N-feixes com N > 3. Faz-se uso de comprimento de onda acima da borda de absorção dos átomo mais pesado. A aproximação de Bethe de segunda ordem, o tratamento de Juretschke e o estudo da superfície de dispersão é empregado para desenvolver uma análise gráfica para o problema da fase de muItos feixes. Será demonstrado que a fase pode ser diretamente determinado da intensidade para N-feixes / Abstract: Not informed. / Mestrado / Física / Mestre em Física

Orientador: Stephenson Caticha Ellis / Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin / Made available in DSpace on 2018-07-17T06:53:03Z (GMT). No. of bitstreams: 1 PortugalPostigo_RembertoJose_M.pdf: 3689329 bytes, checksum: b8c02fdea8eb1f616c8f874585f68792 (MD5) Previous issue date: 1979 / Resumo: A sensibilidade S da medida de parâmetros de rede por meio da Difração múltipla ( D.M. ) de raios-X ( S. Caticha Ellis, Japan J. Appl. Phys. (1975), 14, 603-611 ) é dada por: S = 1/( gtanf cos2q1 ), onde g = /a, q1 o ângulo de Bragg para a reflexão primária, e f o ângulo formado pelo vetor reciproco H da reflexão secundária; com o plano de incidência quando H está em posição de reflexão: Pares de Reflexões múltiplas com S alto foram escolhidos e o valor do parâmetro a calculado a partir da diferença angular azimutal entre cada par. Para mono-cristais de Germânio, CuKa1 e reflexão primária ( 222 ), foram escolhidos os seguintes pares de picos : (135') ( 315' ), ( 5'13 ) ( 5'31 ), ( 11'7 ) ( 1'17 ) e ( 711' ) ( 71'1 ) todos eles verificam; 1 ) o ângulo f é o mais pequeno dando então o maior valor de S. 2 ) A separação angular da posição dos picos para cada um destes pares é de aproximadamente 0,22°, que pode ser medida diretamente. 3 ) Os quatro pares envolvem só reflexões fracas. Assim. sendo, deslocamentos dos picos devido a interações dinâmicas não são levadas em conta. O experimento foi realizado usando um gerador microfoco ajustado para se ter um foco pontual de raios-X de 50 x 50 mm, monocromatizados por um cristal curvo de quartzo ( 101'1 ). A separação angular de cada par de reflexões foi medida girando o cristal com uma velocidade de 0,003 °/min com um erro de aproximadamente 10-5 °/min. São apresentados resultados para um cristal perfeito e para um imperfeito / Abstract: The sensitivity s of the measurement of lattice parameter by means of multiple diffraction ( MD ) of X-rays ( S. Caticha-Ellis, Jap, J. App1. Phys. ( 1975 ), 14, 603-611 ) is given by S = 1/( gtanf cos2q1 ), where g = /a, q1 is the Bragg angle for the primary reflection and f is the angle formed by the RELV H of the secondary reflection with the plane of incidence when H is in a reflecting position. Pairs of MD reflections with high S were chosen and the value of the parameter a calculated from the azimutal angle difference within each pair. For Ge single crystals, CuKa1 and primary reflection 222, the following four pairs were chosen: ( 135' ) ( 315' ), ( 5'13 ) ( 5'31 ), ( 11'7 ) ( 1'17 ) and ( 711' ) ( 71'1 ). All of them verify: 1 ) the angle f is the lowest thus giving the highest S. 2 ) The angular separation of the peak positions for the each of these pairs is about 0,22 degree so that it can be measured directly. 3 ) The four pairs involve only weak reflections so that the peak-shift due to dynamical interactions need not be considered. The experiments were performed by using a microfocus 50 x 50 mm point source of X-rays monochromatized by a curved quartz ( 1011 ) crystal. The angular separation of each pair of reflections was measured by rotat.ing the crystal at a speed of 0,003 deg/min with an error of about 10-5 deg/min. Results for perfect and imperfect crystals are reported. / Mestrado / Física / Mestre em Física

Orientador: Carola Dobrigkeit Chinellato / Dissertação (mestrado) - Universidade Estadual de Campinas, Instituto de Fisica Gleb Wataghin / Made available in DSpace on 2018-07-18T07:15:02Z (GMT). No. of bitstreams: 1 Marques_AntonioLuizFernandes_M.pdf: 2362696 bytes, checksum: 7c202163d926993db9c6b3135f451246 (MD5) Previous issue date: 1993 / Resumo: O mecanismo mais eficiente para se gerar fótons com energia da ordem de 100 MeV ou acima é o espalhamento Compton inverso de luz de laser por elétrons relativisticos. Pode-se elevar a energia dos fótons emitidos aumentando-se a energia dos elétrons (o que encarece muito os experimentos) ou a energia do fóton. S. Caticha-Ellis sugeriu (1983) que um feixe intenso de raios X pode ser obtido pela retrodifração da radiação sincrotron em um cristal, abrindo assim a possibilidade de se gerar fótons duros pelo espalhamento Compton inverso da própria radiação sincrotron. Dessa forma os fótons emitidos podem ter energias maiores do que a energia do feixe de elétrons (vários GeV), sendo altamente colimados e não polarizados. Esses fótons podem ser usados em experiências de física nuclear e para se testar a eletrodinâmica quântica / Abstract: The most efficient mechanism to generate photons in the 100 MeV energy range is by Inverse Compton scattering (ICS) of laser from relativistic electron. The energy of the emitted photons can be increased by raising either the energy of the electron, which is very expensive, or that of the photon. with the suggestion (S. Caticha-Ellis, 1983) that intense X-ray beams could be obtained by back-reflecting synchrotron radiation using a crystal diffracting at normal incidence, the possibility is now open of generating very hard photons by ICS of the synchrotron radiation itself. The photons emitted in this way will have energies ranging all the way up to the electron beam energy (up to the several GeV), will be non-polarized and highly collimated. The photons may be used to study phenomena of quantum electrodynamics and nuclear physics / Mestrado / Física / Mestre em Física