Spelling suggestions: "subject:"dvd"" "subject:"vvd""
181 |
A process recipe for bonding a silicone membrane to a plastic substrateSchönström, Linus, Nordh, Anna, Strignert, Anton, Lemel, Frida, Ekengard, Jakob, Wallin, Sofie, Jabri, Zargham January 2013 (has links)
A spin-cast silicone membrane has been successfully bonded between two injection-molded microstructured plastic discs. This sandwich structure creates a useful platform for mass production of microfluidic systems, provided that the bonds are leakproof. The bonds were achieved by a silicon dioxide coating deposited on the plastic discs by evaporation. This investigation is concerned with the process and the result only, no theory is discussed.
|
182 |
Atomistische Modellierung und Simulation des Filmwachstums bei GasphasenabscheidungenLorenz, Erik E. 27 November 2014 (has links)
Gasphasenabscheidungen werden zur Produktion dünner Schichten in der Mikro- und Nanoelektronik benutzt, um eine präzise Kontrolle der Schichtdicke im Sub-Nanometer-Bereich zu erreichen. Elektronische Eigenschaften der Schichten werden dabei von strukturellen Eigenschaften determiniert, deren Bestimmung mit hohem experimentellem Aufwand verbunden ist.
Die vorliegende Arbeit erweitert ein hochparalleles Modell zur atomistischen Simulation des Wachstums und der Struktur von Dünnschichten, welches Molekulardynamik (MD) und Kinetic Monte Carlo-Methoden (KMC) kombiniert, um die Beschreibung beliebiger Gasphasenabscheidungen. KMC-Methoden erlauben dabei die effiziente Betrachtung der Größenordnung ganzer Nano-Bauelemente, während MD für atomistische Genauigkeit sorgt.
Erste Ergebnisse zeigen, dass das Parsivald genannte Modell Abscheidungen in Simulationsräumen mit einer Breite von 0.1 µm x 0.1 µm effizient berechnet, aber auch bis zu 1 µm x 1 µm große Räume mit 1 Milliarden Atomen beschreiben kann. Somit lassen sich innerhalb weniger Tage Schichtabscheidungen mit einer Dicke von 100 Å simulieren. Die kristallinen und amorphen Schichten zeigen glatte Oberflächen, wobei auch mehrlagige Systeme auf die jeweilige Lagenrauheit untersucht werden. Die Struktur der Schicht wird hauptsächlich durch die verwendeten molekulardynamischen Kraftfelder bestimmt, wie Untersuchungen der physikalischen Gasphasenabscheidung von Gold, Kupfer, Silizium und einem Kupfer-Nickel-Multilagensystem zeigen. Stark strukturierte Substrate führen hingegen zu Artefakten in Form von Nanoporen und Hohlräumen aufgrund der verwendeten KMC-Methode. Zur Simulation von chemischen Gasphasenabscheidungen werden die Precursor-Reaktionen von Silan mit Sauerstoff sowie die Hydroxylierung von alpha-Al2O3 mit Wasser mit reaktiven Kraftfeldern (ReaxFF) berechnet, allerdings ist weitere Arbeit notwendig, um komplette Abscheidungen auf diese Weise zu simulieren.
Mit Parsivald wird somit die Erweiterung einer Software präsentiert, die Gasphasenabscheidungen auf großen Substraten effizient simulieren kann, dabei aber auf passende molekulardynamische Kraftfelder angewiesen ist.:Inhaltsverzeichnis
Abbildungsverzeichnis
Tabellenverzeichnis
Abkürzungsverzeichnis
Symbolverzeichnis
1 Einleitung
2 Grundlagen
2.1 Gasphasenabscheidungen
2.1.1 Physikalische Gasphasenabscheidung
2.1.2 Chemische Gasphasenabscheidung
2.1.3 Atomlagenabscheidung
2.1.4 Methoden zur Simulation von Gasphasenabscheidungen
2.2 Molekulardynamik
2.2.1 Formulierung der Molekulardynamik
2.2.2 Auswahl verfügbarer Molekulardynamik-Software
2.2.3 Molekulardynamische Kraftfelder
2.3 Kinetic Monte Carlo-Methoden
2.4 Datenstrukturen
2.4.1 Numerische Voraussetzungen an Gasphasenabscheidungen
2.4.2 Vergleich der Laufzeiten für verschiedene Datenstrukturen
2.4.3 Effiziente Datenstrukturen
2.4.4 Alpha-Form
3 Methoden und Modelle
3.1 Stand der Forschung
3.1.1 Anwendungen von KMC-Simulationen für die Gasphasenabscheidung
3.1.2 Anwendung von MD-Simulationen für die Gasphasenabscheidung
3.2 Parsivald-Modell
3.2.1 Zielsetzung für Parsivald
3.2.2 Beschreibung des Parsivald-Modells
3.2.3 Annahmen und Einschränkungen
3.2.4 Erweiterungen im Rahmen der Masterarbeit
3.2.5 Behandlung von fehlerhaften Ereignissen
3.3 Laufzeitanalyse von Parsivald-Simulationen
3.3.1 Ereignis-Laufzeit TE
3.3.2 Ereignis-Durchsatz RE
3.3.3 MD-Laufzeit TMD
3.3.4 Worker-Laufzeit Tworker
3.3.5 Serielle Laufzeit T1
3.3.6 Anzahl der parallelen Prozesse p
3.3.7 Workerdichte rhoworker
3.3.8 Parallele Laufzeit Tp
3.3.9 Speedup Sp
3.3.10 Parallele Effizienz Ep
3.3.11 Auswertung der Laufzeitparameter
3.3.12 Fazit
3.4 MD-Simulationen: Methoden und Auswertungen
3.4.1 Zeitskalen in MD-Simulationen
3.4.2 Relaxierungen
3.4.3 Strukturanalysen
3.4.4 Bestimmung der Dichte und Temperatur
3.4.5 Radiale Verteilungsfunktionen, Bindungslänge und Koordinationszahl
3.4.6 Oberfläche, Schichtdicke, Rauheit und Porösität
3.4.7 Reaktionen und Stabilität von Molekülen
4 Simulationen von Gasphasenabscheidungen
4.1 Gold-PVD
4.1.1 Voruntersuchungen
4.1.2 Thermodynamische Eigenschaften
4.1.3 Simulation von Gold-PVD
4.1.4 Skalierbarkeit mit der Simulationsgröße
4.1.5 Fazit
4.2 Kupfer-PVD
4.2.1 Voruntersuchungen
4.2.2 Thermodynamische Eigenschaften
4.2.3 Simulation von Kupfer-PVD
4.2.4 Untersuchung der maximalen Workerdichte
4.2.5 Fazit
4.3 Multilagen-PVD
4.3.1 Multilagen-Simulationen mit Parsivald
4.3.2 Vergleich mit Ergebnissen reiner MD-Simulationen
4.3.3 Vergleich der Parallelisierbarkeit
4.3.4 Fazit
4.4 Silizium-PVD
4.4.1 Voruntersuchungen
4.4.2 Simulationen von Silizium-PVD
4.4.3 Fazit
4.5 Aluminiumoxid-ALD
4.5.1 ReaxFF-Parametersätze
4.5.2 Voruntersuchungen
4.5.3 Fazit
5 Zusammenfassung und Ausblick
5.1 Zusammenfassung
5.2 Ausblick
A Physikalische Konstanten und Stoffeigenschaften
B Datenstrukturen
B.1 Übersicht über KMC-Operationen
B.2 Beschreibung grundlegender Datenstrukturen
B.3 Delaunay-Triangulationen
B.3.1 Ausgewählte Eigenschaften einer Delaunay-Triangulation
B.3.2 Algorithmen zur Konstruktion einer Delaunay-Triangulation
C Ergänzungen zur Laufzeitanalyse von Parsivald
C.1 Einfluss der Ereignis-Laufzeit auf die effiziente Raumgröße weff
C.2 Zusätzliche Einflüsse auf das Maximum der Prozesse pmax
C.3 Abschätzung der maximalen Workerdichte per Random Sequential Adsorption
D Ergänzungen zur Simulation von Gold-PVD
E Multilagen-PVD
E.1 Porenbildung bei Unterrelaxation
E.2 Simulationen mit Lagendicken von jeweils 5 nm
F Simulation der CVD-Precursormoleküle Silan und Sauerstoff
F.1 Stabilität der Precursormoleküle
F.2 Reaktion der Precursormoleküle
Literaturverzeichnis
|
183 |
Etude et développement de composants thermoélectriques à base de couches mincesSavelli, Guillaume 20 November 2007 (has links) (PDF)
La thermoélectricité est une science remise au goût du jour depuis quelques années en tant que source de récupération d'énergie. Dans cette optique, l'étude et la conception de dispositifs thermoélectriques à base de films minces se justifient parfaitement : en effet, les faibles dimensions de ces modules, de l'ordre du cm2, permettent leur intégration et leur utilisation dans des domaines nombreux et variés, tels l'industrie automobile, l'environnement du corps humain, l'alimentation de capteurs sans fil... Ainsi, ces travaux ont permis la réalisation et la caractérisation de plusieurs modules, composés de matériaux de différente nature, et de diverses géométries. Pour cela, le développement des procédés de calibration de couches minces, à la fois de matériaux semimétalliques, en bismuth et antimoine, mais aussi de matériaux semiconducteurs, en silicium et silicium-germanium, a été étudié et optimisé. De plus, l'utilisation de matériaux nanostructurés permet une amélioration des performances thermoélectriques via notamment une diminution de la conductivité thermique. Dans ce cadre, une étude théorique sur les transports électriques et thermiques dans les nanostructures, complémentée de mesures expérimentales sur des superréseaux Si/SiGe, ont permis de valider ces propos et de justifier leur intégration au sein de dispositifs thermoélectriques.
|
184 |
Carbide and MAX-Phase Engineering by Thin Film Synthesis / Karbid och MAX-fas design med tunnfilmssyntesPalmquist, Jens-Petter January 2004 (has links)
This thesis reports on the development of low-temperature processes for transition metal carbide and MAX-phase thin film growth. Magnetron sputtering and evaporation, far from thermodynamical equilibrium, have been utilised to engineer the properties of the films by physical and chemical control. Deposition of W, W2C and β-WC1-x films with controlled microstructure, from nanocrystalline to epitaxial, is shown in the W-C system down to 100 oC. W films with upto 20 at% C exhibited an extreme solid-solution hardening effect, with a nanoindentation hardness maximum of 35 GPa. Furthermore, the design of epitaxial ternary carbide films is demonstrated in the Ti1-xVxCy system in the form of controlled unit-cell parameters, strain-free films with a perfect match to the substrate, and ternary epitaxial gradient films. Moreover, phase stabilisation and pseudomorphic growth can be tuned in (Nb,Mo)C and (Ti,W)C films. The results obtained can be used for example to optimise electrical contacts in SiC high-power semiconductor devices. A large part of this thesis focuses on the deposition of MAX-phases. These compounds constitute a family of thermally stable nanolaminates with composition Mn+1AXn, n=1, 2 or 3, where M is an early transition metal, A is generally a group 13-14 element, and X is C or N. They show a combination of typical ceramic and metallic properties and are also machinable by virtue of the unique deformation behaviour observed only in laminates. So far, the MAX-phases have almost exclusively been prepared by high-temperature sintering and studied in bulk form. However, this thesis establishes a patented seed layer approach for successful MAX-phase thin film depositions down to 750 oC. For the first time, single-phase and epitaxial films of Ti3SiC2, Ti3AlC2 and Ti2AlC have been grown. The method has also been used to synthesise a new MAX-phase, Ti4SiC3. In addition, two previously unreported intergrown MAX-type structures are presented, Ti5Si2C3 and Ti7Si2C5. Combined theoretical and experimental results show the possibility to deposit films with very low bulk resistivity and designed mechanical properties. Furthermore, the demonstration of MAX-phase and carbide multilayer films paves the way for macrostructure engineering, for example, in coatings for low-friction or wear applications.
|
185 |
Carbide and MAX-Phase Engineering by Thin Film Synthesis / Karbid och MAX-fas design med tunnfilmssyntesPalmquist, Jens-Petter January 2004 (has links)
<p>This thesis reports on the development of low-temperature processes for transition metal carbide and MAX-phase thin film growth. Magnetron sputtering and evaporation, far from thermodynamical equilibrium, have been utilised to engineer the properties of the films by physical and chemical control. Deposition of W, W<sub>2</sub>C and β-WC<sub>1-x</sub> films with controlled microstructure, from nanocrystalline to epitaxial, is shown in the W-C system down to 100 <sup>o</sup>C. W films with upto 20 at% C exhibited an extreme solid-solution hardening effect, with a nanoindentation hardness maximum of 35 GPa. Furthermore, the design of epitaxial ternary carbide films is demonstrated in the Ti<sub>1-x</sub>V<sub>x</sub>C<sub>y</sub> system in the form of controlled unit-cell parameters, strain-free films with a perfect match to the substrate, and ternary epitaxial gradient films. Moreover, phase stabilisation and pseudomorphic growth can be tuned in (Nb,Mo)C and (Ti,W)C films. The results obtained can be used for example to optimise electrical contacts in SiC high-power semiconductor devices. </p><p>A large part of this thesis focuses on the deposition of MAX-phases. These compounds constitute a family of thermally stable nanolaminates with composition M<sub>n+1</sub>AX<sub>n</sub>, n=1, 2 or 3, where M is an early transition metal, A is generally a group 13-14 element, and X is C or N. They show a combination of typical ceramic and metallic properties and are also machinable by virtue of the unique deformation behaviour observed only in laminates. So far, the MAX-phases have almost exclusively been prepared by high-temperature sintering and studied in bulk form. However, this thesis establishes a patented seed layer approach for successful MAX-phase thin film depositions down to 750 <sup>o</sup>C. For the first time, single-phase and epitaxial films of Ti<sub>3</sub>SiC<sub>2</sub>, Ti<sub>3</sub>AlC<sub>2</sub> and Ti<sub>2</sub>AlC have been grown. The method has also been used to synthesise a new MAX-phase, Ti<sub>4</sub>SiC<sub>3</sub>. In addition, two previously unreported intergrown MAX-type structures are presented, Ti<sub>5</sub>Si<sub>2</sub>C<sub>3</sub> and Ti<sub>7</sub>Si<sub>2</sub>C<sub>5</sub>. Combined theoretical and experimental results show the possibility to deposit films with very low bulk resistivity and designed mechanical properties. Furthermore, the demonstration of MAX-phase and carbide multilayer films paves the way for macrostructure engineering, for example, in coatings for low-friction or wear applications.</p>
|
186 |
Approche corrélative vers une production durable de fonte ADI d'un traitement thermique intégré innovant et de son usinabilitéMeena, Anil 13 July 2012 (has links) (PDF)
Les impacts environnementaux dans la production des matériaux métalliques et leurs procédés de transformation sont en augmentation rapide et critique. Ils peuvent être réduits, dans une certaine mesure, par le développement soit d'un matériau de fonction ou par la mise en œuvre d'un nouveau processus de fabrication éco-durable. Dans cette optique, l'émergence récente de fonte " bainitique " (ADI -Austempered Ductile Iron-) peut être considéré comme un saut technologique important répondant à la demande croissante pour les matériaux à hautes caractéristiques mécaniques avec un coût de fabrication maîtrisé. La présente étude traite le développement d'une approche de couplage procédé par l'intégration du processus de coulée, de traitements thermiques et d'usinage de la fonte ductile ADI dans une optique de développement durable. Ce procédé innovant de fabrication de pièces en fonte ADI dit " dans la chaude de coulée " consiste à réaliser les traitements thermiques directement à la suite de la coulée en moule métallique en relation avec l'usinabilité induite. L'analyse des influences des paramètres de ce procédé intégré sur la microstructure et les propriétés mécaniques de l'ADI a été étudiée expérimentalement. Une approche méthodologique sur la coulabilité de la fonte a été développée, puis validée par simulation. Elle utilise les caractéristiques thermiques du métal en fusion pour corréler l'effet combiné du transfert de chaleur à l'état fondu, à l'interface moule/métal, et pendant l'écoulement au travers des sections critiques du moule afin de prédire les défauts de coulée. Enfin, l'usinage de la fonte ADI est étudié expérimentalement dans le cas du perçage à sec et en micro-lubrification (MQL), en lien avec les caractéristiques microstructurales, les mécanismes d'usure d'outil, de formation des copeaux et de la qualité de surface usinée. L'approche corrélative du couplage procédé visent essentiellement à (i) comprendre l'influence des caractéristiques microstructurales de cette nouvelle fonte ADI sur ses propriétés mécaniques, (ii) démontrer l'influence des caractéristiques thermophysiques sur la coulabilité de la fonte ductile dans un moule permanent, et (iii) mettre en corrélation les paramètres de perçage de cette nouvelle fonte ADI avec sa microstructure et ses paramètres de fabrication.
|
187 |
Design Of Reflective & / Antireflective Coatings For Space ApplicationsEroglu, Huseyin Cuneyt 01 September 2009 (has links) (PDF)
In order to improve the efficiency of various optical surfaces, optical coatings are used. Optical coating is a process of depositing a thin layer of a material on an optical component such as mirror or lens to change reflectance or transmittance.
There are two main types of coatings namely / reflective and antireflective (AR) Coatings. Reflective and antireflective coatings have long been developed for a variety of applications in all aspects of use / for optical and electro-optical systems in telecommunications, medicine, military products and space applications. In this thesis, the main properties of reflective and antireflective coatings, the thin film deposition techniques, suitable coating materials for space applications, space environment effects on coating materials and coating design examples which are developed using MATLAB for space applications will be discussed.
|
188 |
The Design And Production Of Interference Edge Filters With Plasma Ion Assisted Deposition Technique For A Space CameraBarutcu, Burcu 01 August 2012 (has links) (PDF)
Interference filters are multilayer thin film devices. They use interference effects between
the incident and reflected radiation waves at each layer interface to select wavelengths. The
production of interference filters depend on the precise deposition of thin material layers on
substrates which have suitable optical properties. In this thesis, the main target is to design
and produce two optical filters (short-pass filter and long-pass filter) for the CCDs that will
be used in the electronics of a space camera. By means of these filters, it is possible to take
image in different bands (RGB and NIR) by identical two CCDs. The filters will be fabricated
by plasma ion-assisted deposition technique.
|
189 |
CINETIQUE DE CROISSANCE DE NANOTUBES DE CARBONE MONO-PAROIS ET MULTI-PAROIS ORIENTES PAR PROCEDE PLASMAGohier, Aurélien 25 September 2007 (has links) (PDF)
Ce travail est consacré à la synthèse de nanotubes de carbone mono-parois et multi-parois orientés par dépôt chimique en phase vapeur assisté par plasma (PECVD). Des études cinétiques ont montré le rôle spécifique du plasma pour la croissance de nanotubes mono-parois (SWNT) ou possédant peu de parois (FWNT). En effet, les phénomènes de gravure physique et chimique, intrinsèques au procédé PECVD, favorisent la croissance des nanotubes multi-parois, structures plus robustes, au profit des SWNT/FWNT. En optimisant les paramètres du plasma (potentiel plasma, mélange des gaz) et le temps de dépôt, la croissance de SWNT/FWNT orientés peut être réalisée de manière contrôlée. De telles structures peuvent être obtenues à basse température (dès 450°C) sur des substrats recouverts d'aluminium. Les mesures d'émission par effet de champ des SWNT/FWNT orientés montrent des tensions de seuil peu élevées (~5 V.µm-1) corrélées avec la morphologie des nanotubes (longueur, rayon). De nombreuses techniques d'analyses ont été utilisées pour étudier la structure des nanotubes aussi bien à l'échelle locale (microscope électronique à transmission, spectroscopie de perte d'énergie des électrons) qu'à l'échelle macroscopique (microscope électronique à balayage, spectroscopie de photoélectrons ultraviolets/X, analyse par détection des atomes de recul, spectroscopie Raman).
|
190 |
Herstellung, Charakterisierung und Bewertung leitfähiger Diffusionsbarrieren auf Basis von Tantal, Titan und Wolfram für die Kupfermetallisierung von Siliciumschaltkreisen / Preparation, characterization and evaluation of conductive diffusion barriers based on tantalum, titanium and tungsten for the copper metallization of silicon integrated circuitsBaumann, Jens 16 May 2004 (has links) (PDF)
Summary (english):
The thesis investigates the potential of thin films of Ta, Ti and W and their nitrides to suppress
copper induced interactions in the contact area to silicon. Possible interactions between Cu and
gaseos or solid materials within preparation and lifetime of an integrated circuit are summarized. The
degradation mechanisms to be expected are the solution of Cu in Si and the formation of Cu3Si. Thin
conductive diffusion barriiers are needed to suppress this mechanisms.
The requirements on these barriers are discussed. The most important criterion, their resistivity, is
determined by the place of application. The resitivity has to be lower than 100 mOhmcm for contacts
and lower than 2000 mikroOhmcm for vias. The materials to be separated by a diffusion barrier can
pass it by diffusion or the diffusion barrier can be destroyed by reaction (reactive diffusion). Therefore
one can distinguish in passive and sacrificial barriers.
The thin films were prepared by magnetron sputtering in Ar or Ar/N2 mixture. The films were
characterized with respect to composition, phase/structure as well as their resulting electrical, optical,
and mechanical properties. The appearance of new phases correlates with changes in process
parameters like target voltage and condensation rate. All films - except for a small process window for
amorphous/nanocrystalline WNx films - are polycrystalline. The influence of annealing steps in
different ambients is investigated. Amorphous/nanocrystalline WNx films do recrystallize during
annealing. For a direct contact of Cu to Si a sufficient energy supply during Cu depotsition or during
following annealing (T> 200 °C) results in the formation of Cu3Si.
The potential of diffusion barriers of different thicknesses and nitrogen contents to suppress this
reaction is investigated for annealing steps up to 650 °C. The characterization is performed by
analytical methods, sheet resistance measurements as well as leakage current measurements (pn, np
and schottky diodes). A diffusion barrier is able to suppress the Cu3Si formation, until itself is
consumed by silicidation or intermetallic phase formation. The metal nitrides are more stable, since the
present metal nitrogen bonding has to be broken before these reactions can start. With the failure of a
diffusion barrier a Cu Si contact occurs with the consequence of copper silicide formation. The
silicidation can be either homogeneous (on a large area) or in the form of crystallites several
mikrometers in diameter. The distance between the crystallites is up to several 100 mikrometers. It is
shown, that results of a barrier evaluation can be paradox if different methods are applied to the same
sample. The diffusion of Cu accross a barrier into Si can be shown using analytical methods, already
before the formation of Cu3Si. However, the leakage current of pn or schottky diodes is not or not
unequivocal modified by this diffusion. The leakage current does not change before the diodes are
shorted by the Cu3Si formation.
The results of parallel prepared references with Al metallization show, that the diffusion barriers are
more stable in a Cu metallization than in an Al metallization. / Zusammenfassung (detusch):
Die Arbeit beschreibt das Potential von Schichten des Ta, Ti, W und ihrer Nitride zur Unterdrückung
kupferinduzierter Degradationen im Kontakt zu Silicium. Mögliche Wechselwirkungen zwischen Cu
und den im Herstellungsprozess sowie der Lebensdauer von Schaltkreisen präsenten Gasen und
Feststoffen werden zusammengestellt. Für das System Cu-Si sind als Degradationsmechanismen die
Lösung von Cu und die Cu3Si Bildung zu erwarten.
Die Anforderungen an die zur Unterdrückung der Degradationen notwendigen leitfähigen
Diffusionsbarrieren werden diskutiert. Ihr spezifischer elektrischer Widerstand als wichtigstes Kriterium
für die Integration wird vom Einsatzort bestimmt. Er muss für Kontakte unter 100 mOhm cm und für
Vias unter 2000 mikroOhmcm liegen. Diffusionsbarrieren können von den zu trennenden Materialien
durch Diffusion überwunden oder durch Reaktion (reaktive Diffusion) aufgezehrt werden. Damit kann
in passive und Opferbarrieren unterschieden werden.
Die Schichtherstellung erfolgt mit dem Verfahren der Magnetronzerstäubung in Ar oder Ar/N2
Atmosphäre. Sie werden hinsichtlich ihrer Zusammensetzung, Phase/Struktur sowie resultierender
elektrischer, optischer und mechanischer Eigenschaften charakterisiert. Das Auftreten neuer Phasen
korreliert mit Verlaufsänderungen einfach zugänglicher Prozessparameter wie Targetspannung und
Kondensationsrate. Alle Schichten mit Ausnahme eines engen Prozessfensters für
amorphes/nanokristallines WNx sind polykristallin. Der Einfluss von Temperungen in verschiedenen
Medien wird untersucht. Amorphe/nanokristalline WNx Schichten rekristallisieren während
Temperung. Für direkten Kontakt Cu zu Si führt ausreichende Energiezufuhr schon während der
Abscheidung oder während nachfolgender Temperung (T> 200 °C) zur Cu3Si Bildung.
Das Potential der Diffusionsbarrieren zur Unterdrückung dieser Reaktion wird für unterschiedliche
Dicken und Stickstoffgehalte nach Temperungen bis maximal 650 °C untersucht. Dazu werden
analytische Methoden, Schichtwiderstandsmessungen und Sperrstromdichtemessungen an pn, np
und Schottkydioden eingesetzt. Die Diffusionsbarrieren können die Cu3Si Bildung unterdrücken, bis
sie selbst durch Silicierung und/oder intermetallische Phasenbildung aufgezehrt sind. Die Nitride der
Metalle sind thermisch stabiler, weil Metall Stickstoff Bindungen erst aufgebrochen werden müssen.
Mit dem Versagen der Barrieren treffen Cu und Si zusammen - mit der Folge der Kupfersilicidbildung.
Sie kann grossflächig oder in Form mikrometergrosser und einige 100 mikrometer voneinander entfernt
liegender Kristallite stattfinden. Für beide Degradationsmechanismen kann gezeigt werden, dass eine
Barrierebewertung für unterschiedliche Methoden paradoxe Ergebnisse liefern kann. Die Cu Diffusion
über die Diffusionsbarriere in das Si kann mit analytischen Methoden schon vor der Cu3Si Bildung
nachgewiesen werden. Der Sperrstrom von pn oder Schottkydioden wird dadurch nicht bzw. nicht
eindeutig verändert. Er reagiert erst, wenn sie durch Cu3Si Wachstum kurzgeschlossen sind.
Ergebnisse parallel präparierter Referenzen mit Al Metallisierung belegen, dass die
Diffusionsbarrieren gegen Cu gleich oder besser wirken als gegen Al.
|
Page generated in 0.0277 seconds