Vi upplever att det i dagens samhälle gärna uttrycks åsikter om vad som anses vara rätt eller fel i olika sammanhang, likaså när det gäller ledarskap, många bär på tankar kring vad som anses vara det perfekta ledarskapet. Ställs frågan får man inte sällan ett detaljerat svar med specifika kvalifikationer. Vi misstänker att åsikter och värderingar som florerar i samhället kan få oanade konsekvenser. Följande kvalitativa studie syftar till att genom en fallstudie på fyra djupintervjuer försöka avslöja olika strategier som tillämpas för att exkludera unga chefer i företag. Genom att blottlägga dessa strategier hoppas vi samtidigt göra dem mindre verkningsfulla. Ämnet anser vi i allra högsta grad är relevant att studera då riskerna med uteslutande av yngre individer i längden kan få negativa följder. Man riskerar till exempel att gå miste om viktig kompetens vilket är negativt då man kan uttrycka det som att framtiden ligger i de yngres händer.Vi har inte som avsikt att presentera någon form av sanning och inte heller generalisera några slutsatser utan vi vill snarare förmedla poänger som kan leda till vidare reflektion hos läsaren. För att kunna åstadkomma detta har vi tillämpat en abduktiv metod där vi kontinuerligt arbetat oss framåt i en så kallad hermeneutisk spiral där vi hela tiden pendlat mellan teori och empiri. Strukturen följer Hernadi´s hermeneutiska triad.Under studien har vi kunnat urskönja beteenden och ageranden inom det specifika företaget, som har en exkluderande effekt på yngre chefer och ledare. I vissa fall har det handlat om att överordnade chefer tillämpat ledningsmetoder som inte tillåtit de yngre cheferna att tala på sitt sätt, medans det i andra fall varit yngre chefer själva som genom sina egna uttalanden och åsikter om ungt ledarskap exkluderat sig själva, de har undervärderat sig själva. Trots att strategierna vi lyckats blottlägga enbart visar på hur situationen kan förhålla sig då studien baseras på material från endast ett företag, så förmedlas ändå tanken om att exkludering överhuvudtaget kan göra sig gällande inom företag idag. Poänger har presenterats i uppsatsen om att vi själva är med och bidrar till en exkludering av unga chefer, till exempel då vi i följande studie valt att beröra ämnet. En problematik inom området kanske inte behöver existera då vi själva i många fall kan ses som bovarna i dramat!

Dünne Silizium- und Germaniumdioxidfilme auf Ru(0001)-Kristallen werden hinsichtlich dynamischer Prozesse untersucht. Zwischen Oxidfilm und Substrat befinden sich Sauerstoffatome, die eine ent-scheidende Rolle in diesen Systemen spielen. Zunächst werden diese Sauerstofflagen auf Ru(0001) mittels Hochgeschwindigkeits-Rastertunnelmikroskopie (STM) analysiert. Daraufhin wird die GeO2-Monolage auf Ru(0001) bei hohen Bildraten mit einer selbstentwickelten halbautomatischen Netz-werkdetektion untersucht. Schließlich wird die SiO2-Bilage auf Ru(0001) mit konventionellen sowie mit schnellen STM-Messungen bei Raumtemperatur und bei 600 K abgebildet. Um schnelle Messungen bei hohen Temperaturen zu realisieren, wird ein Hochgeschwindigkeits-STM konstruiert, welches bei unterschiedlichen Temperaturen betrieben werden kann. Unkon-ventionelle Spiralgeometrien ermöglichen verzerrungsfreie Bilder in weniger als 10 ms aufzunehmen. Die adsorbierten Sauerstofflagen werden erstmals bei hohen Bildraten untersucht. Die experimen-tellen Ergebnisse werden durch extern durchgeführte Dichtefunktionaltheorie-Berechnungen ergänzt. In den auf Ru(0001) bei Raumtemperatur stabilen Sauerstofflagen O(2×2), O(2×1) und 3O(2×2) werden dynamische Prozesse beobachtet. Die Besetzung des Zwischenzustandes entlang des Diffusionspfades und schnelle "Umklapp"-Prozesse eindimensionaler Linien werden auf atomarer Ebene aufgelöst. Komplexe Domänengrenzen in der GeO2-Monolage auf Ru(0001) werden mit Hochgeschwindigkeits-STM abgebildet. Die Messungen an der SiO2-Bilage auf Ru(0001) zeigen dynamische Änderungen des Abbildungskontrasts, die mit den mobilen Sauertsoffatomen an der Grenzfläche zusammenhängen können. Messungen bei hohen Temperaturen zeigen dynamische Kontraständerungen von mesoskopischen Strukturen. Diese Messungen stellen die ersten schnellen Hochtemperatur-STM-Aufnahmen des Siliziumdioxidfilms dar und bilden die Grundlage für künftige Studien zu dynamischen Veränderungen in dünnen Oxidschichtsystemen. / Dynamics related to thin silicon- and germanium dioxide films that are grown on Ru(0001) crystals are investigated. Between the film and the metal support oxygen species are present that play a crucial role for these film systems. First, these oxygen adlayers on Ru(0001) are analyzed by high-speed scan-ning tunneling microscopy (STM) with the focus on dynamic processes. In a next step, the monolayer of germanium dioxide (germania) supported on Ru(0001) is studied at elevated frame rates and with a self-designed semi-automated network detection. Finally, the bilayer of silicon dioxide (silica) on Ru(0001) is studied by conventional and by high-speed STM both at room temperature and at 600 K. To realize fast STM measurements at elevated temperatures, a high-speed STM is designed that can operate at variable temperatures. Images are acquired in less than 10 ms with unconventional spiral scan patterns. The dynamics in oxygen adlayers are investigated for the first time at elevated frame rates. Experimental results are supported by density functional theory (DFT) calculations performed externally. Dynamic events are observed in the oxygen adlayers that are stable on Ru(0001) at room temperature, namely O(2×2), O(2×1), and 3O(2×2). The occupation of an intermediate state along the oxygen diffusion pathway and fast "flipping" events of atomic one-dimensional stripe patterns are observed. On the germania monolayer on Ru(0001), complex domain boundary structures are resolved with high-speed STM. In high-speed scans on the silica bilayer on Ru(0001), dynamic changes of the imaging contrast are observed that may relate to the mobile species in the oxygen interfacial layer. Measurements at elevated temperature reveal dynamic contrast changes of mesoscopic features. These measurements constitute the first high-speed STM scans on the silica film at elevated temperatures and form the basis for future studies with the focus on dynamic processes in thin oxide film systems.