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Optimisation d'un procédé hybride de co-pulvérisation/évaporation pour l'obtention de cellules solaires à base de Cu(In,Ga)Se2 / Optimization of a hybrid co-sputtering/evaporation process for Cu(In,Ga)Se2 thin film solar cells applicationsPosada Parra, Jorge Ivan 17 March 2015 (has links)
Les cellules solaires en couches minces à base d'absorbeurs de type Cu(In,Ga)Se2 (CIGS) représentent une technologie d'avenir à haut rendement de conversion d'énergie. Plusieurs techniques sont utilisées pour synthétiser le CIGS. La pulvérisation cathodique réactive est une technique de dépôt adaptée aux grandes surfaces offrant la possibilité d'effectuer un scale-up industriel. L'objectif de ce travail est de développer et d'optimiser un procédé alternatif hybride de co-pulvérisation/évaporation pour la synthèse du composé CIGS. Pour répondre à cet objectif, différentes études ont été réalisées afin d'assurer le contrôle des différents paramètres de dépôt. Dans un premier temps, la phase plasma a été étudiée à l'aide de la spectroscopie d'émission optique pour pouvoir établir des corrélations entre la composition des couches déposées et les espèces présentes dans le plasma. Ceci a permis d'établir des courbes d'étalonnage et de suivi in-situ de la composition et l'homogénéité de l'épaisseur des couches déposées, ainsi que de déterminer l'existence de différentes modes de pulvérisation, reliés à la température appliquée pour l'évaporation du sélénium. Dans un deuxième temps, différents absorbeurs de CIGS ont été synthétisés à partir du procédé hybride développé. Ces absorbeurs ont été déposés en une et en trois étapes pour analyser l'influence des gradients de composition sur leurs propriétés morphologiques, structurales et optoélectroniques. Un absorbeur de CIGS avec un rendement de conversion maximum de 10,4 % a été fabriqué à partir d'une séquence de dépôt en une étape. Un rendement de 9,4 % a été obtenu avec une séquence dépôt en trois étapes. / Cu(In,Ga)Se2 (CIGS) thin film solar cells are a very promising technology for high efficiency energy conversion. Several techniques are used to synthesize CIGS absorbers. Magnetron reactive sputtering is an attractive deposition technique for depositing CIGS absorbers because of its potential for providing uniform coatings over large areas, thus offering the possibility for more competitive industrial scale-up. The objective of this work is to develop and optimize a hybrid alternative co-sputtering/evaporation CIGS deposition process. To meet this goal, various studies have been conducted to ensure control of the various deposition parameters. Initially, plasma was studied with Optical Emission Spectroscopy in order to establish correlations between plasma species and thin film composition, structure and morphology. This has allowed to establish in-situ calibration curves for monitoring the deposited layers composition and their homogeneity, and to determine the existence of different sputtering modes, linked to the selenium evaporation temperature. Then, different CIGS absorbers were synthesized with the stabilized hybrid process. These absorbers were deposited in one and three stages to analyze the influence of composition gradients on their morphological, structural and optoelectronic properties. A CIGS absorber giving a maximum conversion efficiency of 10.4 % was fabricated with a one step process. A 9.3 % efficiency solar cell was obtained with a three-stage deposition process.
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Kontaminace vybraných lokalit Ostravy těžkými kovy / The heavy metal contamination of selected sites in OstravaMihočová, Silvie January 2011 (has links)
This thesis is focused on the assessment of contamination of non-agricultural soils of selected locations in Ostrava of hazardous metals. Selection of locations was based on the stationary pollution source REZZO1. Total 36 collected samples from 12 locations in three times periods between July 2010 and March 2011 that each collection represented a different time period for characteristic emissions conditions. The risk of metals mercury, cadmium, lead, copper and chromium were determined by atomic absorption spectrometry (F AAS, ET AAS, AMA 254).The influence of the distance of locations from stationary sources of REZZO1 on the extent of soil contamination by selected metals was confirmed.
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Únavové vlastnosti jemnozrnné mědi připravené metodou ECAP / Fatigue Properties of Ultra-fine Grain Copper Produced by ECAP MethodNavrátilová, Lucie January 2008 (has links)
This diploma thesis describes properties of ultra-fine grain Cu prepared via ECAP procedure. The influence of fatigue loading with positive mean stress on S-N curve (i.e. fatigue life), cyclic plastic behaviour and grain size was investigated. It was found that tensile mean stress leads to shorter lifetime in comparison with fatigue loading with zero mean stress. During main part of the lifetime, significant hardening of UFG Cu was observed. There is no distinct effect on microstructural orientation and stability.
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Elektronische Transporteigenschaften von amorphem und quasikristallinem Al-Cu-FeMadel, Caroline 23 June 2000 (has links)
Quasikristallines Al-Cu-Fe (i-Phase) wurde ueber den Weg der amorphen (a-) Phase in Form duenner Schichten hergestellt und ein Vergleich elektronischer Transporteigenschaften der isotropen a-Phase in verschiedenen Anlassstufen mit der schliesslich entstehenden fast isotropen i-Phase durchgefuehrt (Leitfaehigkeit, Magnetoleitfaehigkeit, Hall-Effekt und Thermokraft). Die Auswirkungen einer Hume-Rothery-Stabilisierung auf den elektronischen Transport standen dabei im Vordergrund. Es wurden in der i-Phase auch die Auswirkungen einer systematischen Aenderung des Fe-Gehalts untersucht.
Die a-Phase und die i-Phase sind in vielen wichtigen Trends miteinander verwandt, z.B. ist die inverse Matthiesen-Regel sowohl in der a- als auch in der i-Phase gueltig. Thermokraft und Hall-Effekt, die sehr empfindlich auf Aenderungen der Bandstruktur sind, zeigen drastischere Aenderungen beim Uebergang amorph-quasikristallin.
Die Aenderungen der Eigenschaften in der i-Phase als Funktion der Temperatur und des Fe-Gehalts koennen in einem Zweibandmodell quantitativ erfasst werden. Mit dem Konzept der Spektralleitfaehigkeit, in das im Prinzip das Zweibandmodell uebergeht, koennen die Eigenschaften sowohl der i-Phase als auch der a-Phase quantitativ beschrieben werden.
In der a-Phase fuehrt dieses Konzept auf eine sich von der frisch praeparierten a-Phase durch Tempern bis hin zur i-Phase kontinuierlich aendernde Spektralleitfaehigkeit, die schon unmittelbar nach dem Aufdampfen durch ein breites und ein, diesem ueberlagertes, schmales Minimum beschrieben werden kann. Beim Tempern wird das schmale Minimum immer tiefer.
Im Ortsraum wird insgesamt ein Szenario vorgeschlagen, das von sphaerischer Ordnung ausgeht, zu der schon in der frisch praeparierten a-Phase eine Winkel- und Abstandsordnung hinzukommt. Diese verstaerkt sich beim Tempern bis hin zur perfekt geordneten Struktur in der i-Phase. Das Verschwinden magnetischer Effekte und die damit verbundenen Aenderungen der Tieftemperatur-Leitfaehigkeit beim Tempern deuten ebenfalls auf eine sich bereits in der a-Phase vollziehende kontinuierliche Aenderung der lokalen Umgebung der Fe-Atome, deren Anordnung hauptsaechlich die elektronischen Transporteigenschaften bestimmt.
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Studium fyzikálních vlastností metalických nanostruktur s indukovanou magnetickou anizotropií / Study of physical properties of metallic nanostructures with induced magnetic anizotropyJesenská, Eva January 2013 (has links)
The aim of this thesis is a systematic study of physical properties of magnetic multilayered nanostructures. Namely it include multilayered spin valves NiFe/Cu/Co with magnetic anisotropy iduced by magnetic field applied during the deposition. Induced magnetic anisotropy influences exchange interactions between magnetic layers and so it gives the possibility to control magnetic properties of nanolayers. This is important for applications in MRAM, magnetoresistive read heads and spin-transfer-torque devices. Magnetooptic spectroscopy and Kerr effect hysteresis loop measurement were used as effective probe techniques. Secondly we examinated Ar3+ rf sputtering influence on multilayer interface quality level. We found out, that Ar3+ irradiation during deposition process has a possitive effect on interface quality.
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Defect Engineering: Kontrollierte Einflussnahme auf anwendungsbezogene Defekte in SI-LEC-GaAs unter Berücksichtigung von für Bauelemente relevanten SubstratparameternSteinegger, Thomas 09 November 2001 (has links)
Die Kenntnisse über die zur Passivierung führenden Wechselwirkungen des Verunreinigungselements Cu mit EL2 und EL6 wurden dahingehend erweitert, dass ein Gültigkeitsbereich für die Messungen zur Bestimmung der konzentrationsproportionalen Messgröße der Defekte festgelegt wurde. Der Defekt EL6 ist das die 0.8 eV-PL-Emission bedingende und die Ladungsträgerlebensdauer determinierende Rekombinationszentrum. Die Lebensdauer wird durch mindestens ein weiteres Zentrum beeinflusst. Die atomare Struktur des EL6 wurde mit AsGa VAs und die des weiteren Zentrums mit Asi bestimmt. Mittels Wärmebehandlung kann die Ladungsträgerlebensdauer gezielt beeinflusst werden. Bei der Bildung und Annihilation sowie der Verteilung der Defekte EL2, EL6, VGa und der As-Ausscheidungen besteht eine wechselseitige Korrelation. Sowohl strukturelle Defekte als auch die Inkorporation von Dotierelementen, deren Atomradien deutlich kleiner sind als Ga und As, stellen beeinflussende Faktoren dar. Das Defekt-Transformations-Modell erklärt die Bildung wachstumsfähiger Keime einer As-Ausscheidung durch EL2 bzw. EL6 mit den sich in der ersten Koordingationssphäre befindenden As-Atomen. Das Gitterrelaxations-Modell ermöglicht die Interpretation der katalytischen Wirkung des Dotierelements C. Die Umsetzung dieser Ergebnisse bedeutet die Anwendung des Defect Engineerings im SI-LEC-GaAs.
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TEM-Untersuchungen zum Gefüge und zu mechanischen Spannungen in Metallisierungen für SAW-BauelementeHofmann, Matthias 29 January 2007 (has links)
Higher frequencies in the MHz and GHz range and the increasing miniaturization lead to a higher load of the SAW (surface acoustic wave) metallizations. This higher SAW load and the intrinsic stresses result in a stress induced material transport, called acoustomigration. These microstructural changes can destroy the characteristic of the SAW device. Different Al based material combinations were investigated by different authors to improve the reliability of the metallizations and to delay the cost-intensive change to Cu based metallizations. The Cu based metallizations with TaSiN diffusion barriers were also investigated in this work. The barrier layers are necessary to impede the oxygen diffusion into the Cu layer and the Cu diffusion into the piezoelectric substrate. Also in this work the analytical TEM were used as a tool to investigate these microstructural changes in the SAW electrodes. Chemical changes in the metallizations were analysed by EDXS and EELS. The locally high resolved stress measurement in metallizations is a challenge for the future. The CBED (convergent beam electron diffraction) technique has shown the best resolution, however, it can only be applied to TEM lamellas. The aim of this work was to measure the stress within the SAW metallizations by using the CBED method. With it, we could correlate the microstructural changes with the causing stresses within the metallizations. To qualify the CBED method the thermal expansion of Al and Cu single crystals was measured by using a new model for thin TEM lamallas.
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Cu-basierte Metallisierungen für leistungsbeständige SAW-Filter im GHz-BereichSpindler, Mario 30 May 2012 (has links)
Die vorliegende Dissertation beschäftigt sich mit der Verbesserung der Leistungsbeständigkeit von Interdigitalwandlern für zukünftige SAW-Bauelemente durch die Verwendung von kupferbasierten Fingerelektroden. In Bezug auf die Akustomigration, d.h. der Elektrodenschädigung infolge hochzyklischer SAW-Belastung, besitzt Kupfer im Vergleich zu standardmäßig eingesetztem polykristallinem Aluminium eine erhöhte Beständigkeit. Diese lässt sich weiter verbessern, indem die Grenzflächen der Fingerelektroden gegen die durch SAW-Belastung auftretende Loch- und Hügelbildung stabilisiert werden. Das Ziel bestand deshalb darin, die Aktivierungsenergie für den Materialtransport an den Elektrodengrenzflächen zu erhöhen. Zu diesem Zweck wurden in dieser Arbeit Metallisierungen in Form von Kupfer Aluminium-Schichtstapeln und -Legierungen mit jeweils geringem Aluminiumanteil hergestellt.
Es konnte gezeigt werden, dass Fingerelektroden aus wärmebehandelten Kupfer-Aluminium-Schichtstapeln eine signifikant erhöhte Leistungsbeständigkeit aufweisen, wobei der elektrische Widerstand im Vergleich zu vollständig legierten Kupfer-Aluminium-Metallisierungen deutlich reduziert ist. Insbesondere kann dieses Schichtsystem durch Elektronenstrahlverdampfung und Lift-Off-Technologie auch kostengünstig hergestellt werden.
Der Einfluss von thermischer- und SAW-Belastung auf den mechanischen Spannungszustand in einer Fingerelektrode wurde mittels einer Finiten-Elemente-Simulation untersucht. Darüber hinaus wird der Schädigungsmechanismus für die Akustomigration anhand eines erweiterten Eyringmodells diskutiert.:Inhaltsverzeichnis
Kurzfassung 1
Abkürzungen und Symbole 5
1 Einleitung und Stand der Literatur 9
1.1 Motivation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 9
1.2 Physikalische Grundlagen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 10
1.2.1 Wirkungsprinzip von SAW Bauelementen . . . . . . . . . . . . . . . 10
1.2.2 Mathematische Beschreibung von Oberflächenwellen . . . . . . . . . 11
1.2.3 Rayleighwellen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 14
1.2.4 Scherwellen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 15
1.2.5 Interdigitalwandler (IDT) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 15
1.2.6 Deltafunktionsmodell und Messgrößen . . . . . . . . . . . . . . . . . 16
1.3 Materialien für SAW-Bauelemente . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 23
1.3.1 Substratmaterialien . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 23
1.3.2 Metallisierungen für Fingerelektroden . . . . . . . . . . . . . . . . . . 25
1.3.3 Diffusionsbarrieren . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 31
1.4 Modellierung der Lebensdauer von SAW-Filtern . . . . . . . . . . . . . . . . 33
1.4.1 Ursachen der Frequenzverschiebung . . . . . . . . . . . . . . . . . . 33
1.4.2 Allgemeines Eyringmodell und Näherungen . . . . . . . . . . . . . . 35
1.4.3 Berechnung von akustischer Energie- und
mechanischer Spannungsverteilung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 38
1.5 Zielstellung und Gliederung der Arbeit . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 40
2 Experimentelles 43
2.1 Herstellung der SAW-Proben . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 43
2.1.1 Lift-Off-Technologie und Elektronenstrahlverdampfung . . . . . . . 43
2.1.2 Atomlagenabscheidung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 44
2.2 Analyse- und Charakterisierungsmethoden . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 45
2.2.1 Elektrischer Widerstand . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 45
2.2.2 Chemische Zusammensetzung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 46
2.2.3 Probenpräparation und Schichtquerschnitt . . . . . . . . . . . . . . . 48
2.3 Lebensdauermessungen an Teststrukturen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 50
2.3.1 Lebensdauermessungen an Power-SAW-Strukturen . . . . . . . . . . 50
2.3.2 Lebensdauermessungen an 2-GHz Reaktanzfilter . . . . . . . . . . . 58
3 Ergebnisse und Diskussion 61
3.1 Voruntersuchungen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 61
3.1.1 elektrischer Widerstand und thermische Stabilität
von Cu/Al-Metallisierungssystemen . . . . . . . . . . . . . . . . . . 62
3.1.2 Cu(Al)-Legierungsverdampfung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 64
3.1.3 Cu/Al-Multischicht . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 66
3.1.4 Auswahl des Metallisierungssystems . . . . . . . . . . . . . . . . . . 69
3.2 TTF-Messungen an 2-GHz-Filtern mit Al/Cu/Al-Multischichten . . . . . . 71
3.3 Ergebnisse am Al 2nm/Cu 100nm/Al 2nm/Ti 5nm - Multischichtsystem . . 75
3.3.1 Thermische Stabilität der Mikrostruktur . . . . . . . . . . . . . . . . . 75
3.3.2 Einfluss von TiOx und AlOx auf die Grenzflächen und Lebensdauern 75
3.4 Vergleichende Akustomigrationsexperimente an PSAW-Strukturen . . . . . 80
3.4.1 Erwärmung der Metallisierung durch HF-Leistungseintrag . . . . . 80
3.4.2 Frequenzverschiebung durch Temperaturänderung . . . . . . . . . . 81
3.4.3 TTF-Bestimmung: Cu/Al-Metallisierung vs. Referenzsysteme . . . . 82
3.4.4 Mikrostrukturelle Änderungen nach Leistungsbelastung . . . . . . . 89
3.4.5 Zusammenfassung der experimentellen Ergebnisse . . . . . . . . . . 91
4 Simulation der mechanischen Spannungen in den Fingerelektroden 93
4.1 Geometrisches Simulationsmodell (2D) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 94
4.2 Randbedingungen, Materialparameter und Vorgehensweise . . . . . . . . . 95
4.3 Thermische Spannungen in Cu-Fingerelektroden ohne äußere Belastung . . 97
4.4 Cu-Fingerelektroden unter SAW-Belastung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 99
5 Schädigungshypothese 101
5.1 Erweitertes Lebensdauermodell . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 101
5.2 Mikroskopische Beschreibung durch Schädigungsmodelle . . . . . . . . . . 103
5.2.1 Elektrodenschädigung bei Scherwellenbelastung . . . . . . . . . . . 103
5.2.2 Elektrodenschädigung bei Rayleighwellenbelastung . . . . . . . . . 104
6 Zusammenfassung und Ausblick 107
Literaturverzeichnis 109
Abbildungsverzeichnis 121
Tabellenverzeichnis 123
Eidesstattliche Erkl¨arung 125
Danksagung 127
Anhang 129 / The aim of this dissertation is the improvement of the power durability of interdigital transducers for future SAW devices using copper based finger electrode materials. Compared to polycrystalline aluminum, which is typically used as electrode material, copper shows a higher durability with respect to acoustomigration, which can be further increased by a stabilization of the electrode interfaces against material transport. For that purpose, copper based metallizations with a small aluminum content were developed as layer stacks or alloys.
It could be shown that heat-treated copper-alumininum layer stacks have a significantly higher power durability while the electrical resistivity is reduced in comparison to completely alloyed copper-aluminium metallizations. Additionally, the thin film layer system can be produced by using economical techniques such as electron beam evapouration and lift-off-technology.
The influence of thermal and mechanical load on the stress distribution in the finger electrodes was investigated by a finite elements method. The damage mechanism of acoustomigration will be discussed based on an extended Eyring model.:Inhaltsverzeichnis
Kurzfassung 1
Abkürzungen und Symbole 5
1 Einleitung und Stand der Literatur 9
1.1 Motivation . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 9
1.2 Physikalische Grundlagen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 10
1.2.1 Wirkungsprinzip von SAW Bauelementen . . . . . . . . . . . . . . . 10
1.2.2 Mathematische Beschreibung von Oberflächenwellen . . . . . . . . . 11
1.2.3 Rayleighwellen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 14
1.2.4 Scherwellen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 15
1.2.5 Interdigitalwandler (IDT) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 15
1.2.6 Deltafunktionsmodell und Messgrößen . . . . . . . . . . . . . . . . . 16
1.3 Materialien für SAW-Bauelemente . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 23
1.3.1 Substratmaterialien . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 23
1.3.2 Metallisierungen für Fingerelektroden . . . . . . . . . . . . . . . . . . 25
1.3.3 Diffusionsbarrieren . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 31
1.4 Modellierung der Lebensdauer von SAW-Filtern . . . . . . . . . . . . . . . . 33
1.4.1 Ursachen der Frequenzverschiebung . . . . . . . . . . . . . . . . . . 33
1.4.2 Allgemeines Eyringmodell und Näherungen . . . . . . . . . . . . . . 35
1.4.3 Berechnung von akustischer Energie- und
mechanischer Spannungsverteilung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 38
1.5 Zielstellung und Gliederung der Arbeit . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 40
2 Experimentelles 43
2.1 Herstellung der SAW-Proben . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 43
2.1.1 Lift-Off-Technologie und Elektronenstrahlverdampfung . . . . . . . 43
2.1.2 Atomlagenabscheidung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 44
2.2 Analyse- und Charakterisierungsmethoden . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 45
2.2.1 Elektrischer Widerstand . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 45
2.2.2 Chemische Zusammensetzung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 46
2.2.3 Probenpräparation und Schichtquerschnitt . . . . . . . . . . . . . . . 48
2.3 Lebensdauermessungen an Teststrukturen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 50
2.3.1 Lebensdauermessungen an Power-SAW-Strukturen . . . . . . . . . . 50
2.3.2 Lebensdauermessungen an 2-GHz Reaktanzfilter . . . . . . . . . . . 58
3 Ergebnisse und Diskussion 61
3.1 Voruntersuchungen . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 61
3.1.1 elektrischer Widerstand und thermische Stabilität
von Cu/Al-Metallisierungssystemen . . . . . . . . . . . . . . . . . . 62
3.1.2 Cu(Al)-Legierungsverdampfung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 64
3.1.3 Cu/Al-Multischicht . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 66
3.1.4 Auswahl des Metallisierungssystems . . . . . . . . . . . . . . . . . . 69
3.2 TTF-Messungen an 2-GHz-Filtern mit Al/Cu/Al-Multischichten . . . . . . 71
3.3 Ergebnisse am Al 2nm/Cu 100nm/Al 2nm/Ti 5nm - Multischichtsystem . . 75
3.3.1 Thermische Stabilität der Mikrostruktur . . . . . . . . . . . . . . . . . 75
3.3.2 Einfluss von TiOx und AlOx auf die Grenzflächen und Lebensdauern 75
3.4 Vergleichende Akustomigrationsexperimente an PSAW-Strukturen . . . . . 80
3.4.1 Erwärmung der Metallisierung durch HF-Leistungseintrag . . . . . 80
3.4.2 Frequenzverschiebung durch Temperaturänderung . . . . . . . . . . 81
3.4.3 TTF-Bestimmung: Cu/Al-Metallisierung vs. Referenzsysteme . . . . 82
3.4.4 Mikrostrukturelle Änderungen nach Leistungsbelastung . . . . . . . 89
3.4.5 Zusammenfassung der experimentellen Ergebnisse . . . . . . . . . . 91
4 Simulation der mechanischen Spannungen in den Fingerelektroden 93
4.1 Geometrisches Simulationsmodell (2D) . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 94
4.2 Randbedingungen, Materialparameter und Vorgehensweise . . . . . . . . . 95
4.3 Thermische Spannungen in Cu-Fingerelektroden ohne äußere Belastung . . 97
4.4 Cu-Fingerelektroden unter SAW-Belastung . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 99
5 Schädigungshypothese 101
5.1 Erweitertes Lebensdauermodell . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . . 101
5.2 Mikroskopische Beschreibung durch Schädigungsmodelle . . . . . . . . . . 103
5.2.1 Elektrodenschädigung bei Scherwellenbelastung . . . . . . . . . . . 103
5.2.2 Elektrodenschädigung bei Rayleighwellenbelastung . . . . . . . . . 104
6 Zusammenfassung und Ausblick 107
Literaturverzeichnis 109
Abbildungsverzeichnis 121
Tabellenverzeichnis 123
Eidesstattliche Erkl¨arung 125
Danksagung 127
Anhang 129
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The Brain at War: Stress-Related Losses and Recovery-RelatedButler, Oisin 10 May 2019 (has links)
Stress ist Teil unseres Lebens und unsere Stressreaktion oft adaptiv. Unter extremen
Bedingungen oder chronischem Stress kann diese Stressantwort jedoch maladaptiv werden
und das Gehirn, Verhalten und Kognition negativ beeinflussen. Die Erfahrung von
militärischen Kampfeinsatz ist eine spezifische Form von anhaltendem Stress, die aufgrund
einer zunehmenden Anzahl und zunehmender Intensität militärischer Konflikte auf der
ganzen Welt an Bedeutung gewinnt.
In der vorliegenden Dissertation untersuche ich stressbedingte Verluste und
erholungsbedingte Gewinne der grauen Hirnsubstanz, hauptsächlich in militärischen
Populationen. Diese Dissertation trägt auf vier Wegen zum Wissen über die Beziehung
zwischen Stress und Gehirn bei: Sie untersucht (a) den Zusammenhang zwischen
Stressbelastung und Gehirn in subklinischen Populationen, (b) mögliche funktionelle
Mechanismen für die Entwicklung und Aufrechterhaltung von Posttraumatischer
Belastungsstörung (PTBS) bedingt durch militärischen Einsatz, (c) Veränderungen im
Volumen der grauen Substanz nach therapeutischen Interventionen für einsatzbedingte PTBS,
und (d) die neuronalen Korrelate der Symptomübertreibung in PTBS.
Die Dissertation ist publikationsorientiert und besteht aus sechs Artikeln. Zum
Zeitpunkt der Einreichung sind Artikel I, Artikel II, Artikel III und Artikel IV veröffentlicht.
Artikel V und Artikel VI wurden eingereicht und werden derzeit überprüft. / Stress is an unavoidable part of life and the stress response is often highly adaptive. However,
under conditions of extreme or chronic stress, the stress response can become maladaptive
and can negatively impact the brain, behavior, and cognition. Combat exposure is a specific
instantiation of prolonged stress, and one that is growing in relevance due to an increasing
number and escalating intensity of military conflicts across the globe. In this dissertation, I
investigate stress-related losses and recovery-related gains in gray matter volume, mainly in
combat-exposed military populations.
The present dissertation contributes to knowledge about the relationship between
stress and the brain in four ways: (a) it investigates the relationship between stress exposure
and the brain in subclinical populations, (b) it investigates potential functional mechanisms
for the development and maintenance of combat-related posttraumatic stress disorder (PTSD),
(c) it investigates alterations in grey matter volume following therapeutic interventions for
combat-related PTSD, and (d) it investigates the neural correlates of symptom exaggeration in
PTSD.
The dissertation is publication-orientated and consists of six papers. At the time of
submission, Paper I, Paper II, Paper III and Paper IV have been published. Paper V and
Paper VI have been submitted and are currently under review.
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Risk and Resilience: a Multimodal Neuroimaging Integration in Aging and Alzheimer’s DiseaseSpielmann-Benson, Gloria 06 December 2019 (has links)
Der Alterungsprozess ist mit einem breiten Spektrum von Veränderungen der Gehirnstruktur und -funktion, sowie altersbedingter kognitiver Verschlechterung und pathologischer Neurodegeneration verbunden. Jahrelange Forschungen haben gezeigt, dass Pathologien wie neurofibrilläre Bündel, Amyloid Ablagerungen (Aβ) und zerebrovaskuläre Störungen zur Abnahme der kognitiven Leistungsfähigkeit im Alter und bei der Alzheimer Demenz (AD) beitragen. Jüngste Forschungsergebnisse deuten darauf hin, dass bestimmte Lebensstilfaktoren die Fähigkeit, mit Pathologien umzugehen, fördern. Hierbei handelt es sich um die sogenannten Resilienzfaktoren. Im Gegensatz dazu stehen die Risikofaktoren, welche die Vulnerabilität für kognitive Verschlechterung und Neurodegeneration erhöhen und diese Prozesse beschleunigen können. Diese Arbeit exploriert Risiko- und Resilienzfaktoren in einem breiten Spektrum von Probanden, von kognitiv normalen älteren Menschen über Personen mit leichter kognitiver Beeinträchtigung bis hin zu Personen mit klinischer AD mittels einer holistischen Integration behavioraler Messungen und Markern multimodaler Neurobildgebung. Basierend auf vier Studien untersucht diese Dissertation die Assoziation von AD und zerebrovaskulärer Störungen, funktioneller Konnektivitätsnetzwerke und Kognition in einem gepoolten Datensatz bestehend aus 645 Individuen. Zusammenfassend erweitern die Ergebnisse der vorliegenden Dissertation die Literatur zu Resilienz- und Risikofaktoren im Kontext gesunden Alterns und AD, indem sie eine holistische Integration der komplexen Mechanismen während des Alterungsprozesses liefert. / Aging alone is associated with a wide range of alterations in brain structure and function as well as age-associated cognitive decline and pathological neurodegeneration. Years of research have shown that brain pathology such as neurofibrillary tangles, amyloid deposition (Aβ), and cerebrovascular pathology contribute to decline of cognitive functions in aging and Alzheimer’s Disease (AD). Recent research has pointed out that certain lifestyle factors contribute to the ability to cope with pathology, known as resilience factors, while in contrast, risk factors can accelerate and increase the vulnerability towards cognitive decline and neurodegeneration.
This work explores risk and resilience factors across a diverse spectrum of participants ranging from cognitively intact older adults, to mild cognitive impairment (MCI), and clinical AD with a holistic integration of behavioral measures and multimodal neuroimaging markers. Based on four studies this dissertation investigates the association of AD and cerebrovascular pathology, functional connectivity networks and cognition in a pooled data set of 645 individuals.
In summary, our results shed light on the diverse mechanistic underpinning of functional brain networks, hinting at the complex interplay between the brain’s functionality at-rest and the multiple pathological processes. Overall, these findings extend the literature on the resilience and risk factors in the context of healthy aging and AD, while providing a holistic integration of the complex mechanisms at play during the aging process.
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