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TEM-Untersuchungen an Silicidschichten

Schubert, Andreas 01 December 2005 (has links) (PDF)
In dieser Arbeit wurden Ni-Si-Ga-Schichten mit Hilfe der Transmissionselektronenmikroskopie charakterisiert.
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On the determination of film stress from substrate bending: STONEY´s formula and its limits

Schwarzer, Norbert, Richter, Frank 08 February 2006 (has links) (PDF)
The paper examines the problem of film stress applying a correct three dimensional model. The results are compared with two different forms of Stoney´s equation existing in the Litera-ture and being widely used in the determination of stresses in thin films. It is shown theoretically that only one of the forms is based on an adequate model and yields accurate results whereas the other causes errors of about 30-40 % for typical substrate materi-als. In addition limits for the applicability of the correct Stoney equation are given.
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Optical Properties of Sputtered Tantalum Nitride Films Determined by Spectroscopic Ellipsometry

Waechtler, Thomas, Gruska, Bernd, Zimmermann, Sven, Schulz, Stefan E., Gessner, Thomas 16 March 2006 (has links) (PDF)
Tantalum and tantalum nitride thin films are routinely applied as diffusion barriers in state-of-the-art metallization systems of microelectronic devices. In this work, such films were prepared by reactive magnetron sputtering on silicon and oxidized silicon substrates and studied by spectroscopic ellipsometry in the spectral range from 190 nm to 2.55 μm. The complex refractive index for thick films (75 to 380 nm) was modeled using a Lorentz-Drude approach. These models were applied to film stacks of 20 nm TaN / 20 nm Ta on unoxidized and thermally oxidized Si. With free oscillator parameters, accurate values of the film thicknesses were obtained according to cross-sectional scanning electron microscope (SEM) measurements. At the same time, a strong variation of the optical properties with film thickness and substrate was observed.
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Molecular Orientation and Electronic Interactions in Organic Thin Films Studied by Spectroscopic Ellipsometry

Gordan, Ovidiu Dorin 09 November 2006 (has links) (PDF)
In this work the molecular growth mode of several organic molecules was studied using a combination of variable angle spectroscopic ellipsometry (VASE) and Infrared spectroscopy (IR) as investigations tools. As organic systems several Phthalocyanine molecules, 3,4,9,10-perylenetetracarboxylic dianhydride (PTCDA), tris-(8-hydroxyquinoline)-aluminum(III) (Alq3) / N,N’-Di-[(1-naphthyl)-N,N’-diphenyl]-(1,1’-biphenyl)-4,4’-diamine (a-NPD) were investigated. The ordered growth of the Pcs and PTCDA and their intrinsic optical anisotropy of their planar molecular structure give rise to highly anisotropic layers. In contrast with the planar molecules, Alq3 and a-NPD form homogenous isotropic films with a very low surface roughness. As a non-destructive and very surface sensitive technique, ellipsometry allows the thickness, the surface roughness and optical constants to be accurately determined. From the strong in-plane /out-of-plane anisotropy of the dielectric function the average molecular orientation angle of the Pc’s molecules was determined. The knowledge of the molecular orientation combined with the information accessible from the shape of the Q-band of the Pc can provide an insightful picture of the molecular growth. While the Pc layers grown on HV condition grow with the b-axis (stacking axis) perpendicular to the substrate and F16PcVO lies on the KBr substrates, the Pc samples prepared in UHV adopt a parallel to the substrate b-axis configuration. These results were confirmed by reflection IR measurements performed in s and p polarization. The ellipsometric studies on heterostructures proved that PTCDA has a template effect on the Pc growth and the interaction between this two molecules affects the optical response at the interfaces. In contrast with this system where rough interfaces were assumed in the model, the combination Alq3 / a-NPD gives sharp optical interfaces. The in-situ measurements performed at BESSY proved that sub-monolayer sensitivity can be achieved in the VUV range using spectroscopic ellipsometry and moreover the dielectric function of these ultra-thin films can be determined. A spectral shift towards higher energies of the Alq3 and a-NPD features was observed for sub-monolayers on silicon substrate when compared with the bulk reference. The smaller shift observed for the Alq3 sub-monolayers on ZnO substrate indicate that the effect of the silicon substrate has to be taken into account when explaining the spectral behaviour of the sub-monolayers. / In dieser Arbeit wurde das Wachstum von organischen Molekülschichten mit Hilfe einer Kombination aus spektroskopischer Ellipsometrie mit variablem Einfallswinkel "Variable Angle Spectroscopic Ellipsometry (VASE)" und Infrarotspektroskopie (IR) untersucht. Als organische Systeme wurden verschiedene Phthalocyaninmoleküle (Pc), 3,4,9,10-Perylentetracarbonsäure Dianhydrid (PTCDA) und tris-(8-hydroxochinolin)-Aluminium(III) (Alq3) / N,N’-Di-[(1-naphthyl)-N,N’-diphenyl]-(1,1’-biphenyl)-4,4’-diamin (α-NPD) betrachtet. Das geordnete Wachstum der Pcs und von PTCDA führt, bedingt durch die intrinsische optische Anisotropie der planaren organischen Moleküle, zu hochgradig anisotropen Schichten. Im Gegensatz zu den planaren Molekülen bilden Alq3 und α-NPD homogene isotrope Filme mit einer sehr geringen Oberflächenrauigkeit aus. Als eine nicht destruktive und sehr oberflächensensitive Technik, erlaubt es die Ellipsometrie, die Dicke, die Oberflächenrauigkeit und die optischen Konstanten genau zu bestimmen. Aus der starken in-plane / out-of-plane Anisotropie der dielektrischen Funktion wurde der mittlere molekulare Orientierungswinkel der Pc-Moleküle bestimmt. Die Kenntnis der molekularen Orientierung, verknüpft mit der in der Form des Q-Bandes der Pc-Moleküle enthaltenen Information, gewährt Einblick in das molekulare Wachstumsverhalten. Während die Pc-Schichten unter Hochvakuumbedingungen mit der b-Achse (Stapelachse) senkrecht zum Substrat wachsen und F16PcVO sich flach auf die KBr-Substrate legt, nehmen die unter Ultrahochvakuumbedingungen hergestellten Pc-Proben eine parallel zum Substrat liegende b-Achsenanordnung ein. Diese Ergebnisse wurden mit IR-Messungen bestätigt, welche in s- und p-Polarisation durchgeführt wurden. Die ellipsometrischen Untersuchungen an Heterostrukturen haben bewiesen, dass PTCDA einen Template-Effekt auf das Wachstum der aufwachsenden Pc-Schicht hat und dass die Wechselwirkung zwischen diesen beiden Molekülen die Reaktion an der Grenzflächenschicht beeinflusst. Im Gegensatz zu diesem System, bei dem raue Grenzflächen im Modell verwendet wurden, ergibt die Kombination Alq3 / α-NPD scharfe Grenzflächen. Die in-situ-Messungen, welche bei BESSY durchgeführt wurden, bewiesen, dass Submonolagensensitivität im Vakuum-ultravioletten Spektralbereich mit Hilfe der spektroskopischen Ellipsometrie erreicht und zudem die dielektrische Funktion bestimmt werden kann. Verglichen mit dicken Schichten als Referenz, wurde auf Siliziumsubstraten für Submonolagen eine spektrale Verschiebung der Alq3- and α-NPD-Absorptionsbanden zu höheren Energien beobachtet. Die kleinere Verschiebung, die für Alq3-Submonolagen auf ZnO-Substraten beobachtet wurde, deutet an, dass der Einfluss des Siliziumsubstrates in Betracht gezogen werden muss, wenn man das spektrale Verhalten der Submonolagen erklären will.
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Die glasartige Dynamik von Polymeren mit spezieller Architektur in eingeschränkter Geometrie dünner Filme

Erber, Michael 08 September 2010 (has links) (PDF)
Die glasartige Dynamik in nanoskaligen Polymergeometrien ist ein hochaktuelles Forschungsgebiet, dessen Komplexität durch zahlreiche kontroverse Ergebnisse in der Fachliteratur unterstrichen wird. Die vorliegende Dissertation liefert zu dieser Thematik einen fundierten experimentellen Beitrag, indem erstmals an identisch präparierten Polymerfilmen mittels Kombination unterschiedlicher Analysemethoden (Ellipsometrie, Breitband Dielektrischer Spektroskopie, Röntgenreflektometrie) die Glasübergangstemperatur (Tg) in begrenzter Geometrie dünner Filme bestimmt wurde. Folgende Aspekte, die zum Verständnis der glasartigen Dynamik in dünnen Filmen dienen, werden in dieser Arbeit aufgegriffen: I) Welchen Einfluss haben attraktive, repulsive Grenzflächenwechselwirkungen zwischen Polymer und Substrat; II) Welche Rolle spielt die Polymerarchitektur (linear, verzweigt, hochverzweigt); III) Zeigen unterschiedliche Analysemethoden vergleichbare Ergebnisse und IV) In welcher Weise beeinflussen präparative und experimentelle Faktoren den Glasübergang in dünnen Filmen.
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Effects of Nanoscale Confinement on the Structure and Dynamics of Glass-forming Systems

Kipnusu, Wycliffe Kiprop 15 October 2015 (has links) (PDF)
Structure and dynamics of nanoconfined glass-forming oligomers and diblock coplymers (BPCs) are investigated by a combination of infrared transition moment orientational analysis (IR-TMOA), positron annihilation lifetime spectroscopy (PALS), grazing incidence small angle X-ray scattering (GISAXS), atomic force microscopy (AFM), scanning electron microscopy (SEM) and broadband dielectric spectroscopy (BDS). The oligomers probed are the van der Waals type, tris(2-ethyhexyl)phosphate (TEHP) and the self-associating molecules of 2-ethyl-1-hexanol (2E1H). Symmetric and asymmetric poly(styrene-b-1,4-isoprene) P(S-b-I) are studied for the case of BCPs. The samples are confined either in one-dimensional (1D) in form of thin films or in 2D (nanopores) geometrical constraints. The molecular order of TEHP in nanopores as studied by IR-TMOA shows that about 7% of the molecules are preferentially oriented perpendicular to the long axis of the pores due to their interaction with the pore walls. PALS results reveal that 2E1H confined in nanopores exhibit larger free volume with respect to the bulk. In thin films (1D), P(S-b-I) having volume fraction of isoprene blocks f(PI)= 0.55 exhibits randomly oriented lamellae and their thicknesses are directly proportional to the film thickness d(film). For f(PI) = 0.73, perpendicular cylinders with respect to the substrate are observed for d(film)>50 nm but they lie along the substrate plane when d(film) < 50 nm. In AAO pores (2D) with average pore diameter d(pore) of 150 nm, straight nanorods are formed which change to helical structures in 18 nm pores. Molecular dynamics of 2E1H and TEHP constrained in nanopores (2D), is influenced by the interplay between confinement and surface effects. Confinement effects show up as an increase in the structural relaxation rate with decreasing pore sizes at the vicinity of the glass transition temperature. This is attributed to the reduced packing density of the molecules in pores as quantified by PALS results for 2E1H. Whereas the orientation and morphologies of the domains in P(S-b-I) and the chain dynamics of isoprene chains are influenced by the finite--size and dimensionality of confinement, the segmental motion, related to the dynamic glass transition (DGT) of both styrene and isoprene blocks remains unaffected-in its relaxation time-within experimental accuracy. Effects of nanoscale confinement on the molecular dynamics therefore depend on a number of factors: the type of molecules (polymers, low molecular liquids), interfacial interactions and the dimensionality of the constraining geometries.
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Hierarchical Preconditioners and Adaptivity for Kirchhoff-Plates

Meyer, Arnd 17 September 2008 (has links) (PDF)
We describe a preconditioner for the Kirchhoff plate equation for use of Bogner-Fox-Schmidt finite elements based on a hierarchical technique.
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Nanoanalyse höchster Auflösung von metallischen Schichtsystemen

Schleiwies, Jörg 03 May 2001 (has links)
No description available.
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Mechanismen und Größeneffekte von Ermüdungsschädigungen in dünnen Kupfer filmen bei sehr hohen Zyklenzahlen / Mechanism and scaling effects of very high cycle fatigue thin copper films

Trinks, Clemens 18 April 2013 (has links)
No description available.
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Strukturuntersuchungen von Chromdisilicid - Schichten

Henning, Anke 11 April 2002 (has links)
CrSi2 ist eines der wenigen halbleitenden Silicide. Wegen seiner hohen thermischen und chemischen Stabilität ist es einerseits für thermoelektrische Anwendungen geeignet, andererseits kommt es auch für photovoltaische und mikro-elektronische Applikationen in Frage. Vorraussetzung ist oftmals eine definierte Silizium(001)-Silicid Grenzfläche. Aus diesem Grunde wurden dünne CrSi2-Schichten in einer MBE-Anlage unter UHV-Bedingungen auf n-Si(001) Substrat gewachsen. Die sich ergebene Schichtmorphologie wurde in Abhängigkeit von unterschiedlichen Herstellungsparametern mittels TEM und REM untersucht. Des weiteren wurden die Schichten mit Hilfe von Elektronen- und Röntgenbeugung hinsichtlich bevorzugt auftretender Epitaxiebeziehungen charakterisiert.

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