O avanço das tecnologias de circuitos integrados (CIs) levanta importantes questões relacionadas à confiabilidade e à robustez de sistemas eletrônicos. A diminuição da geometria dos transistores, a redução dos níveis de tensão, as menores capacitâncias e portanto menores correntes e cargas para alimentar os circuitos, além das freqüências de relógio elevadas, têm tornado os CIs mais vulneráveis a falhas, especialmente àquelas causadas por ruído elétrico ou por efeitos induzidos pela radiação. Os efeitos induzidos pela radiação conhecidos como Soft Single Event Effects (Soft SEEs) podem ser classificados em: Single Event Upsets (SEUs) diretos em nós de elementos de armazenagem que resultam em inversões de bits; e pulsos transientes Single Event Transients (SETs) em qualquer nó do circuito. Especialmente SETs em circuitos combinacionais podem se propagar até os elementos de armazenagem e podem ser capturados. Estas errôneas armazenagens podem também serem chamadas de SEUs indiretos. Falhas como SETs e SEUs podem provocar erros em operações funcionais de um CI. Os conhecidos Soft Errors (SEs) são caracterizados por valores armazenados erradamente em elementos de memória durante o uso do CI. SEs podem produzir sérias conseqüências em aplicações de CIs devido à sua natureza não permanente e não recorrente. Por essas razões, mecanismos de proteção para evitar SEs através de técnicas de tolerância a falhas, no mínimo em um nível de abstração do projeto, são atualmente fundamentais para melhorar a confiabilidade de sistemas. Neste trabalho de dissertação, uma versão tolerante a falhas de um microprocessador 8-bits de produção em massa da família M68HC11 foi projetada. A arquitetura é capaz de tolerar SETs e SEUs. Baseado nas técnicas de Redundância Modular Tripla (TMR) e Redundância no Tempo (TR), um esquema de proteção foi projetado e implementado em alto nível no microprocessador alvo usando apenas portas lógicas padrões. O esquema projetado preserva as características da arquitetura padrão de tal forma que a reusabilidade das aplicações do microprocessador é garantida. Um típico fluxo de projeto de circuitos integrados foi desenvolvido através de ferramentas de CAD comerciais. Testes funcionais e injeções de falhas através da simulação de execuções de benchmarks foram realizados como um teste de verificação do projeto. Além disto, detalhes do projeto do circuito integrado tolerante a falhas e resultados em área, performance e potência foram comparados com uma versão não protegida do microprocessador. A área do core aumentou 102,64 % para proteger o circuito alvo contra SETs e SEUs. A performance foi degrada em 12,73 % e o consumo de potência cresceu cerca de 49 % para um conjunto de benchmarks. A área resultante do chip robusto foi aproximadamente 5,707 mm². / The advance of the IC technologies raises important issues related to the reliability and robustness of electronic systems. The transistor scale by shrinking its geometry, the voltage reduction, the lesser capacitances and therefore smaller currents and charges to supply the circuits, besides the higher clock frequencies, have made the IC more vulnerable to faults, especially those faults caused by electrical noise or radiationinduced effects. The radiation-induced effects known as Soft Single Event Effects (Soft SEEs) can be classified into: direct Single Event Upsets (SEUs) at nodes of storage elements that result in bit flips; and Single Event Transient (SET) pulses at any circuit node. Especially SETs on combinational circuits might propagate itself up to the storage elements and might be captured. These erroneous storages can be also called indirect SEUs. Faults like SETs and SEUs can provoke errors in functional operations of an IC. The known Soft Errors (SEs) are characterized by values stored wrongly on memory elements during the use of the IC. They can make serious consequences in IC applications due to their non-permanent and non-recurring nature. By these reasons, protection mechanisms to avoid SEs by using fault-tolerance techniques, at least in one abstraction level of the design, are currently fundamental to improve the reliability of systems. In this dissertation work, a fault-tolerant IC version of a mass-produced 8-bit microprocessor from the M68HC11 family was designed. It is able to tolerate SETs and SEUs. Based on the Triple Modular Redundancy (TMR) and Time Redundancy (TR) fault-tolerance techniques, a protection scheme was designed and implemented at high level in the target microprocessor by using only standard logic gates. The designed scheme preserves the standard-architecture characteristics in such way that the reusability of microprocessor applications is guaranteed. A typical IC design flow was developed by means of commercial CAD tools. Functional testing and fault injection simulations through benchmark executions were performed as a design verification testing. Furthermore, fault-tolerant IC design issues and results in area, performance and power were compared with a non-protected microprocessor version. The core area increased by 102.64 % to protect the target circuit against SETs and SEUs. The performance was degraded in 12.73 % and the power consumption grew around 49 % for a set of benchmarks. The resulting area of the robust chip was approximately 5.707 mm².

Variações ambientais e de processo representam um grande desafio a ser vencido pelas redes de distribuição de relógio. O efeito das variações nos atrasos da rede de distribuição de relógio não pode ser previsto com precisão e portanto não podem ser diretamente considerados no projeto das redes de distribuição de relógio. Estruturas baseadas em clock meshes (i.e. clock mesh, clock spines e crosslinks) são a maneira mais eficiente de proteger a rede de relógio do efeito das variações nos atrasos. Clock meshes tem sido utilizados por bastante tempo no projeto de microprocessadores e recentemente foram incluídos no fluxo de síntese de ASICs. Embora o uso de clock meshes esteja aumentando há uma grande necessidade por métodos de analise e otimização dos mesmos. Essa tese propõe soluções para ambos os problemas. Uma metodologia para permitir a simulação elétrica de clock meshes grandes é proposta. O método proposto permite que a simulação dos clock meshes seja paralelizada com um erro menor que 1%. Duas metodologias de otimização também são propostas nessa tese. A primeira consiste em um algoritmo para dimensionamento para os mesh buffers. Esse algoritmo permite que o clock skew e o consumo de potência sejam reduzidos ao custo de aumentar o clock slew. O segundo método de otimização proposto consiste em um novo projeto para os mesh buffers. O novo mesh buffer é capaz de reduzir o clock skew em 22% e o consumo de potencia em 59%. / Process and environmental variations are a great challenge to clock network designers. Variations effect on the clock network delays can not be predicted, hence it can not be directly accounted in the design stage. Clock mesh-based structures (i.e. clock mesh, clock spines and crosslinks) are the most effective way to tolerate variation effects on delays. Clock meshes have been used for a long time in microprocessor designs and recently became supported by commercial tools in the ASIC design flow. Although clock meshes have been known for some time and its use in ASIC design is increasing, there is a lack of good analysis and optimization strategies for clock meshes. This thesis tackles both problems. Chapter 1 presents a basic introduction to clock distribution and important definitions. A review of existent clock dsitribution design strategies is presented in chapter 2. A study about the clock distribution architecture used in several microprocessor and a comparison between mesh-based and pure tree clock distribution architectures is shown in chapter 3.2. A methodology for enabling and speeding up the simulation of large clock meshes is presented in chapter 4. The proposed analysis methodology was shown to enable the parallel evaluation of large clock meshes with an error smaller than 1%. Chapter 5 presents two optimization strategies, a new mesh buffer design and a mesh buffer sizing algorithm. The new mesh buffer design was proposed improving clock skew by 22% and clock power by 59%. The mesh buffer sizing algorithm can reduce clock skew by 33%, power consumption by 20% with at the cost of a 26% slew increase. At last conclusions are presented on chapter 6.

Variações ambientais e de processo representam um grande desafio a ser vencido pelas redes de distribuição de relógio. O efeito das variações nos atrasos da rede de distribuição de relógio não pode ser previsto com precisão e portanto não podem ser diretamente considerados no projeto das redes de distribuição de relógio. Estruturas baseadas em clock meshes (i.e. clock mesh, clock spines e crosslinks) são a maneira mais eficiente de proteger a rede de relógio do efeito das variações nos atrasos. Clock meshes tem sido utilizados por bastante tempo no projeto de microprocessadores e recentemente foram incluídos no fluxo de síntese de ASICs. Embora o uso de clock meshes esteja aumentando há uma grande necessidade por métodos de analise e otimização dos mesmos. Essa tese propõe soluções para ambos os problemas. Uma metodologia para permitir a simulação elétrica de clock meshes grandes é proposta. O método proposto permite que a simulação dos clock meshes seja paralelizada com um erro menor que 1%. Duas metodologias de otimização também são propostas nessa tese. A primeira consiste em um algoritmo para dimensionamento para os mesh buffers. Esse algoritmo permite que o clock skew e o consumo de potência sejam reduzidos ao custo de aumentar o clock slew. O segundo método de otimização proposto consiste em um novo projeto para os mesh buffers. O novo mesh buffer é capaz de reduzir o clock skew em 22% e o consumo de potencia em 59%. / Process and environmental variations are a great challenge to clock network designers. Variations effect on the clock network delays can not be predicted, hence it can not be directly accounted in the design stage. Clock mesh-based structures (i.e. clock mesh, clock spines and crosslinks) are the most effective way to tolerate variation effects on delays. Clock meshes have been used for a long time in microprocessor designs and recently became supported by commercial tools in the ASIC design flow. Although clock meshes have been known for some time and its use in ASIC design is increasing, there is a lack of good analysis and optimization strategies for clock meshes. This thesis tackles both problems. Chapter 1 presents a basic introduction to clock distribution and important definitions. A review of existent clock dsitribution design strategies is presented in chapter 2. A study about the clock distribution architecture used in several microprocessor and a comparison between mesh-based and pure tree clock distribution architectures is shown in chapter 3.2. A methodology for enabling and speeding up the simulation of large clock meshes is presented in chapter 4. The proposed analysis methodology was shown to enable the parallel evaluation of large clock meshes with an error smaller than 1%. Chapter 5 presents two optimization strategies, a new mesh buffer design and a mesh buffer sizing algorithm. The new mesh buffer design was proposed improving clock skew by 22% and clock power by 59%. The mesh buffer sizing algorithm can reduce clock skew by 33%, power consumption by 20% with at the cost of a 26% slew increase. At last conclusions are presented on chapter 6.

O avanço das tecnologias de circuitos integrados (CIs) levanta importantes questões relacionadas à confiabilidade e à robustez de sistemas eletrônicos. A diminuição da geometria dos transistores, a redução dos níveis de tensão, as menores capacitâncias e portanto menores correntes e cargas para alimentar os circuitos, além das freqüências de relógio elevadas, têm tornado os CIs mais vulneráveis a falhas, especialmente àquelas causadas por ruído elétrico ou por efeitos induzidos pela radiação. Os efeitos induzidos pela radiação conhecidos como Soft Single Event Effects (Soft SEEs) podem ser classificados em: Single Event Upsets (SEUs) diretos em nós de elementos de armazenagem que resultam em inversões de bits; e pulsos transientes Single Event Transients (SETs) em qualquer nó do circuito. Especialmente SETs em circuitos combinacionais podem se propagar até os elementos de armazenagem e podem ser capturados. Estas errôneas armazenagens podem também serem chamadas de SEUs indiretos. Falhas como SETs e SEUs podem provocar erros em operações funcionais de um CI. Os conhecidos Soft Errors (SEs) são caracterizados por valores armazenados erradamente em elementos de memória durante o uso do CI. SEs podem produzir sérias conseqüências em aplicações de CIs devido à sua natureza não permanente e não recorrente. Por essas razões, mecanismos de proteção para evitar SEs através de técnicas de tolerância a falhas, no mínimo em um nível de abstração do projeto, são atualmente fundamentais para melhorar a confiabilidade de sistemas. Neste trabalho de dissertação, uma versão tolerante a falhas de um microprocessador 8-bits de produção em massa da família M68HC11 foi projetada. A arquitetura é capaz de tolerar SETs e SEUs. Baseado nas técnicas de Redundância Modular Tripla (TMR) e Redundância no Tempo (TR), um esquema de proteção foi projetado e implementado em alto nível no microprocessador alvo usando apenas portas lógicas padrões. O esquema projetado preserva as características da arquitetura padrão de tal forma que a reusabilidade das aplicações do microprocessador é garantida. Um típico fluxo de projeto de circuitos integrados foi desenvolvido através de ferramentas de CAD comerciais. Testes funcionais e injeções de falhas através da simulação de execuções de benchmarks foram realizados como um teste de verificação do projeto. Além disto, detalhes do projeto do circuito integrado tolerante a falhas e resultados em área, performance e potência foram comparados com uma versão não protegida do microprocessador. A área do core aumentou 102,64 % para proteger o circuito alvo contra SETs e SEUs. A performance foi degrada em 12,73 % e o consumo de potência cresceu cerca de 49 % para um conjunto de benchmarks. A área resultante do chip robusto foi aproximadamente 5,707 mm². / The advance of the IC technologies raises important issues related to the reliability and robustness of electronic systems. The transistor scale by shrinking its geometry, the voltage reduction, the lesser capacitances and therefore smaller currents and charges to supply the circuits, besides the higher clock frequencies, have made the IC more vulnerable to faults, especially those faults caused by electrical noise or radiationinduced effects. The radiation-induced effects known as Soft Single Event Effects (Soft SEEs) can be classified into: direct Single Event Upsets (SEUs) at nodes of storage elements that result in bit flips; and Single Event Transient (SET) pulses at any circuit node. Especially SETs on combinational circuits might propagate itself up to the storage elements and might be captured. These erroneous storages can be also called indirect SEUs. Faults like SETs and SEUs can provoke errors in functional operations of an IC. The known Soft Errors (SEs) are characterized by values stored wrongly on memory elements during the use of the IC. They can make serious consequences in IC applications due to their non-permanent and non-recurring nature. By these reasons, protection mechanisms to avoid SEs by using fault-tolerance techniques, at least in one abstraction level of the design, are currently fundamental to improve the reliability of systems. In this dissertation work, a fault-tolerant IC version of a mass-produced 8-bit microprocessor from the M68HC11 family was designed. It is able to tolerate SETs and SEUs. Based on the Triple Modular Redundancy (TMR) and Time Redundancy (TR) fault-tolerance techniques, a protection scheme was designed and implemented at high level in the target microprocessor by using only standard logic gates. The designed scheme preserves the standard-architecture characteristics in such way that the reusability of microprocessor applications is guaranteed. A typical IC design flow was developed by means of commercial CAD tools. Functional testing and fault injection simulations through benchmark executions were performed as a design verification testing. Furthermore, fault-tolerant IC design issues and results in area, performance and power were compared with a non-protected microprocessor version. The core area increased by 102.64 % to protect the target circuit against SETs and SEUs. The performance was degraded in 12.73 % and the power consumption grew around 49 % for a set of benchmarks. The resulting area of the robust chip was approximately 5.707 mm².

abstract: Digital systems are essential to the technological advancements in space exploration. Microprocessor and flash memory are the essential parts of such a digital system. Space exploration requires a special class of radiation hardened microprocessors and flash memories, which are not functionally disrupted in the presence of radiation. The reference design ‘HERMES’ is a radiation-hardened microprocessor with performance comparable to commercially available designs. The reference design ‘eFlash’ is a prototype of soft-error hardened flash memory for configuring Xilinx FPGAs. These designs are manufactured using a foundry bulk CMOS 90-nm low standby power (LP) process. This thesis presents the post-silicon validation results of these designs. / Dissertation/Thesis / Masters Thesis Electrical Engineering 2016

abstract: Digital systems are increasingly pervading in the everyday lives of humans. The security of these systems is a concern due to the sensitive data stored in them. The physically unclonable function (PUF) implemented on hardware provides a way to protect these systems. Static random-access memories (SRAMs) are designed and used as a strong PUF to generate random numbers unique to the manufactured integrated circuit (IC). Digital systems are important to the technological improvements in space exploration. Space exploration requires radiation hardened microprocessors which minimize the functional disruptions in the presence of radiation. The design highly efficient radiation-hardened microprocessor for enabling spacecraft (HERMES) is a radiation-hardened microprocessor with performance comparable to the commercially available designs. These designs are manufactured using a foundry complementary metal-oxide semiconductor (CMOS) 55-nm triple-well process. This thesis presents the post silicon validation results of the HERMES and the PUF mode of SRAM across process corners. Chapter 1 gives an overview of the blocks implemented on the test chip 25. It also talks about the pre-silicon functional verification methodology used for the test chip. Chapter 2 discusses about the post silicon testing setup of test chip 25 and the validation of the setup. Chapter 3 describes the architecture and the test bench of the HERMES along with its testing results. Chapter 4 discusses the test bench and the perl scripts used to test the SRAM along with its testing results. Chapter 5 gives a summary of the post-silicon validation results of the HERMES and the PUF mode of SRAM. / Dissertation/Thesis / Masters Thesis Electrical Engineering 2017

Neste trabalho descrevemos o desenvolvimento de um analisador de altura de pulsos. Este aparelho é essencial no estudo de sinais oriundos de sensores que detectam fenômenos físicos e codificam as informações na amplitude dos pulsos que fornecem na saída. O sistema compõe-se de um módulo de entrada de sinais conectado a um módulo de controle baseado no microprocessador 8085ª capaz de memorizar pulsos com até 1 uS de largura em 256 canais com resolução melhor que 20mV. Um módulo de comunicação dotado de interface serial é usado para transferência de dados para outros dispositivos através do protocolo RS232c. O módulo de operação e monitoração munido de teclado hexadecimal e saída analógica possibilita a visualização das curvas coletadas num monitor XY. A arquitetura do aparelho e os programas desenvolvidos para este sistema de baixo custo foram otimizados de forma a produzir um tempo morto típico de aproximadamente 100 uS. Como aplicação ele foi utilizado para levantamento de curvas no Laboratório de espelhamento de raios-x a baixo ângulo deste Departamento. O desempenho do aparelho foi testado através de comparações entre seus dados e os obtidos através de um similar, um PHA Northern modelo NS633, e conclui-se pela sua eficiência / This work describes the development of a Pulse height analyzer. This equipment is essential to analyze data coming from detectors producing information codified in pulse amplitudes. The system developed consist of a Signal input module connected to a controller module based on a 8085A microprocessor capable to memorize pulses up to 1 us in 256 channels with a resolution better than 20mV. A Communication module with a serial interface is used for data transfer to a host computer using RS232c protocol. The monitoring and operation module consist of a hexadecimal Keyboard, a 6 digit 7-segment display and a XY monitor. The hardware and the software designed for this low cost system were optimized to obtain a typical dead time of approximately 100 uS. As application, this device was used to acquire curves at the Small Angle x-ray scattering laboratory in this Department. The apparatus performance was tested by comparing its data with a Northern Pulge height analyzer model NS633 output, with favorable results

O avanço das tecnologias de circuitos integrados (CIs) levanta importantes questões relacionadas à confiabilidade e à robustez de sistemas eletrônicos. A diminuição da geometria dos transistores, a redução dos níveis de tensão, as menores capacitâncias e portanto menores correntes e cargas para alimentar os circuitos, além das freqüências de relógio elevadas, têm tornado os CIs mais vulneráveis a falhas, especialmente àquelas causadas por ruído elétrico ou por efeitos induzidos pela radiação. Os efeitos induzidos pela radiação conhecidos como Soft Single Event Effects (Soft SEEs) podem ser classificados em: Single Event Upsets (SEUs) diretos em nós de elementos de armazenagem que resultam em inversões de bits; e pulsos transientes Single Event Transients (SETs) em qualquer nó do circuito. Especialmente SETs em circuitos combinacionais podem se propagar até os elementos de armazenagem e podem ser capturados. Estas errôneas armazenagens podem também serem chamadas de SEUs indiretos. Falhas como SETs e SEUs podem provocar erros em operações funcionais de um CI. Os conhecidos Soft Errors (SEs) são caracterizados por valores armazenados erradamente em elementos de memória durante o uso do CI. SEs podem produzir sérias conseqüências em aplicações de CIs devido à sua natureza não permanente e não recorrente. Por essas razões, mecanismos de proteção para evitar SEs através de técnicas de tolerância a falhas, no mínimo em um nível de abstração do projeto, são atualmente fundamentais para melhorar a confiabilidade de sistemas. Neste trabalho de dissertação, uma versão tolerante a falhas de um microprocessador 8-bits de produção em massa da família M68HC11 foi projetada. A arquitetura é capaz de tolerar SETs e SEUs. Baseado nas técnicas de Redundância Modular Tripla (TMR) e Redundância no Tempo (TR), um esquema de proteção foi projetado e implementado em alto nível no microprocessador alvo usando apenas portas lógicas padrões. O esquema projetado preserva as características da arquitetura padrão de tal forma que a reusabilidade das aplicações do microprocessador é garantida. Um típico fluxo de projeto de circuitos integrados foi desenvolvido através de ferramentas de CAD comerciais. Testes funcionais e injeções de falhas através da simulação de execuções de benchmarks foram realizados como um teste de verificação do projeto. Além disto, detalhes do projeto do circuito integrado tolerante a falhas e resultados em área, performance e potência foram comparados com uma versão não protegida do microprocessador. A área do core aumentou 102,64 % para proteger o circuito alvo contra SETs e SEUs. A performance foi degrada em 12,73 % e o consumo de potência cresceu cerca de 49 % para um conjunto de benchmarks. A área resultante do chip robusto foi aproximadamente 5,707 mm². / The advance of the IC technologies raises important issues related to the reliability and robustness of electronic systems. The transistor scale by shrinking its geometry, the voltage reduction, the lesser capacitances and therefore smaller currents and charges to supply the circuits, besides the higher clock frequencies, have made the IC more vulnerable to faults, especially those faults caused by electrical noise or radiationinduced effects. The radiation-induced effects known as Soft Single Event Effects (Soft SEEs) can be classified into: direct Single Event Upsets (SEUs) at nodes of storage elements that result in bit flips; and Single Event Transient (SET) pulses at any circuit node. Especially SETs on combinational circuits might propagate itself up to the storage elements and might be captured. These erroneous storages can be also called indirect SEUs. Faults like SETs and SEUs can provoke errors in functional operations of an IC. The known Soft Errors (SEs) are characterized by values stored wrongly on memory elements during the use of the IC. They can make serious consequences in IC applications due to their non-permanent and non-recurring nature. By these reasons, protection mechanisms to avoid SEs by using fault-tolerance techniques, at least in one abstraction level of the design, are currently fundamental to improve the reliability of systems. In this dissertation work, a fault-tolerant IC version of a mass-produced 8-bit microprocessor from the M68HC11 family was designed. It is able to tolerate SETs and SEUs. Based on the Triple Modular Redundancy (TMR) and Time Redundancy (TR) fault-tolerance techniques, a protection scheme was designed and implemented at high level in the target microprocessor by using only standard logic gates. The designed scheme preserves the standard-architecture characteristics in such way that the reusability of microprocessor applications is guaranteed. A typical IC design flow was developed by means of commercial CAD tools. Functional testing and fault injection simulations through benchmark executions were performed as a design verification testing. Furthermore, fault-tolerant IC design issues and results in area, performance and power were compared with a non-protected microprocessor version. The core area increased by 102.64 % to protect the target circuit against SETs and SEUs. The performance was degraded in 12.73 % and the power consumption grew around 49 % for a set of benchmarks. The resulting area of the robust chip was approximately 5.707 mm².

[pt] O uso de recursos gráficos se torna cada vez mais comum e necessário a sistemas computacionais de qualquer porte. Este trabalho apresenta um processador gráfico que pode ser utilizado de maneira independente ou subordinado ao sistema CYGNUS - um supermicro desenvolvido nos laboratórios da PUC/RJ. O Projeto baseia-se em circuitos VLSI e no microprocessador Motorola MC68010, de modo a obter um circuito eficiente, versátil e compacto. / [en] Graphics resources are becoming more common and necessary on computer systems of any size. This work describes a graphic processor developed for stand-alone use or integrated to the CYGNUS system, a DEE, PUC/RJ, project of a supermicro. The hadware is based on VLSI circuits and on Motorola´s MC68010 microprocessor. The objective is an efficient, varsatile and compact module.

[pt] A multiprogamação caracteriza-se pelo compartilhamento dos recursos da máquina por vários processos usuários. O ambiente de computação propício para execução destes processos deve incluir dispositivos para relocação de endereços, proteção de memória, estados supervisor e usuário, e uma estrutura flexível de entrada e saída. A implementação de tais sistemas com microprocessadores de 8 bits é problemática, devido ao seu desempenho aquém do desejável para tal propósito. Com o INTEL 8086 iniciou-se a geração dos microprocessadores de 16 bits, com desempenho comparável aos processadores de pequenos minicomputadores. Apesar deste desempenho, esta partilha é voltada par as mesmas aplicações dos microprocessadores de 8 bits: processamento dedicado e sistemas monoprogramados. Por isso não foram previstos mecanismos de suporte à multiprogramação. Esta dissertação apresenta um microcomputador para multiprogramação, baseado no INTEL 8086, em que várias facilidades foram implementadas, por lógica externa, para este fim. São descritos e analisados os vários dispositivos desenvolvidos para que fosse criado um ambiente propício para multiprogramação sem que se deteriorasse o desempenho do processador. Este trabalho recebeu auxílio do CNPq, processo nº 40.2029180, como parte do projeto MULTIPUC. / [en] Machine resources are shared by many processes in multiprogramming systems. The suitable environment to run these processes must include devices for address relocation, memory protection, supervisor and user modes of operation and a flexible input/output structure. It is very hard to implement such systems with 8 bits microprocessors, because their performances don`t file the desirable requirements. The 16 bits microprocessors generation, witch began with INTEL 8086, brougth more powerful processors, with performances as good as the small minicomputers processors. Nevertheless, INTEL 8086 was designed for the same applications as the 8 bits processors: dedicated processing and monoprogrammed systems. It doesn´t support multiprogramming applications. This work presents a microcomputer for multiprogramming, based on INTEL 8086. Many facilities are implemented, with external logic, to create a multiprogramming environmen without degenerate the processor performance. This work was supported by CNPq grant 40.2029180 as part of the project MULTIPUC.