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11	Zum Einfluss der elastischen Verzerrungsenergie auf die Frühstadien der Entmischung von Cu2at.%Co / On the influence of elastic strain energy on the early stages of decomposition in Cu2at.%Co Heinrich, Alexander 22 August 2005 (has links) No description available. 530 Physik Mathematics and Computer Science CuCo elastische Verzerrung FIIT FIM TAP Tomographie Feldionenbildtomographie radiale Verteilungsfunktion spinodal CuCo elastic strain energy FIIT FIM TAP Tomography Field Ion Image Tomography radial distribution function spinodal 33.61 33.05 RVS 700: Mikrostruktur Gefüge- {Physik}
12	Strukturbildung und Rauigkeiten an Grenzflächen des Ni-Ag-Legierungssystems / Structure Formation and Roughnesses at Interfaces of the Ni-Ag Alloy System Petersen, Jan 21 April 2008 (has links) No description available. 530 Physik Mathematics and Computer Science Selbstorganisation Entnetzung Rippelbildung Ionenstrahl Nanostrukturen Nanodrähte Glättung Grenzfläche NiAg self-organization self-assembly dewetting ripple formation ion beam nanostructures nanowires smoothing interface NiAg 33.68
13	Selbstorganisation magnetischer Nanopartikel auf facettierten Saphir-Substraten / self-organisation of magnetic nanoparticles on faceted sapphire substrates Herweg, Carsten 18 March 2005 (has links) No description available. 530 Physik Mathematics and Computer Science Selbstorganisation Facetten Nanopartikel Vielfachschichten Nanodrähte self-organisation self-assembling facets nanoparticles multilayer nanowires 33.68 33.61 RVS 700: Mikrostruktur Gefüge- {Physik} SL000
14	Transmissionselektronenmikroskopische Untersuchungen zur Koausscheidung von Übergangselementen in kristallinem Silizium / Co-precipitation of transition metal impurities in crystalline silicon investigated by transmission electron microscopy Rudolf, Carsten 24 February 2009 (has links) No description available. 530 Physik Mathematics and Computer Science Silizium metallische Verunreinigungen Metallsilizidausscheidungen Elektronenmikroskopie ternäre Phasen silicon metal impurities metal silicide precipitates ternary phases electron microscopy 33.05 33.61 33.72 RPV 750: Elektronenmikroskopie {Physik} RDE 000: Experimentalphysik RVQ 000: Halbleiter {Physik}
15	Laser-Carburisierung von Eisen und Edelstahl / Laser-Carburizing of Iron and Stainless Steel Kahle, Michael 11 January 2006 (has links) No description available. 530 Physik Mathematics and Computer Science Laser Methan Eisen θ-Carbid ε-Carbid Edelstahl Mössbauer amorph Kohlenstoff laser methane iron θ-carbide ε-carbide stainless steel Mössbauer amorphous carbon 33.61 33.68 51.10
16	Ion-beam induced changes of magnetic and structural properties in thin Fe films / Ionenstrahl induzierte Modifikation magnetischer und struktureller Eigenschaften dünner Eisenfilme Müller, Georg Alexander 20 January 2004 (has links) No description available. Mathematics and Computer Science Ionenbestrahlung induzierte magnetische Anisotropie polykristalline dünne Eisenfilme Defektstruktur Elektronenstrahl Deposition PLD MOKE MOMS Spannungsanalyse RBS 530 Physik ion irradiation induced magnetic anisotropy polycrystalline thin Fe films defect structure electron-beam deposition PLD MOKE stress analysis RBS 33.05 33.68 33.75
17	Wachstumsanalyse amorpher dicker Schichten und Schichtsysteme / Growth analysis of thick amorphous films and multilayers Streng, Christoph 18 May 2004 (has links) No description available. Mathematics and Computer Science Dünne Schichten dicke Schichten Multilagen UHV Elektronenstrahlverdampfen metallische Gläser Rastertunnelmikroskopie Rasterkraftmikroskopie Oberflächenmorphologie diffuse Röntgenstreuung Röntgenreflektivität Molekulardynamiksimulation Kontinuumsmodell 530 Physik Thin films thick films multilayers UHV electron beam evaporation metallic glasses scanning tunneling microscopy scanning force microscopy surface morphology diffuse X-ray scattering X-ray reflection molecular dynamics simulation continuum model stochastic partial differential equation 33.66 33.68
18	Wachstumsanalyse amorpher dicker Schichten und Schichtsysteme / Growth analysis of thick amorphous films and multilayers Streng, Christoph 18 May 2004 (has links) No description available. Mathematics and Computer Science Dünne Schichten dicke Schichten Multilagen UHV Elektronenstrahlverdampfen metallische Gläser Rastertunnelmikroskopie Rasterkraftmikroskopie Oberflächenmorphologie diffuse Röntgenstreuung Röntgenreflektivität Molekulardynamiksimulation Kontinuumsmodell 530 Physik Thin films thick films multilayers UHV electron beam evaporation metallic glasses scanning tunneling microscopy scanning force microscopy surface morphology diffuse X-ray scattering X-ray reflection molecular dynamics simulation continuum model stochastic partial differential equation 33.66 33.68
19	Hydrogen in V-Fe thin films and Fe/V-Fe multi-layered thin films / Wasserstoff in V-Fe dünnen Schichten und V-Fe/Fe mehrfachschchten Gemma, Ryota 04 May 2011 (has links) No description available. 530 Physik Physics Dünne Schichten Wasserstoff Vanadium Mehrfachschichten Spannungen Schallemission Atomsondentomographie Thin films Hydrogen Vanadium Multilayer Stress Acoustic emission Atom probe tomography 33.61 33.68 35.26 51.10 RVS 700: Mikrostruktur Gefüge- {Physik}
20	Wachstum amorpher Schichten: Vergleich von Experiment und Simulation im Bereich Oberflächenrauhigkeit und mechanische Spannungen / Growth of amorphous thin films: Comparison of experiment and simulation concerning surface roughness and mechanical stresses Mayr, Stefan Georg 01 November 2000 (has links) No description available. 530 Physik Mathematics and Computer Science Dünne Schichten UHV Elektronenstrahlverdampfen Sputtern PLD Metallene Gläser Polymorphe Kristallisation Rastertunnelmikroskopie Oberflächenmorphologie Röntgenbeugung Mechanische Spannungen Elektrische Widerstandsmessung Monte-Carlo-Simulation Molekulardynamiksimulation Kontinuumswachstumsmodell Thin films UHV electron beam evaporation sputtering PLD metallic glasses polymorphous crystallization scanning tunneling microscopy surface morphology X-ray diffraction mechanical stresses electrical resistivity Monte-Carlo simulation molecular dynamics simulation continuum growth model stochastic partial differential equation 33.66 33.68

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