Thèse numérisée par la Direction des bibliothèques de l'Université de Montréal.

Thèse numérisée par la Direction des bibliothèques de l'Université de Montréal.

Dans cette thèse, la fiabilité des provisions comptables environnementales est évaluée par une combinaison de méthodes de recherche quantitatives et qualitatives dans une perspective de triangulation des résultats. Tout d'abord, l'étude de la divulgation de ces provisions par les groupes cotés français révèle son insuffisance et sa dégradation sur la période 2005-2010. Ensuite, l'utilisation de tests d'adéquation à la loi de Benford pour les montants comptabilisés au bilan et de régressions multiples pour les impacts au résultat ne permettent pas de remettre en cause la fiabilité des provisions environnementales divulguées par le même échantillon de groupes cotés français. Ces résultats contrastent avec ceux des recherches antérieures validant l'utilisation discrétionnaire des provisions environnementales pour lisser le résultat et limiter l'émergence de coûts politiques. L'étude de cas multiple conduite au niveau des acteurs de ces mêmes groupes explique cette fiabilité des montants par celle de leur processus de détermination et les nombreuses pressions institutionnelles qui l'encadrent. Les résultats de cette thèse indiquent donc que certains choix comptables pouvant affecter le résultat de façon discrétionnaire sont davantage expliqués par les pressions institutionnelles subies que par la volonté des dirigeants d'améliorer leur situation personnelle. / In this dissertation, the reliability of environmental provisions is assessed through a combination of quantitative and qualitative research methods to ensure a triangulation of the results. Firstly, the study of their disclosure by the French listed companies reveals its insufficiency and its degradation over the period of 2005-2010. Secondly, both compliance tests to Benford's law and multiple regression analyses do not undermine the reliability of environmental provisions disclosed by the same sample of French listed companies. These results contrast with previous research validating the use of discretionary environmental provisions to smooth earnings and to limit the emergence of political costs. Thirdly, the multiple case study conducted through semi-structured interviews with actors of these groups explains the reliability of environmental provisions by the one from their assessment process and the important institutional pressure that surrounds it. Therefore, the results of this dissertation suggest that some accounting choices that can discretionary affect earnings are better explained by institutional pressure than by the willingness of managers to improve their personal situations.

La fréquence et la sévérité des feux de forêt de grande ampleur ont augmenté dans les vingt dernières années, par la conjonction de trois tendances lourdes : le réchauffement climatique, l’extension des interfaces périurbaines et l’augmentation de la biomasse. Par conséquent, la fiabilisation des opérations de lutte, et en particulier des équipes de commandement, devient un enjeu important. Mais les opérations de secours constituent surtout une fenêtre particulièrement intéressante sur le fait organisationnel en général et les processus de construction de sens en particulier. En effet, les pompiers sont confrontés à des exigences organisationnelles en conflit : stabiliser le sens des situations pour assurer l’efficacité de l’action collective (processus de contrôle), et le réévaluer en permanence pour détecter et s’adapter aux évolutions inattendues (processus d’écoute). Le contrôle cherche à fiabiliser les apprentissages, capitalise les succès, ignore le bruit, simplifie, privilégie l’anticipation, et oriente l’attention sur les objectifs de l’action et sur la structure. L’écoute cherche à accroitre la validité des apprentissages, valorise l’improvisation, invente, détecte les signaux faibles, complexifie, rebondit, et oriente l’attention sur les conséquences de l’action et sur les relations interpersonnelles.L’hypothèse centrale de cette recherche est que la gestion de ces exigences contradictoires est une source majeure de haute fiabilité. Son design se base sur la comparaison de deux territoires (l’Ouest américain et le sud de la France), et combine plusieurs méthodes : l’observation directe des opérations de secours, l’observation des sessions d’entrainement, et des formations, ainsi qu’une expérimentation sur la plateforme de simulation de la Sécurité Civile française / The frequency and impact of large wildland fires have been increasing for the past 20 years, due to the conjunction of three long term trends: global warming, growing wildland-urban interface and increase in biomass. As a result, enhancing organizational reliability in Incident Management Teams is becoming increasingly important. Examining how firefighters face large disasters is also relevant for organization studies because these situations offer a perspective on organizing and sensemaking. Indeed, firefighters are under conflicting organizational requirements: stabilizing the sense of situations for effective collective action (control processes) and reassessing situations to detect and adapt to unexpected changes (mindful processes). Control focuses on lessons learned, capitalizes on success, ignores noise, simplifies, values anticipation and direct attention on plans and strategies. Mindfulness focuses on improvising, detects weak signals, is reluctant to simplify, values resilience and interpersonal relationships.The central hypothesis of this research is that the successful management of these opposite requirements is an important source of operational reliability. The research is based on a comparison between two territories (the American West and Southern France) and combines several methods: direct observation of firefighting operations, direct observation of Incident Management Teams trainings, the analysis of available archival data, as well as controlled experiments on a France’s Civil Protection simulation training platform

Le déséquilibre entre la distribution des a priori est rencontré dans un nombre très large de domaines. Les algorithmes d’apprentissage conventionnels sont moins efficaces dans la prévision d’échantillons appartenant aux classes minoritaires. Notre but est de développer une règle de reconstruction adaptée aux catégories de données biaisées. Nous proposons une nouvelle règle, la Reconstruction Rule par sélection, qui, dans le schéma ‘One-per-Class’, utilise la fiabilité, des étiquettes et des distributions a priori pour permettre de calculer une décision finale. Les tests démontrent que la performance du système s’améliore en utilisant cette règle plutôt que des règles classiques. Nous étudions également les règles dans l’ ‘Error Correcting Output Code’ (ECOC) décomposition. Inspiré par une règle de reconstitution de données statistiques conçue pour le ‘One-per-Class’ et ‘Pair-Wise Coupling’ des approches sur la décomposition, nous avons développé une règle qui s’applique à la régression ‘softmax’ sur la fiabilité afin d’évaluer la classification finale. Les résultats montrent que ce choix améliore les performances avec respect de la règle statistique existante et des règles de reconstructions classiques. Sur ce thème d’estimation fiable nous remarquons que peu de travaux ont porté sur l’efficacité de l’estimation postérieure dans le cadre de boosting. Suivant ce raisonnement, nous développons une estimation postérieure efficace en boosting Nearest Neighbors. Utilisant Universal Nearest Neighbours classification nous prouvons qu’il existe une sous-catégorie de fonctions, dont la minimisation apporte statistiquement de simples et efficaces estimateurs de Bayes postérieurs. / Disproportion among class priors is encountered in a large number of domains making conventional learning algorithms less effective in predicting samples belonging to the minority classes. We aim at developing a reconstruction rule suited to multiclass skewed data. In performing this task we use the classification reliability that conveys useful information on the goodness of classification acts. In the framework of One-per-Class decomposition scheme we design a novel reconstruction rule, Reconstruction Rule by Selection, which uses classifiers reliabilities, crisp labels and a-priori distributions to compute the final decision. Tests show that system performance improves using this rule rather than using well-established reconstruction rules. We investigate also the rules in the Error Correcting Output Code (ECOC) decomposition framework. Inspired by a statistical reconstruction rule designed for the One-per-Class and Pair-Wise Coupling decomposition approaches, we have developed a rule that applies softmax regression on reliability outputs in order to estimate the final classification. Results show that this choice improves the performances with respect to the existing statistical rule and to well-established reconstruction rules. On the topic of reliability estimation we notice that small attention has been given to efficient posteriors estimation in the boosting framework. On this reason we develop an efficient posteriors estimator by boosting Nearest Neighbors. Using Universal Nearest Neighbours classifier we prove that a sub-class of surrogate losses exists, whose minimization brings simple and statistically efficient estimators for Bayes posteriors.

Les technologies d'empilement vertical de circuits intégrés, plus connues sous le terme « intégration 3D », ont connu un développement important durant les six dernières années, dans l'optique de proposer une alternative aux approches bidimensionnelles traditionnelles comme les Systems on Chip (SoC). Cette nouvelle architecture a été adaptée au domaine du packaging des circuits intégrés à travers le packaging en 3D réalisé à l'échelle de la plaque ou 3D-WLP pour 3D-Wafer Level Packaging. L'intégration 3D-WLP permet une diminution des tailles des dispositifs finaux, une augmentation de la densité des interconnexions ainsi qu'une réduction des coûts de fabrication. La maîtrise de la réalisation des via traversant, ou TSV pour Through Silicon Via, est une étape clé qui permet d'assurer une connexion électrique entre les différents niveaux empilés. On s'intéresse dans ces travaux de thèse au TSV dans son approche via-last, c'est-à-dire fabriqué en face arrière du dispositif, après les transistors et les niveaux de métallisation de la face avant, et plus particulièrement à l'étape de passivation organique des TSV. En effet, ce via traversant est d'un diamètre trop important pour être complètement rempli avec sa métallisation en cuivre. L'étude concerne donc une solution incluant un remplissage en polymère afin d'améliorer la solution existante en termes de fiabilité et de compatibilité avec des empilements verticaux supplémentaires. / 3D integration technologies for integrated circuits have been widely developed during the six last years in order to propose an alternative to bi-dimensional approaches such as the Systems on Chip (SoC). This new architecture is also used for integrated circuits packaging through 3D-Wafer Level Packaging (3D-WLP). Thus, vertical stacking allows smaller package footprint, higher interconnection density and lower fabrication costs. Through silicon via (TSV) is a key technology that insures vertical electrical interconnection between the stacked levels. This thesis deals with the via-last approach which consists in realizing the TSV at the back-side of the wafer, after the Front End Of the Line (FEOL) and the Back End Of the Line (BEOL), both located at the front-side. During the metallization steps, only a copper liner is electroplated in the TSV since its diameter is too large to achieve a complete metal filling. This study focuses on the TSV polymer insulation step and more specifically, a solution including a TSV polymer filling in order to improve the existing configuration in terms of reliability and compatibility with further 3D stacking.

Les machines électriques polyphasées présentent des avantages intrinsèques (fractionnement de la puissance, faible ondulation du couple) par rapport à leurs équivalents triphasés qui sont appréciés notamment pour la propulsion navale. Structurellement, ces machines disposent également de capacités de reconfiguration du fait des redondances offertes par leur grand nombre de phases. L'exploitation de ces capacités est susceptible d'augmenter leur sûreté de fonctionnement en adoptant des modes de marche dégradée. Les travaux présentés proposent une méthode permettant de quantifier la fiabilité de toute la chaine de conversion. Le convertisseur statique y est particulièrement étudié car ses composants constituent un point faible en matière de fiabilité dans le système polyphasé. Des bases virtuelles continues de ces composants sont développées afin de s'affranchir des effets de quantification. Les principaux facteurs de stress sont identifiés et intégrés dans l'évaluation des taux de défaillance des différents éléments du système. Les modèles de Markov sont exploités pour prendre en compte les effets des reconfigurations sur la fonction de fiabilité. Un critère couplant la performance et à la fiabilité est introduit afin de caractériser les modes de marche dégradée dans l'évaluation de la fiabilité du système. Des exemples d'application de la méthode sur des systèmes issus essentiellement de l'environnement maritime sont exposés en intégrant leur topologie, leur profil de mission et leur stratégie de commande, ceux-ci influençant fortement les facteurs de stress. Enfin une étude de sensibilité de l'impact de la variabilité des données d'entrée sur la fonction de fiabilité est proposée. / Electrical multi-phase machines exhibit intrinsic advantages (power subdivision, weak torque ripple) compared to 3-phase machines. Multi-phase machines are appreciated for marine propulsion. They own reconfiguration capabilities due to redundancy because of their high number of phases. Those capabilities are able to improve multi-phase machines reliability by using degraded modes. Presented work proposes a methodology to quantify the multi-phase system reliability. Static converter is particularly investigated as its components are a weak point in the system. Continuous virtual bases of the components are developed to prevent quantification effects. Main stressors are identified and included in the failure rates assessment of the different system components. Markov models are used to take into account the reconfiguration consequences onto the reliability function. A coupled criterion performance-reliability is introduced to characterize degraded modes into the reliability assessment. Examples of the method application from marine environment are exhibited including their topology, mission profile and control strategy, which strongly influence the stressors. A sensitivity analysis is proposed showing the input data scattering effect onto the reliability function.

L'objectif principal de cette thèse est l'étude de la fiabilité des cartes électroniques. Ces cartes sont utilisées dans plusieurs domaines, tels que l’industrie automobile, l’aéronautique, les télécommunications, le secteur médical, ..., etc. Elles assurent toutes les fonctions nécessaires au bon fonctionnement d’un système électronique. Les cartes électroniques subissent diverses sollicitations (mécaniques, électriques et thermiques) durant la manipulation et la mise en service. Ces sollicitations sont dues aux chutes, aux vibrations et aux variations de température. Elles peuvent causer la rupture des joints de brasage des composants électroniques. Cette rupture entraine la défaillance du système électronique complet. Les objectifs de ce travail sont: - Développer un modèle numérique pour la simulation du drop-test d’une carte électronique ; - Prédire la durée de vie en fatigue des joints de brasure en tenant compte des incertitudes des diverses variables ; - Développer une méthode d’optimisation fiabiliste pour déterminer la géométrie optimale qui assure un niveau cible de fiabilité d’une carte électronique ; - Application d’une nouvelle méthode hybride d’optimisation pour déterminer la géométrie optimale d’une carte électronique et d’un joint de brasure. Cette thèse a donné lieu à deux publications dans une revue indexée, et deux projets de publication et quatre communications dans des manifestations internationales. / The main objective of this thesis is to study the electronics’ cards reliability. These cards are used in many fields, such as automotive, aerospace, telecommunications, medical. They provide all necessary electronic functions for well functioning of an electronic system. Electronic cards are undergoing various extreme stresses (mechanical, electrical, and thermal) when handling and commissioning. These stresses are due to drops, vibration and temperature variations. They may cause solder joints failures’ of electronic components. This may causes the failure of the entire electronic system. The objectives of this work are: To develop a numerical model to simulate the drop test of an electronic card; To predict the fatigue life of solder joints in uncertain environment of the variables; To develop a reliability-optimization method to determine the optimal geometry providing a targeted reliability level of an electronic card; To apply a new hybrid optimization method in order to determine the optimal geometry both of an electronic card and a solder joint.

Le Nitrure de Gallium est devenu un matériau incontournable pour le développement de dispositifs semi-conducteurs aux performances très supérieures aux composants silicium. L'immense potentiel du dispositif HEMT AlGaN / GaN provient du gaz d'électrons à haute densité et à forte mobilité formé au niveau de son hétéro-structure. Cependant, le fonctionnement sous champ électrique, température et conditions de stress élevés rend le dispositif vulnérable aux problèmes de fiabilité qui limitent son efficacité et sa durée de vie. Les pièges présents dans la structure, qui limitent la densité porteurs du canal et pénalisent la réponse du dispositif, constituent le facteur majeur déterminant plusieurs effets électriques parasites et la fiabilité du dispositif. L’industrie du GaN est confrontée à la nécessité de disposer de dispositifs de haute fiabilité si bien qu’il est nécessaire de faire des progrès dans l’analyse de l’impact des pièges pour en déduire des solutions technologiques permettant leur inhibition.La motivation de ce travail est d’identifier les signatures électriques associées à l’activité de différents pièges ainsi que leurs conséquences sur les performances et la fiabilité des HEMT GaN grâce à une étude dédiée des dispositifs de la technologie GH-25 conçue pour des applications RF de puissance fonctionnant jusqu’à 20 GHz. L’étude utilise des simulations physiques TCAD. Une analyse détaillée des effets indépendants et interdépendants est réalisée afin d'identifier l'impact relatif des pièges pour des études de cas où les caractéristiques électriques présentent des écarts importants par rapport à la réponse idéale du dispositif.La méthodologie utilisée pour développer un modèle TCAD représentatif et dérivé de la physique interne est décrite en accordant une attention particulière au courant de fuite de grille qui reflète l'influence de processus physiques fondamentaux ainsi que les effets parasites couramment rencontrés dans les dispositifs GaN. Les simulations ciblées établissent un lien entre l'observation d'un problème de fiabilité et son origine sous-jacente dans les phénomènes de piégeage.L’établissement d’associations entre la localisation spatiale des pièges et les dégradations qu’ils pourraient provoquer est un objectif important de cette thèse.Plusieurs stratégies de simulation sont présentées, permettant d’explorer le comportement des pièges en régime permanent et en régime transitoire et donnant une perception détaillée de la manière dont les paramètres des pièges affectent les caractéristiques opérationnelles. Des approches pour distinguer les interactions de pièges différents sont également décrites. L’étude centrale de cette thèse est un phénomène de courant de fuite parasite complexe, identifié dans le procédé GH 25comme conséquence du vieillissement accéléré. Connu sous le nom de «belly-shape», il représente un exemple intéressant de la façon dont les stratégies développées peuvent être appliquées pour discerner la causalité, l'impact et l'évolution des pièges responsables du phénomène. Afin d'approfondir l'analyse des modes de piégeage, nous avons procédé à des tests de vieillissement accéléré et des caractérisations électro-optiques afin de modifier la dynamique générale du mécanisme de piégeage et d'observer la modulation du mécanisme du piégeage sur la réponse du dispositif. / Gallium Nitride has emerged as a terrific contender to lead the future of the semiconductor industry beyond the performance limits of silicon.The immense potential of the AlGaN/GaN HEMT device is derived from the high density, high mobility electron gas formed at its hetero-structure. However, frequent subjection to high electric field, temperature and stress conditions makes the device vulnerable to reliability issues that restrict its efficiency and life time. A dominant contributor to several parasitic and reliability issues are traps present within the semiconductor structure which restrict the channel density and aggravate the device static and dynamic response. As the GaN industry addresses an increasing demand for superior devices, reliability analysis is of critical importance. There is a necessity to enable advancements in trap inhibition which would allow the realization of stronger, efficient devices.The motivation of this work is to recognize distinct ways in which various traps affect the performance and reliability metrics of GaN 0.25 µm HEMTs through a study of devices of the GH-25 process optimized for high power applications up to 20 GHz. The investigation employs physical TCAD simulations to provide insight and perspective to electrical and optical characterizations. Detailed analysis into independent and interrelated effects is performed to identify the relative impact of traps in circumstances presenting notable deviations from the ideal device response.The methodology to develop a representative TCAD model derived closely from internal physics is described with special focus on the sensitive gate leakage characteristic which reflects the influence of fundamental physical processes as well as parasitic effects commonly encountered in GaN HEMTs. Targeted simulations provide a pivotal link between the observation of a reliability issue and its underlying origin in trapping phenomena. Establishing associations between the spatial location of traps and the degradations they could trigger is an important objective of this thesis.Several simulation strategies that explore trapping behavior in various steady state and transient environments are discussed which allow detailed perception into the manner and extent to which trap attributes affect operational considerations. Approaches to distinguish disparate trap interactions are also described. The central case study in this thesis is an abstruse parasitic leakage phenomenon, identified in the GH 25 process as a consequence of aging stress. Referred to as the “belly shape”, it presents an interesting example of how the developed strategies can be applied to discern the causality, impact and evolution of the responsible traps. In order to take a deeper look into trapping modes, further aging and LASER characterizations are performed to alter the general occupational dynamics and observe the modulation of trap control over device response.

La courbe S-N est le moyen le plus courant d'analyse et de prédiction de la durée de vie d'un matériau, d'un composant ou d'une structure. Cependant, les modèles standards, qu'ils soient basés sur la théorie de la rupture ou sur des modèles probabilistes n'ajustent pas la courbe dans la totalité sans information sur la microstructure du matériau. Or, cette information provient d'analyses fractographiques souvent coûteuses et rarement disponibles dans le cadre d'une production industrielle. D'un autre côté, les modèles statistiques ne proposent pas d'interprétation matériau et ne peuvent pas être utilisées pour réaliser des prévisions. Les résultats d'un test de fatigue sont par ailleurs très dispersés, plus particulièrement pour les fortes durées de vie, lieu d'apparition d'un phénomène de bi-modalité. Ces constats sont la raison de la proposition d'un nouveau modèle probabiliste. Celui-ci est composé d'un modèle de mélange spécifique, prenant en compte l'approche apportée par la mécanique de la rupture sans nécessiter de d'information supplémentaire sur la microstructure du matériau. Il utilise le fait que la fatigue peut être vue comme la somme d'un amorçage de fissure suivi de sa propagation. Les paramètres du modèle sont estimés à l'aide d'un algorithme EM, où la phase de maximisation combine une méthode d'optimisation de Newton-Raphson et une intégration de type Monte-Carlo. Le modèle "amorçage-propagation" offre une représentation parcimonieuse des courbes $S-N$ dont les paramètres peuvent être facilement interprétés par des ingénieurs matériau. Ce modèle a été testé à l'aide de simulations et appliqué à des données réelles (données sur l'Inconel 718). Ceci nous a permis de mettre en évidence le bon ajustement du modèle à nos données, et ce, pour toutes les déformations disponibles. / S-N curve is the main tool to analyze and predict fatigue lifetime of a material, component or structure. But, standard models based on mechanic of rupture theory or standard probabilistic models for analyzing S-N curves could not fit S-N curve on the whole range of cycles without microstructure information. This information is obtained from costly fractography investigation rarely available in the framework of industrial production. On the other hand, statistical models for fatigue lifetime do not need microstructure information but they could not be used to service life predictions because they have no material interpretation. Moreover, fatigue test results are widely scattered, especially for High Cycle Fatigue region where split $S-N$ curves appear. This is the motivation to propose a new probabilistic model. This model is a specific mixture model based on a fracture mechanic approach, and does not require microstructure information. It makes use of the fact that the fatigue lifetime can be regarded as the sum of the crack initiation and propagation lifes. The model parameters are estimated with an EM algorithm for which the maximisation step combines Newton-Raphson optimisation method and Monte Carlo integrations. The resulting model provides a parsimonious representation of S-N curves with parameters easily interpreted by mechanic or material engineers. This model has been applied to simulated and real fatigue test data sets. These numerical experiments highlight its ability to produce a good fit of the S-N curves on the whole range of cycles.