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1	Strukturelle Änderungen in dünnen amorphen Zr-Al-Ni-Cu- und Ta-Si-N-Schichten Bicker, Matthias 21 June 2000 (has links) Mit verschiedenen experimentellen Methoden werden die strukturabhängigen Eigenschaften amorpher Zr-Al-Ni-Cu- und Ta-Si-N- Multikomponentenschichten untersucht. Aus Messungen der mechanischen Spannungen in amorphen Zr-Al-Ni-Cu-Schichten werden mit hoher Empfindlichkeit relative Volumenänderungen bestimmt, die bei Schichtwachstum, Relaxation und Kristallisation auftreten. Das Meßverfahren ermöglicht Untersuchungen der Spannungsrelaxation und Viskosität in der Nähe des Glasübergangs. Irreversible Spannungsrelaxationen unterhalb von Tg können mit der "Freie Volumen-Theorie" gedeutet werden. Als Ursache für eine schnelle Abnahme von Druckspannungen im Bereich des Glasübergangs wird dagegen ein Fließprozeß vorgeschlagen. Unmittelbar während der Kristallisation werden nur geringe Spannungsänderungen festgestellt. Aus Messungen der isothermen Spannungsrelaxation werden Viskositäten der amorphen Schichten bestimmt. Aus den Spannungsmessungen ergeben sich neue Erkenntnisse über das Relaxations- und Kristallisationsverhalten von Multikomponentengläsern. Es werden grundlegende Fragestellungen zu Entmischungs- und Kristallisationsvorgängen in amorphen Ta-Si-N-Schichten untersucht, die auch für technologische Anwendungen der Schichten als Diffusionsbarrieren relevant sind. ASAXS-, TEM- und XRD- Messungen ergeben, daß in amorphen Ta40Si14N46-Schichten bei Temperaturen zwischen 1073 K und 1273 K komplexe Prozesse, wie eine Phasenseparation und eine nachfolgende Nanokristallisation ablaufen. Diese Prozesse führen zu einer Bildung von Strukturen mit charakteristischen Ausdehnungen und wirken sich auf die mechanischen Spannungen aus. Durch die vorliegenden Ergebnisse wird gezeigt, daß die Stabilität der Diffusionsbarrieren bereits unterhalb der Kristallisationstemperatur durch die Entmischung und Nanokristallisation begrenzt ist. 29 Physik, Astronomie RVI 230 RVI 220 RVI 000 RVT 120 RVS 100 mathematics Metallene Gläser Dünne Schichten Entmischung Nanokristallisation Mechanische Spannungen Relaxation Kristallisation Viskosität Glasübergang Diffusionsbarrieren Magnetron Sputtern Massive Gläser 33.66 33.68
2	Strukturelle Untersuchung der amorph/kristallinen Grenzfläche mittels quantitativer hochauflösender Transmissionselektronenmikroskopie an den Systemen a-Si/c-Si und a-Ge/c-Si / Structural investigation of the amorphous/crystalline interface by means of quantitative high-resolution transmission electron microscopy on the systems a-Si/c-Si and a-Ge/c-Si Thiel, Karsten 02 November 2006 (has links) No description available. 530 Physik Mathematics and Computer Science Transmissionselektronenmikroskopie Grenzfläche amorph kristallin Verteilungsfunktion transmission electron microscopy interface amorphous crystalline distribution function 33.05 33.61 33.66 33.68 33.72 RPV 750: Elektronenmikroskopie {Physik} RDE 000: Experimentalphysik
3	Löslichkeit und Diffusion von Wasserstoff in dünnen Schichten amorpher ZrTiNiCuBe- und ZrAlNiCu-Legierungen / Solubility and diffusivity of hydrogen in thin films of amorphous ZrTiNiCuBe- and ZrAlNiCu-alloys Bankmann, Joachim 28 January 2003 (has links) No description available. 530 Physik Mathematics and Computer Science Wasserstoff amorphe Legierung Platzenergieverteilung Löslichkeit Modellierung Zr Tetraeder Diffusion Isothermen hydrogen amorphous alloy density of sites solubility modelling Zr tetrahedra diffusion isotherms 33.60 33.68 51.10
4	Analyse der Glättung rauer Oberflächen durch Dünnschichtdeposition / Analysis of smoothing of rough surfaces by thin film deposition Röder, Johanna 23 June 2009 (has links) No description available. 530 Physik Mathematics and Computer Science Oberflächenmorphologie Glättung Rauigkeit PLD Rasterkraftmikroskopie Frequenzanalyse dünne Schichten surface morphology smoothing roughness PLD atomic force microscopy frequency analysis thin films 33.68 33.61 33.66 RD RV 000: Kondensierte Materie {Physik}
5	Relaxationen in komplexen Fluiden / Relaxations of complex fluids Schwabe, Moritz 02 November 2010 (has links) No description available. 530 Physik Physics Metallisches Glas Relaxationsprozesse Glasübergangstemperatur potentielle Energielandschaft Spannungsabhängigkeit Aktivierungsvolumen Block-Copolymere Chemical Confinement Wasserstoffbrücken metallic glass relaxation processes glass transition temperature potential energy landscape stress dependence activation volume block-copolymers chemical confinement hydrogen bonds 33.66 Amorpher Zustand Gläser RVI 000 Nichtkristalline Festkörper
6	Low Temperature Phase of the m-component Spin Glass / Die Tieftemperaturphase des m-Komponenten Spinglases Braun, Axel 29 June 2011 (has links) No description available. 530 Physik Physics Spinglas große Komponentenanzahl m Bethe-Gitter Cavitymethode Replikasymmetriebrechung Sample-to-sample Fluktuationen Universalitätsklassen Spin glass large-m Bethe lattice Cavity method Generalized Bose-Einstein condensation Replica symmetry breaking Sample-to-sample fluctuations Universality classes 33.25 Thermodynamik statistische Physik 33.66 Amorpher Zustand Gläser 33.75 Magnetische Materialien RVI 000 Nichtkristalline Festkörper RDI 700 Statistische Physik Quantenstatistik
7	Mechanische Spannungen und Mikrostruktur dünner TiNi- und Ti50Ni50-xCux-Formgedächtnisschichten / Mechanical stresses and microstructure of TiNi and Ti50Ni50-xCux shape memory thin films Harms, Henning 06 May 2003 (has links) No description available. RVC 000 RVC 820 RVI 000 RVI 230 RVT 100 RVT 120 Mathematics and Natural Science Formgedächtniseffekt Formgedächtnislegierung Martensitische Phasenumwandlung TiNi TiNiCu Dünne Schichten Mechanische Spannungen Mikrostruktur Phasenseparation UHV Elektronenstrahlverdampfen Rastertunnelmikroskopie Röntgendiffraktometrie Transmissionselektronenmikroskopie Shape Memory Effect. Shape Memory Alloy Martensitic Transformation TiNi TiNiCu Thin Films Mechanical Stresses Microstructure Phase Separation UHV Electron Beam Evaporation Scanning Tunneling Microscopy X-Ray Diffraction Transmission Electron Microscopy 33.68 51.45 33.66
8	Wachstum amorpher Schichten: Vergleich von Experiment und Simulation im Bereich Oberflächenrauhigkeit und mechanische Spannungen / Growth of amorphous thin films: Comparison of experiment and simulation concerning surface roughness and mechanical stresses Mayr, Stefan Georg 01 November 2000 (has links) No description available. 530 Physik Mathematics and Computer Science Dünne Schichten UHV Elektronenstrahlverdampfen Sputtern PLD Metallene Gläser Polymorphe Kristallisation Rastertunnelmikroskopie Oberflächenmorphologie Röntgenbeugung Mechanische Spannungen Elektrische Widerstandsmessung Monte-Carlo-Simulation Molekulardynamiksimulation Kontinuumswachstumsmodell Thin films UHV electron beam evaporation sputtering PLD metallic glasses polymorphous crystallization scanning tunneling microscopy surface morphology X-ray diffraction mechanical stresses electrical resistivity Monte-Carlo simulation molecular dynamics simulation continuum growth model stochastic partial differential equation 33.66 33.68
9	Short range ordering and microstructure property relationship in amorphous alloys / Nahordnung und Mikrostruktur-Eigenschaftsbeziehungen in amorphen Legierungen Shariq, Ahmed 09 January 2007 (has links) No description available. 530 Physik Mathematics and Computer Science metallische Gläser amorphe Legierungen weich magnetische Eigenschaften Komposite Mikrostruktur Nahordnung radiale Verteilungsfunktion next neighbourhood evaluation Modul Atom sonden Tomographie Transmissionselektronen Mikroskopie metallic glasses amorphous alloys soft ferromagnetic properties composites microstructure short range ordering radial distribution function next neighbourhood evaluation module atom probe tomography transmission electron microscopy 33.66 Amorpher Zustand Gläser 33.75 Magnetische Materialien 51.10 Metallphysik 33.05 Experimentalphysik

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