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Strukturelle Änderungen in dünnen amorphen Zr-Al-Ni-Cu- und Ta-Si-N-SchichtenBicker, Matthias 21 June 2000 (has links)
Mit verschiedenen experimentellen Methoden
werden die strukturabhängigen Eigenschaften amorpher Zr-Al-Ni-Cu-
und Ta-Si-N- Multikomponentenschichten untersucht. Aus Messungen
der mechanischen Spannungen in amorphen Zr-Al-Ni-Cu-Schichten
werden mit hoher Empfindlichkeit relative Volumenänderungen
bestimmt, die bei Schichtwachstum, Relaxation und Kristallisation
auftreten. Das Meßverfahren ermöglicht Untersuchungen der
Spannungsrelaxation und Viskosität in der Nähe des Glasübergangs.
Irreversible Spannungsrelaxationen unterhalb von Tg
können mit der "Freie Volumen-Theorie" gedeutet werden. Als Ursache
für eine schnelle Abnahme von Druckspannungen im Bereich des
Glasübergangs wird dagegen ein Fließprozeß vorgeschlagen.
Unmittelbar während der Kristallisation werden nur geringe
Spannungsänderungen festgestellt. Aus Messungen der isothermen
Spannungsrelaxation werden Viskositäten der amorphen Schichten
bestimmt. Aus den Spannungsmessungen ergeben sich neue Erkenntnisse
über das Relaxations- und Kristallisationsverhalten von
Multikomponentengläsern. Es werden grundlegende Fragestellungen zu
Entmischungs- und Kristallisationsvorgängen in amorphen
Ta-Si-N-Schichten untersucht, die auch für technologische
Anwendungen der Schichten als Diffusionsbarrieren relevant sind.
ASAXS-, TEM- und XRD- Messungen ergeben, daß in amorphen
Ta40Si14N46-Schichten bei
Temperaturen zwischen 1073 K und 1273 K komplexe Prozesse, wie eine
Phasenseparation und eine nachfolgende Nanokristallisation
ablaufen. Diese Prozesse führen zu einer Bildung von Strukturen mit
charakteristischen Ausdehnungen und wirken sich auf die
mechanischen Spannungen aus. Durch die vorliegenden Ergebnisse wird
gezeigt, daß die Stabilität der Diffusionsbarrieren bereits
unterhalb der Kristallisationstemperatur durch die Entmischung und
Nanokristallisation begrenzt ist.
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Verformungsinduzierte Strukturänderungen bei amorphem Ni0.5Zr0.5 in Molekulardynamik-Simulationen / Deformation-induced structural changes of amorphous Ni0.5Zr0.5 in molecular-dynamic simulationsBrinkmann, Kevin 31 October 2006 (has links)
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Charakterisierung und Modifizierung glatter laserdeponierter Poly(methyl methacrylat)-Schichten / Characterization and modification of smooth laser deposited poly(methyl methacrylate) filmsFuchs, Britta 23 February 2010 (has links)
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Sekundäre Relaxationen in amorphen Festkörpern / Mechanische Spektroskopie an metallischen Gläsern und Copolymeren / Secondary relaxations in amorphous solids / Mechanical spectroscopy of metallic glasses and copolymersHachenberg, Jörg 19 October 2006 (has links)
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Untersuchungen zur Polymerdynamik an laserdeponierten Poly(alkyl methacrylat)-Filmen / Studies of the polymer dynamics in laser deposited poly(alkyl methacrylate)-filmsMeschede, Andreas 27 January 2010 (has links)
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Mechanische Relaxation in komplexen Fluiden / Mechanical relaxation in complex fluidsRösner, Peter 01 March 2004 (has links)
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Topographie, Struktur und Dynamik thermisch aufgedampfter Polymerfilme / Topography, structure and dynamics of thermally evaporated polymer filmsVree, Christian 06 July 2009 (has links)
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Mechanische Spannungen und Mikrostruktur dünner TiNi- und Ti50Ni50-xCux-Formgedächtnisschichten / Mechanical stresses and microstructure of TiNi and Ti50Ni50-xCux shape memory thin filmsHarms, Henning 06 May 2003 (has links)
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Wachstum amorpher Schichten: Vergleich von Experiment und Simulation im Bereich Oberflächenrauhigkeit und mechanische Spannungen / Growth of amorphous thin films: Comparison of experiment and simulation concerning surface roughness and mechanical stressesMayr, Stefan Georg 01 November 2000 (has links)
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Short range ordering and microstructure property relationship in amorphous alloys / Nahordnung und Mikrostruktur-Eigenschaftsbeziehungen in amorphen LegierungenShariq, Ahmed 09 January 2007 (has links)
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