O avanço das tecnologias de circuitos integrados (CIs) levanta importantes questões relacionadas à confiabilidade e à robustez de sistemas eletrônicos. A diminuição da geometria dos transistores, a redução dos níveis de tensão, as menores capacitâncias e portanto menores correntes e cargas para alimentar os circuitos, além das freqüências de relógio elevadas, têm tornado os CIs mais vulneráveis a falhas, especialmente àquelas causadas por ruído elétrico ou por efeitos induzidos pela radiação. Os efeitos induzidos pela radiação conhecidos como Soft Single Event Effects (Soft SEEs) podem ser classificados em: Single Event Upsets (SEUs) diretos em nós de elementos de armazenagem que resultam em inversões de bits; e pulsos transientes Single Event Transients (SETs) em qualquer nó do circuito. Especialmente SETs em circuitos combinacionais podem se propagar até os elementos de armazenagem e podem ser capturados. Estas errôneas armazenagens podem também serem chamadas de SEUs indiretos. Falhas como SETs e SEUs podem provocar erros em operações funcionais de um CI. Os conhecidos Soft Errors (SEs) são caracterizados por valores armazenados erradamente em elementos de memória durante o uso do CI. SEs podem produzir sérias conseqüências em aplicações de CIs devido à sua natureza não permanente e não recorrente. Por essas razões, mecanismos de proteção para evitar SEs através de técnicas de tolerância a falhas, no mínimo em um nível de abstração do projeto, são atualmente fundamentais para melhorar a confiabilidade de sistemas. Neste trabalho de dissertação, uma versão tolerante a falhas de um microprocessador 8-bits de produção em massa da família M68HC11 foi projetada. A arquitetura é capaz de tolerar SETs e SEUs. Baseado nas técnicas de Redundância Modular Tripla (TMR) e Redundância no Tempo (TR), um esquema de proteção foi projetado e implementado em alto nível no microprocessador alvo usando apenas portas lógicas padrões. O esquema projetado preserva as características da arquitetura padrão de tal forma que a reusabilidade das aplicações do microprocessador é garantida. Um típico fluxo de projeto de circuitos integrados foi desenvolvido através de ferramentas de CAD comerciais. Testes funcionais e injeções de falhas através da simulação de execuções de benchmarks foram realizados como um teste de verificação do projeto. Além disto, detalhes do projeto do circuito integrado tolerante a falhas e resultados em área, performance e potência foram comparados com uma versão não protegida do microprocessador. A área do core aumentou 102,64 % para proteger o circuito alvo contra SETs e SEUs. A performance foi degrada em 12,73 % e o consumo de potência cresceu cerca de 49 % para um conjunto de benchmarks. A área resultante do chip robusto foi aproximadamente 5,707 mm². / The advance of the IC technologies raises important issues related to the reliability and robustness of electronic systems. The transistor scale by shrinking its geometry, the voltage reduction, the lesser capacitances and therefore smaller currents and charges to supply the circuits, besides the higher clock frequencies, have made the IC more vulnerable to faults, especially those faults caused by electrical noise or radiationinduced effects. The radiation-induced effects known as Soft Single Event Effects (Soft SEEs) can be classified into: direct Single Event Upsets (SEUs) at nodes of storage elements that result in bit flips; and Single Event Transient (SET) pulses at any circuit node. Especially SETs on combinational circuits might propagate itself up to the storage elements and might be captured. These erroneous storages can be also called indirect SEUs. Faults like SETs and SEUs can provoke errors in functional operations of an IC. The known Soft Errors (SEs) are characterized by values stored wrongly on memory elements during the use of the IC. They can make serious consequences in IC applications due to their non-permanent and non-recurring nature. By these reasons, protection mechanisms to avoid SEs by using fault-tolerance techniques, at least in one abstraction level of the design, are currently fundamental to improve the reliability of systems. In this dissertation work, a fault-tolerant IC version of a mass-produced 8-bit microprocessor from the M68HC11 family was designed. It is able to tolerate SETs and SEUs. Based on the Triple Modular Redundancy (TMR) and Time Redundancy (TR) fault-tolerance techniques, a protection scheme was designed and implemented at high level in the target microprocessor by using only standard logic gates. The designed scheme preserves the standard-architecture characteristics in such way that the reusability of microprocessor applications is guaranteed. A typical IC design flow was developed by means of commercial CAD tools. Functional testing and fault injection simulations through benchmark executions were performed as a design verification testing. Furthermore, fault-tolerant IC design issues and results in area, performance and power were compared with a non-protected microprocessor version. The core area increased by 102.64 % to protect the target circuit against SETs and SEUs. The performance was degraded in 12.73 % and the power consumption grew around 49 % for a set of benchmarks. The resulting area of the robust chip was approximately 5.707 mm².

Este trabalho apresenta uma ferramenta configurável, denominada de CFT-tool, capaz de aplicar automaticamente técnicas de detecção de erros em software com o objetivo de proteger processadores com diferentes arquiteturas e organizações contra falhas transientes no hardware. As técnicas baseadas em redundância e comparação são aplicadas pela CFT-tool no código assembly de um programa desprotegido, compilado para a arquitetura alvo. A ferramenta desenvolvida foi validada utilizando dois processadores distintos: miniMIPS e LEON3. O processador miniMIPS foi utilizado para verificar a eficiência, em termos de taxa de detecção de erros, tempo de execução e ocupação de memória, das técnicas de detecção em software aplicadas pela CFT-tool, comparando os resultados obtidos com os presentes na literatura. O processador LEON3 foi selecionado por ser amplamente utilizado em aplicações espaciais e por ser baseado em uma arquitetura diferente da arquitetura do processador miniMIPS. Com o processador LEON3 é verificada a configurabilidade da CFT-tool, isto é, a capacidade dela de aplicar técnicas de detecção em software em um código compilado para um diferente processador, o mantendo funcional e sendo capaz de detectar erros. A CFT-tool pode ser utilizada para proteger programas para outras arquiteturas e organizações através da modificação dos arquivos de configuração da ferramenta. A configuração das técnicas é definida segundo as especificações da aplicação, recursos do processador e seleções do usuário. Programas foram protegidos e falhas foram injetadas em nível lógico em ambos os processadores. Para o processador miniMIPS, as taxas de detecção de erros, os tempos de execução e as ocupações de memórias dos programas protegidos se mostraram compatíveis com os resultados presentes na literatura. Resultados semelhantes foram encontrados para o processador LEON3. Diferenças entre os resultados ocorrem devido às características da arquitetura. A ferramenta CFT-tool por ser configurável pode proteger o código na integralidade ou selecionar partes do código e registradores que serão redundantes e protegidos. A vantagem de proteger parte do código é reduzir o custo final em termos de tempo de processamento e ocupação de memória. Uma análise do impacto da seleção seletiva de registradores na taxa de detecção de erros é apresentada. E diretivas de alcançar um comprometimento ótimo entre quantidade de registradores protegidos, taxa de detecção de erros e custo são discutidas. / This work presents a configurable tool, called CFT-tool, capable of automatically applying software-based error detection techniques aiming to protect processors with different architectures and organizations against transient faults in the hardware. The techniques are based on redundancy and comparison. They are applied by CFT-tool in the assembly code of an unprotected program, compiled to the target architecture. The developed tool was validated using two distinct processors: miniMIPS and LEON3. The miniMIPS processor has been utilized to verify the efficiency of the software-based techniques applied by CFT-tool in the assembly code of unprotected programs in terms of error detection rate, runtime and memory occupation, comparing the obtained results with those presented in the literature. The LEON3 processor was selected because it is largely adopted in space applications and because it is based on a different architecture that miniMIPS processor. The configurability of the CFT-tool is verified with the LEON3 processor, that is, the capability of the tool at applying software-based detection techniques in a code compiled to a different processor, maintaining it functional and capable of detecting errors. The CFT-tool can be utilized to protect programs compiled to other architectures and organizations by modifying the configuration files of the tool. The configuration of the techniques is defined by the specifications of the application, processor resources and selections of the user. Programs were protected and faults were injected in logical level in both processors. When using the miniMIPS processor, the error detection rates, runtimes and memory occupations of the protected programs are comparable to the results presents in the literature. Similar results are reached with the LEON3 processor. Differences between the results are due to architecture features. The CFT-tool can be configurable to protect the entire code or to select portions of the code or registers that will be redundant and protected. The advantage of protecting portions of the code is to reduce the final cost in terms of runtime and memory occupation. An analysis of the impact of selective selection of registers in the error detection rate is also presented. And policies to reach an optimum committal between amount of protected registers, error detection rate and cost are discussed.

Existe um consenso de que os transistores CMOS irão em breve ultrapassar a barreira nanométrica, permitindo a inclusão de um enorme número desses componentes em uma simples pastilha de silício, mais ainda do que a grande densidade de integração vista atualmente. Entretanto, também tem sido afirmado que este desenvolvimento da tecnologia trará juntamente conseqüências indesejáveis em termos de confiabilidade. Neste trabalho, três aspectos da evolução tecnológica serão enfatizados: redução do tamanho dos transistores, aumento da freqüência de relógio e variabilidade de componentes analógicos. O primeiro aspecto diz respeito à ocorrência de Single Event Upsets (SEU), uma vez que a carga armazenada nos nós dos circuitos é cada vez menor, tornando o circuito mais suscetível a esses tipos de eventos, principalmente devido à incidência de radiação. O segundo aspecto é também relacionado ao choque de partículas radioativas no circuito. Neste caso, dado que o período de relógio tem se tornado menor, os Single Event Transients (SET) podem ser capturados por um latch, e interpretado como uma inversão de estado em um determinado bit. Finalmente, o terceiro aspecto lida com a variabilidade de componentes analógicos, a qual tende a aumentar a distância entre o projeto e o teste analógico e o digital. Pensando nesses três problemas, foram propostas três diferentes soluções para lidar com eles. Para o problema do SEU, um novo paradigma foi proposto: ao invés do uso de redundância de hardware ou software, um esquema de redundância de sinal foi proposto através de uso de sinais modulados em sigma-delta. No caso do SET, foi proposta uma solução para o esquema de Triple Modular Redundancy (TMR), onde o votador digital é substituído por um analógico, reduzindo assim as chances de ocorrência de SET. Para concluir, para a variabilidade de componentes analógicos, foi proposto um filtro de sinal misto no qual os componentes analógicos críticos são substituídos por partes digitais, permitindo um esquema de teste completamente digital, uma fácil substituição de partes defeituosas e um aumento de produtividade. / It has been a consensus that CMOS transistor gate length will soon overcome the nanometric barrier, allowing the inclusion of a huge number of these devices on a single die, even more than the enormous integration density shown these days. Nevertheless, it has also been claimed that this technology development will bring undesirable consequences as well, for what regards reliability. In this work, three aspects of technology evolution will be emphasized: transistor size shrinking, clock frequency increase and analog components variability. The first aspect concerns the occurrence of Single Event Upsets (SEU), since the charge stored in the circuit nodes becomes ever smaller, making the circuit more susceptible to this kind of events, mainly due to radiation incidence. The second aspect is also related to the hit of radiation particles in the circuit. In this case, since clock period becomes smaller, Single Event Transients (SET) may cross the entire circuit and can possibly be latched and interpreted as a state inversion of a certain bit. Finally, the third aspect deals with the analog components variability, which tends to increase the gap between the analog and digital design and test. Thinking about these three problems, we have proposed three different solutions to deal with them. To the SEU problem, a new paradigm has been proposed: instead of hardware or software redundancy, a signal redundancy approach has been proposed through the use of sigma-delta modulated signals. In the SET case, we have proposed a solution for the Triple Modular Redundancy (TMR) approach, where the digital voter is substituted by an analog one, thus reducing the chances of SET occurrence. To conclude, for the analog components variability, we have proposed a mixed-signal filter solution where critical analog components are substituted by digital parts, allowing a complete digital test approach, an easy faulty parts replacement and yield increase.

Les composants mémoires sont omniprésents en électronique : ils sont utilisés pour stocker des données, et sont présents dans tous les champs d’application - industriel, automobile, aérospatial, grand public et télécommunications, entre autres. Les technologies mémoires ont connu une évolution constante depuis la création de la première mémoire vive statique (Static Random-Access Memory, SRAM) à la fin des années 60. Les besoins toujours plus importants en termes de performance, de capacité et d’économie d’énergie poussent à une miniaturisation constante de ces composants : les mémoires modernes contiennent des circuits dont certaines dimensions sont de l’ordre du nanomètre.L’un des inconvénients de cette miniaturisation fut un accroissement de la sensibilité de ces composants aux radiations. Depuis la détection des premiers effets singuliers (Single-Event Effects, SEE) dans un satellite à la fin des années 70, et la reproduction du phénomène en laboratoire, les fabricants de composants mémoires et les ingénieurs en électronique se sont intéressés au durcissement aux radiations. Au début, les besoins en stockage pour des applications civiles et militaires – comme le développement d’accélérateurs de particules, de réacteurs nucléaires et d’engins spatiaux – créa un marché pour les composants durcis aux radiations. Ce marché s’est considérablement réduit avec la fin de la Guerre Froide et la perte d’intérêt des gouvernements, et après quelques années, les ingénieurs durent se tourner vers des composants commerciaux (Commercial Off-The-Shelf Components, COTS).Les composants COTS n’étant pas conçus pour résister aux radiations, chaque composant doit être évalué avant d’être utilisé dans des systèmes dont la fiabilité est critique. Ce processus d’évaluation est appelé Radiation Hardness Assurance (RHA). Les tests aux radiations des composants commerciaux sont devenus une pratique standardisée (en particulier dans l’industrie aérospatiale). Ces composants sont irradiés à l’aide d’accélérateurs de particules et de sources radioactives, afin d’évaluer leur sensibilité, de prédire leur taux d’erreur dans un environnement radiatif donné, et ainsi de déterminer leur adéquation pour une mission donnée.Cette étude porte sur le test de composants mémoires aux effets singuliers. Les objectifs, difficultés et limitations des tests aux radiations sont présentés, et des méthodes d’analyse de données sont proposées ; l’identification et l’étude des modes de défaillance sont utilisées pour approfondir les connaissances sur les composants testés. Cette étude est basée sur de nombreuses campagnes de test aux radiations, étalées sur une période de quatre ans, pendant lesquelles des mémoires de différentes technologies – mémoires vives statique (SRAM), ferroélectrique (FRAM), magnétorésistive (MRAM) et mémoire flash – furent irradiées avec des faisceaux de muons, neutrons, protons et ions lourds. Les données générées ont également servi au développement d’un CubeSat développé conjointement par le LIRMM et le Centre Spatial Universitaire de Montpellier, MTCube, dont la mission est l’irradiation de ces mêmes composants en milieu spatial. Les concepts sous-jacents liés aux radiations, aux environnements radiatifs, à l’architecture des composants mémoires et aux tests aux radiations sont introduits dans les premiers chapitres, et les avancées scientifiques de cette étude sont présentées dans le dernier chapitre. / Electronic memories are ubiquitous components in electronic systems: they are used to store data, and can be found in all manner of industrial, automotive, aerospace, telecommunication and entertainment systems. Memory technology has seen a constant evolution since the first practical dynamic Random-Access Memories (dynamic RAMs) were created in the late 60's. The demand for ever-increasing performance and capacity and decrease in power consumption was met thanks to a steady miniaturization of the component features: modern memory devices include elements barely a few tens of atomic layers thick and a few hundred of atomic layers wide.The side effect of this constant device miniaturization was an increase in the sensitivity of devices to radiation. Since the first radiation-induced single-event effects (SEEs) were identified in satellites in the late 70’s and particle-induced memory upsets were replicated in laboratory tests, radiation hardness has been a concern for computer memory manufacturers and for systems designers as well. In the early days, the need for data storage in radiation-rich environments, e.g. nuclear facilities, particle accelerators and space, primarily for military use, created a market for radiation-hardened memory components, capable of withstanding the effects of radiation. This market dwindled with the end of the Cold War and the loss of government interest, and in a matter of years, the shortage of available radiation-hard components led system designers to turn to so-called Commercial Off-The-Shelf (COTS) components.Since COTS devices are not designed with radiation hardness in mind, each COTS component must be assessed before it can be included in a system where reliability is important – a process known as Radiation Hardness Assurance (RHA). This has led to the emergence of radiation testing as a standard practice in the industry (and in the space industry in particular). Irradiation tests with particle accelerators and radioactive sources are performed to estimate a component’s radiation-induced failure rate in a given radiation environment, and thus its suitability for a given mission.The present work focuses on SEE testing of memory components. It presents the requirements, difficulties and shortcomings of radiation testing, and proposes methods for radiation test data processing; the detection and study of failure modes is used to gain insight on the tested components. This study is based on data obtained over four years on several irradiation campaigns, where memory devices of different technologies (static RAMs, ferroelectric RAM, magnetoresistive RAM, and flash) were irradiated with proton, heavy-ion, neutron and muon beams. The yielded data also supported the development of MTCube, a CubeSat picosatellite developed jointly by the Centre Spatial Universitaire (CSU) and LIRMM in Montpellier, whose mission is to carry out in-flight testing on the same memory devices. The underlying concepts regarding radiation, radiation environments, radiation-matter interactions, memory component architecture and radiation testing will be introduced in the first chapters, while the academic advances which were made during this study are presented in the final chapter.

Existe um consenso de que os transistores CMOS irão em breve ultrapassar a barreira nanométrica, permitindo a inclusão de um enorme número desses componentes em uma simples pastilha de silício, mais ainda do que a grande densidade de integração vista atualmente. Entretanto, também tem sido afirmado que este desenvolvimento da tecnologia trará juntamente conseqüências indesejáveis em termos de confiabilidade. Neste trabalho, três aspectos da evolução tecnológica serão enfatizados: redução do tamanho dos transistores, aumento da freqüência de relógio e variabilidade de componentes analógicos. O primeiro aspecto diz respeito à ocorrência de Single Event Upsets (SEU), uma vez que a carga armazenada nos nós dos circuitos é cada vez menor, tornando o circuito mais suscetível a esses tipos de eventos, principalmente devido à incidência de radiação. O segundo aspecto é também relacionado ao choque de partículas radioativas no circuito. Neste caso, dado que o período de relógio tem se tornado menor, os Single Event Transients (SET) podem ser capturados por um latch, e interpretado como uma inversão de estado em um determinado bit. Finalmente, o terceiro aspecto lida com a variabilidade de componentes analógicos, a qual tende a aumentar a distância entre o projeto e o teste analógico e o digital. Pensando nesses três problemas, foram propostas três diferentes soluções para lidar com eles. Para o problema do SEU, um novo paradigma foi proposto: ao invés do uso de redundância de hardware ou software, um esquema de redundância de sinal foi proposto através de uso de sinais modulados em sigma-delta. No caso do SET, foi proposta uma solução para o esquema de Triple Modular Redundancy (TMR), onde o votador digital é substituído por um analógico, reduzindo assim as chances de ocorrência de SET. Para concluir, para a variabilidade de componentes analógicos, foi proposto um filtro de sinal misto no qual os componentes analógicos críticos são substituídos por partes digitais, permitindo um esquema de teste completamente digital, uma fácil substituição de partes defeituosas e um aumento de produtividade. / It has been a consensus that CMOS transistor gate length will soon overcome the nanometric barrier, allowing the inclusion of a huge number of these devices on a single die, even more than the enormous integration density shown these days. Nevertheless, it has also been claimed that this technology development will bring undesirable consequences as well, for what regards reliability. In this work, three aspects of technology evolution will be emphasized: transistor size shrinking, clock frequency increase and analog components variability. The first aspect concerns the occurrence of Single Event Upsets (SEU), since the charge stored in the circuit nodes becomes ever smaller, making the circuit more susceptible to this kind of events, mainly due to radiation incidence. The second aspect is also related to the hit of radiation particles in the circuit. In this case, since clock period becomes smaller, Single Event Transients (SET) may cross the entire circuit and can possibly be latched and interpreted as a state inversion of a certain bit. Finally, the third aspect deals with the analog components variability, which tends to increase the gap between the analog and digital design and test. Thinking about these three problems, we have proposed three different solutions to deal with them. To the SEU problem, a new paradigm has been proposed: instead of hardware or software redundancy, a signal redundancy approach has been proposed through the use of sigma-delta modulated signals. In the SET case, we have proposed a solution for the Triple Modular Redundancy (TMR) approach, where the digital voter is substituted by an analog one, thus reducing the chances of SET occurrence. To conclude, for the analog components variability, we have proposed a mixed-signal filter solution where critical analog components are substituted by digital parts, allowing a complete digital test approach, an easy faulty parts replacement and yield increase.

O avanço das tecnologias de circuitos integrados (CIs) levanta importantes questões relacionadas à confiabilidade e à robustez de sistemas eletrônicos. A diminuição da geometria dos transistores, a redução dos níveis de tensão, as menores capacitâncias e portanto menores correntes e cargas para alimentar os circuitos, além das freqüências de relógio elevadas, têm tornado os CIs mais vulneráveis a falhas, especialmente àquelas causadas por ruído elétrico ou por efeitos induzidos pela radiação. Os efeitos induzidos pela radiação conhecidos como Soft Single Event Effects (Soft SEEs) podem ser classificados em: Single Event Upsets (SEUs) diretos em nós de elementos de armazenagem que resultam em inversões de bits; e pulsos transientes Single Event Transients (SETs) em qualquer nó do circuito. Especialmente SETs em circuitos combinacionais podem se propagar até os elementos de armazenagem e podem ser capturados. Estas errôneas armazenagens podem também serem chamadas de SEUs indiretos. Falhas como SETs e SEUs podem provocar erros em operações funcionais de um CI. Os conhecidos Soft Errors (SEs) são caracterizados por valores armazenados erradamente em elementos de memória durante o uso do CI. SEs podem produzir sérias conseqüências em aplicações de CIs devido à sua natureza não permanente e não recorrente. Por essas razões, mecanismos de proteção para evitar SEs através de técnicas de tolerância a falhas, no mínimo em um nível de abstração do projeto, são atualmente fundamentais para melhorar a confiabilidade de sistemas. Neste trabalho de dissertação, uma versão tolerante a falhas de um microprocessador 8-bits de produção em massa da família M68HC11 foi projetada. A arquitetura é capaz de tolerar SETs e SEUs. Baseado nas técnicas de Redundância Modular Tripla (TMR) e Redundância no Tempo (TR), um esquema de proteção foi projetado e implementado em alto nível no microprocessador alvo usando apenas portas lógicas padrões. O esquema projetado preserva as características da arquitetura padrão de tal forma que a reusabilidade das aplicações do microprocessador é garantida. Um típico fluxo de projeto de circuitos integrados foi desenvolvido através de ferramentas de CAD comerciais. Testes funcionais e injeções de falhas através da simulação de execuções de benchmarks foram realizados como um teste de verificação do projeto. Além disto, detalhes do projeto do circuito integrado tolerante a falhas e resultados em área, performance e potência foram comparados com uma versão não protegida do microprocessador. A área do core aumentou 102,64 % para proteger o circuito alvo contra SETs e SEUs. A performance foi degrada em 12,73 % e o consumo de potência cresceu cerca de 49 % para um conjunto de benchmarks. A área resultante do chip robusto foi aproximadamente 5,707 mm². / The advance of the IC technologies raises important issues related to the reliability and robustness of electronic systems. The transistor scale by shrinking its geometry, the voltage reduction, the lesser capacitances and therefore smaller currents and charges to supply the circuits, besides the higher clock frequencies, have made the IC more vulnerable to faults, especially those faults caused by electrical noise or radiationinduced effects. The radiation-induced effects known as Soft Single Event Effects (Soft SEEs) can be classified into: direct Single Event Upsets (SEUs) at nodes of storage elements that result in bit flips; and Single Event Transient (SET) pulses at any circuit node. Especially SETs on combinational circuits might propagate itself up to the storage elements and might be captured. These erroneous storages can be also called indirect SEUs. Faults like SETs and SEUs can provoke errors in functional operations of an IC. The known Soft Errors (SEs) are characterized by values stored wrongly on memory elements during the use of the IC. They can make serious consequences in IC applications due to their non-permanent and non-recurring nature. By these reasons, protection mechanisms to avoid SEs by using fault-tolerance techniques, at least in one abstraction level of the design, are currently fundamental to improve the reliability of systems. In this dissertation work, a fault-tolerant IC version of a mass-produced 8-bit microprocessor from the M68HC11 family was designed. It is able to tolerate SETs and SEUs. Based on the Triple Modular Redundancy (TMR) and Time Redundancy (TR) fault-tolerance techniques, a protection scheme was designed and implemented at high level in the target microprocessor by using only standard logic gates. The designed scheme preserves the standard-architecture characteristics in such way that the reusability of microprocessor applications is guaranteed. A typical IC design flow was developed by means of commercial CAD tools. Functional testing and fault injection simulations through benchmark executions were performed as a design verification testing. Furthermore, fault-tolerant IC design issues and results in area, performance and power were compared with a non-protected microprocessor version. The core area increased by 102.64 % to protect the target circuit against SETs and SEUs. The performance was degraded in 12.73 % and the power consumption grew around 49 % for a set of benchmarks. The resulting area of the robust chip was approximately 5.707 mm².

Submitted by Automa??o e Estat?stica (sst@bczm.ufrn.br) on 2016-07-08T20:39:35Z No. of bitstreams: 1 MarlyRochaMedeirosDeVargas_DISSERT.pdf: 1071581 bytes, checksum: 8298c0862d2a97f656f6589b13af9a1b (MD5) / Approved for entry into archive by Arlan Eloi Leite Silva (eloihistoriador@yahoo.com.br) on 2016-07-11T19:46:16Z (GMT) No. of bitstreams: 1 MarlyRochaMedeirosDeVargas_DISSERT.pdf: 1071581 bytes, checksum: 8298c0862d2a97f656f6589b13af9a1b (MD5) / Made available in DSpace on 2016-07-11T19:46:16Z (GMT). No. of bitstreams: 1 MarlyRochaMedeirosDeVargas_DISSERT.pdf: 1071581 bytes, checksum: 8298c0862d2a97f656f6589b13af9a1b (MD5) Previous issue date: 2014-03-31 / Com base nos pressupostos te?rico-metodol?gicos da teoria da varia??o e da mudan?a lingu?stica (cf. WEINREICH; LABOV; HERZOG, 2006 [1968]), segundo os quais a heterogeneidade na/da l?ngua lhe imprime um car?ter intr?nseca e eminentemente vari?vel, nesta disserta??o, descreve-se e analisa-se o processo de varia??o/mudan?a envolvendo o quadro dos pronomes possessivos de segunda pessoa em cartas de leitores de jornais brasileiros dos s?culos XIX e XX. Essas cartas apresentam um retrato da impressa brasileira das regi?es sul (Santa Catarina), sudeste (Rio de Janeiro) e nordeste (Bahia e Rio Grande do Norte) nos diferentes s?culos e fazem parte do corpus m?nimo comum impresso do Projeto para a Hist?ria do Portugu?s Brasileiro (PHPB). Parte-se do pressuposto de que o uso das formas variantes para a express?o dos pronomes possessivos de segunda pessoa - teu/vosso/seu - resultam da intera??o que caracterizam os pap?is sociais v?rios exercidos pelos interlocutores nas cartas. Configurando unidades comunicativas que re?nem elementos/tra?os denotadores de espa?o e tempo condicionados e determinados por aspectos s?cio-hist?ricos e culturais, as cartas de leitores mostraram-se como universo promissor de pesquisa na perspectiva aqui eleita para estudo. Mais especificamente, na esteira de resultados apresentados em estudos sobre o sistema pronominal na diacronia do/no Portugu?s Brasileiro (PB), nos quais se inserem aqueles referentes aos possessivos (FARACO, 2002; LORENGIAN-PENKAL, 2007; CALLOU; LOPES, 2003; LOPES; DUARTE, 2003; MENON, 2005; ARDUIN; COELHO, 2005; LOPES, 2009; MARCOTULIO, 2010), os resultados obtidos na an?lise apontam para diferentes usos dos possessivos, registrando-se a coexist?ncia das formas teu/tua, seu/sua e vosso/vossa fortemente condicionadas pela natureza s?cio-discursiva das cartas de leitores no curso dos s?culos e pela diferentes regi?es. / Based on the theoretical and methodological presuppositions of the theory of language variation and change (cf. WEINREICH; LABOV; HERZOG, 2006 [1968]), it is described and analyzed in this article the process of variation/change concerning the second person possessive pronouns in letters from readers of Brazilian newspapers from the XIX and XX centuries. These letters feature a portrait of the Brazilian press from the South (Santa Catarina), Southeast (Rio de Janeiro) and Northeast (Bahia and Rio Grande do Norte) regions in each century and are part of the Project for Brazilian Portuguese History?s (PHPB) printed common minimal corpus. The point of departure of this work is the idea that the use of variant forms of expressing second person possessive pronouns ? teu and seu ? results from the interaction characterizing the varied social roles performed by the letters? senders. Arranging communicative units, which gather elements/features denoting time and space, conditioned and determined by socio-historical and cultural aspects, the readers? letters, turn out to be a promising research field under the light of this paper. More specifically, In the row of presented results in studies about the pronominal system in the diachroneity of/in Brazilian Portuguese (PB) (FARACO, 2002; LORENGIAN-PENKAL, 2007; CALLOU; LOPES, 2003; LOPES; DUARTE, 2003; MENON, 2005; ARDUIN; COELHO, 2006; LOPES, 2009; MARCOTULIO, 2010), the results featured in here point at different usages of the possessives, noticing the coexistence of the forms teu/tua and seu/sua strongly conditioned by the socio-discursive nature of the readers? letters in the course of the centuries and through different regions.

Este trabalho apresenta uma ferramenta configurável, denominada de CFT-tool, capaz de aplicar automaticamente técnicas de detecção de erros em software com o objetivo de proteger processadores com diferentes arquiteturas e organizações contra falhas transientes no hardware. As técnicas baseadas em redundância e comparação são aplicadas pela CFT-tool no código assembly de um programa desprotegido, compilado para a arquitetura alvo. A ferramenta desenvolvida foi validada utilizando dois processadores distintos: miniMIPS e LEON3. O processador miniMIPS foi utilizado para verificar a eficiência, em termos de taxa de detecção de erros, tempo de execução e ocupação de memória, das técnicas de detecção em software aplicadas pela CFT-tool, comparando os resultados obtidos com os presentes na literatura. O processador LEON3 foi selecionado por ser amplamente utilizado em aplicações espaciais e por ser baseado em uma arquitetura diferente da arquitetura do processador miniMIPS. Com o processador LEON3 é verificada a configurabilidade da CFT-tool, isto é, a capacidade dela de aplicar técnicas de detecção em software em um código compilado para um diferente processador, o mantendo funcional e sendo capaz de detectar erros. A CFT-tool pode ser utilizada para proteger programas para outras arquiteturas e organizações através da modificação dos arquivos de configuração da ferramenta. A configuração das técnicas é definida segundo as especificações da aplicação, recursos do processador e seleções do usuário. Programas foram protegidos e falhas foram injetadas em nível lógico em ambos os processadores. Para o processador miniMIPS, as taxas de detecção de erros, os tempos de execução e as ocupações de memórias dos programas protegidos se mostraram compatíveis com os resultados presentes na literatura. Resultados semelhantes foram encontrados para o processador LEON3. Diferenças entre os resultados ocorrem devido às características da arquitetura. A ferramenta CFT-tool por ser configurável pode proteger o código na integralidade ou selecionar partes do código e registradores que serão redundantes e protegidos. A vantagem de proteger parte do código é reduzir o custo final em termos de tempo de processamento e ocupação de memória. Uma análise do impacto da seleção seletiva de registradores na taxa de detecção de erros é apresentada. E diretivas de alcançar um comprometimento ótimo entre quantidade de registradores protegidos, taxa de detecção de erros e custo são discutidas. / This work presents a configurable tool, called CFT-tool, capable of automatically applying software-based error detection techniques aiming to protect processors with different architectures and organizations against transient faults in the hardware. The techniques are based on redundancy and comparison. They are applied by CFT-tool in the assembly code of an unprotected program, compiled to the target architecture. The developed tool was validated using two distinct processors: miniMIPS and LEON3. The miniMIPS processor has been utilized to verify the efficiency of the software-based techniques applied by CFT-tool in the assembly code of unprotected programs in terms of error detection rate, runtime and memory occupation, comparing the obtained results with those presented in the literature. The LEON3 processor was selected because it is largely adopted in space applications and because it is based on a different architecture that miniMIPS processor. The configurability of the CFT-tool is verified with the LEON3 processor, that is, the capability of the tool at applying software-based detection techniques in a code compiled to a different processor, maintaining it functional and capable of detecting errors. The CFT-tool can be utilized to protect programs compiled to other architectures and organizations by modifying the configuration files of the tool. The configuration of the techniques is defined by the specifications of the application, processor resources and selections of the user. Programs were protected and faults were injected in logical level in both processors. When using the miniMIPS processor, the error detection rates, runtimes and memory occupations of the protected programs are comparable to the results presents in the literature. Similar results are reached with the LEON3 processor. Differences between the results are due to architecture features. The CFT-tool can be configurable to protect the entire code or to select portions of the code or registers that will be redundant and protected. The advantage of protecting portions of the code is to reduce the final cost in terms of runtime and memory occupation. An analysis of the impact of selective selection of registers in the error detection rate is also presented. And policies to reach an optimum committal between amount of protected registers, error detection rate and cost are discussed.

O avanço das tecnologias de circuitos integrados (CIs) levanta importantes questões relacionadas à confiabilidade e à robustez de sistemas eletrônicos. A diminuição da geometria dos transistores, a redução dos níveis de tensão, as menores capacitâncias e portanto menores correntes e cargas para alimentar os circuitos, além das freqüências de relógio elevadas, têm tornado os CIs mais vulneráveis a falhas, especialmente àquelas causadas por ruído elétrico ou por efeitos induzidos pela radiação. Os efeitos induzidos pela radiação conhecidos como Soft Single Event Effects (Soft SEEs) podem ser classificados em: Single Event Upsets (SEUs) diretos em nós de elementos de armazenagem que resultam em inversões de bits; e pulsos transientes Single Event Transients (SETs) em qualquer nó do circuito. Especialmente SETs em circuitos combinacionais podem se propagar até os elementos de armazenagem e podem ser capturados. Estas errôneas armazenagens podem também serem chamadas de SEUs indiretos. Falhas como SETs e SEUs podem provocar erros em operações funcionais de um CI. Os conhecidos Soft Errors (SEs) são caracterizados por valores armazenados erradamente em elementos de memória durante o uso do CI. SEs podem produzir sérias conseqüências em aplicações de CIs devido à sua natureza não permanente e não recorrente. Por essas razões, mecanismos de proteção para evitar SEs através de técnicas de tolerância a falhas, no mínimo em um nível de abstração do projeto, são atualmente fundamentais para melhorar a confiabilidade de sistemas. Neste trabalho de dissertação, uma versão tolerante a falhas de um microprocessador 8-bits de produção em massa da família M68HC11 foi projetada. A arquitetura é capaz de tolerar SETs e SEUs. Baseado nas técnicas de Redundância Modular Tripla (TMR) e Redundância no Tempo (TR), um esquema de proteção foi projetado e implementado em alto nível no microprocessador alvo usando apenas portas lógicas padrões. O esquema projetado preserva as características da arquitetura padrão de tal forma que a reusabilidade das aplicações do microprocessador é garantida. Um típico fluxo de projeto de circuitos integrados foi desenvolvido através de ferramentas de CAD comerciais. Testes funcionais e injeções de falhas através da simulação de execuções de benchmarks foram realizados como um teste de verificação do projeto. Além disto, detalhes do projeto do circuito integrado tolerante a falhas e resultados em área, performance e potência foram comparados com uma versão não protegida do microprocessador. A área do core aumentou 102,64 % para proteger o circuito alvo contra SETs e SEUs. A performance foi degrada em 12,73 % e o consumo de potência cresceu cerca de 49 % para um conjunto de benchmarks. A área resultante do chip robusto foi aproximadamente 5,707 mm². / The advance of the IC technologies raises important issues related to the reliability and robustness of electronic systems. The transistor scale by shrinking its geometry, the voltage reduction, the lesser capacitances and therefore smaller currents and charges to supply the circuits, besides the higher clock frequencies, have made the IC more vulnerable to faults, especially those faults caused by electrical noise or radiationinduced effects. The radiation-induced effects known as Soft Single Event Effects (Soft SEEs) can be classified into: direct Single Event Upsets (SEUs) at nodes of storage elements that result in bit flips; and Single Event Transient (SET) pulses at any circuit node. Especially SETs on combinational circuits might propagate itself up to the storage elements and might be captured. These erroneous storages can be also called indirect SEUs. Faults like SETs and SEUs can provoke errors in functional operations of an IC. The known Soft Errors (SEs) are characterized by values stored wrongly on memory elements during the use of the IC. They can make serious consequences in IC applications due to their non-permanent and non-recurring nature. By these reasons, protection mechanisms to avoid SEs by using fault-tolerance techniques, at least in one abstraction level of the design, are currently fundamental to improve the reliability of systems. In this dissertation work, a fault-tolerant IC version of a mass-produced 8-bit microprocessor from the M68HC11 family was designed. It is able to tolerate SETs and SEUs. Based on the Triple Modular Redundancy (TMR) and Time Redundancy (TR) fault-tolerance techniques, a protection scheme was designed and implemented at high level in the target microprocessor by using only standard logic gates. The designed scheme preserves the standard-architecture characteristics in such way that the reusability of microprocessor applications is guaranteed. A typical IC design flow was developed by means of commercial CAD tools. Functional testing and fault injection simulations through benchmark executions were performed as a design verification testing. Furthermore, fault-tolerant IC design issues and results in area, performance and power were compared with a non-protected microprocessor version. The core area increased by 102.64 % to protect the target circuit against SETs and SEUs. The performance was degraded in 12.73 % and the power consumption grew around 49 % for a set of benchmarks. The resulting area of the robust chip was approximately 5.707 mm².

Este trabalho apresenta uma ferramenta configurável, denominada de CFT-tool, capaz de aplicar automaticamente técnicas de detecção de erros em software com o objetivo de proteger processadores com diferentes arquiteturas e organizações contra falhas transientes no hardware. As técnicas baseadas em redundância e comparação são aplicadas pela CFT-tool no código assembly de um programa desprotegido, compilado para a arquitetura alvo. A ferramenta desenvolvida foi validada utilizando dois processadores distintos: miniMIPS e LEON3. O processador miniMIPS foi utilizado para verificar a eficiência, em termos de taxa de detecção de erros, tempo de execução e ocupação de memória, das técnicas de detecção em software aplicadas pela CFT-tool, comparando os resultados obtidos com os presentes na literatura. O processador LEON3 foi selecionado por ser amplamente utilizado em aplicações espaciais e por ser baseado em uma arquitetura diferente da arquitetura do processador miniMIPS. Com o processador LEON3 é verificada a configurabilidade da CFT-tool, isto é, a capacidade dela de aplicar técnicas de detecção em software em um código compilado para um diferente processador, o mantendo funcional e sendo capaz de detectar erros. A CFT-tool pode ser utilizada para proteger programas para outras arquiteturas e organizações através da modificação dos arquivos de configuração da ferramenta. A configuração das técnicas é definida segundo as especificações da aplicação, recursos do processador e seleções do usuário. Programas foram protegidos e falhas foram injetadas em nível lógico em ambos os processadores. Para o processador miniMIPS, as taxas de detecção de erros, os tempos de execução e as ocupações de memórias dos programas protegidos se mostraram compatíveis com os resultados presentes na literatura. Resultados semelhantes foram encontrados para o processador LEON3. Diferenças entre os resultados ocorrem devido às características da arquitetura. A ferramenta CFT-tool por ser configurável pode proteger o código na integralidade ou selecionar partes do código e registradores que serão redundantes e protegidos. A vantagem de proteger parte do código é reduzir o custo final em termos de tempo de processamento e ocupação de memória. Uma análise do impacto da seleção seletiva de registradores na taxa de detecção de erros é apresentada. E diretivas de alcançar um comprometimento ótimo entre quantidade de registradores protegidos, taxa de detecção de erros e custo são discutidas. / This work presents a configurable tool, called CFT-tool, capable of automatically applying software-based error detection techniques aiming to protect processors with different architectures and organizations against transient faults in the hardware. The techniques are based on redundancy and comparison. They are applied by CFT-tool in the assembly code of an unprotected program, compiled to the target architecture. The developed tool was validated using two distinct processors: miniMIPS and LEON3. The miniMIPS processor has been utilized to verify the efficiency of the software-based techniques applied by CFT-tool in the assembly code of unprotected programs in terms of error detection rate, runtime and memory occupation, comparing the obtained results with those presented in the literature. The LEON3 processor was selected because it is largely adopted in space applications and because it is based on a different architecture that miniMIPS processor. The configurability of the CFT-tool is verified with the LEON3 processor, that is, the capability of the tool at applying software-based detection techniques in a code compiled to a different processor, maintaining it functional and capable of detecting errors. The CFT-tool can be utilized to protect programs compiled to other architectures and organizations by modifying the configuration files of the tool. The configuration of the techniques is defined by the specifications of the application, processor resources and selections of the user. Programs were protected and faults were injected in logical level in both processors. When using the miniMIPS processor, the error detection rates, runtimes and memory occupations of the protected programs are comparable to the results presents in the literature. Similar results are reached with the LEON3 processor. Differences between the results are due to architecture features. The CFT-tool can be configurable to protect the entire code or to select portions of the code or registers that will be redundant and protected. The advantage of protecting portions of the code is to reduce the final cost in terms of runtime and memory occupation. An analysis of the impact of selective selection of registers in the error detection rate is also presented. And policies to reach an optimum committal between amount of protected registers, error detection rate and cost are discussed.